轨道位置测量工具制造技术

技术编号:23694604 阅读:25 留言:0更新日期:2020-04-08 09:08
本实用新型专利技术提供了一种轨道位置测量工具,包括:基块,以可在轨道上表面移动的方式设于轨道上,且基块下表面与轨道上表面贴合;靶片,贴设于基块上,靶片上设有靶心,靶心位于轨道的竖直中心面上;挡块,设于轨道上,用于限定基块沿轨道上表面的轨道中心线移动。本实用新型专利技术提供的轨道位置测量工具,可以通过同一基块测量轨道上多个测量点的坐标,从而使得各测量点的误差相同,不同测量点之间的误差可相互抵消,可大幅提高直线度的准确性,从而能够快速准确的进行行吊轨道的位置测量。

Track position measuring tool

【技术实现步骤摘要】
轨道位置测量工具
本技术属于核电站行吊轨道检测维修
,更具体地说,是涉及一种行吊轨道位置检测工具。
技术介绍
在核电站行吊轨道1安装和检修时,需要测量行吊轨道1的位置,检验轨道1位置是否符合要求,以确保行吊安全运行。轨道1位置测量的通常方法为:先在轨道1上表面轨道1的中心线上用笔进行人工分点,再使用全站仪测量各个测量点的位置坐标,最后根据各个测量点的位置坐标进行数据分析判断。通常方法的缺点:在分点的过程中,需先测量轨道1上表面的宽度,再在宽度一半的位置上画线分点,易出现宽度测量误差和画线分点操作误差,从而使测量点的实际位置不在轨道1理论中心线N位置上,请参阅图1,最终导致轨道1位置测量不准确。因每个测量点的画线需要经过:轨道1宽度测量、宽度的二分之一计算、位置找准、画线等多道工序,需消耗较多的时间,而轨道1长度较大,需画出较多的测量点,最终导致整个轨道1位置的测量消耗很多的工期时间,工作效率低;且在核电站检维修领域,部分现场的辐射环境剂量率非常高,较长的工期时间,将使工作人员的个人辐射剂量较高,从而导致人员集体辐射剂量较高等问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种轨道位置检测工具,以解决现有技术中存在的行吊轨道位置测量效率低及易出现误差的技术问题。为实现上述目的,本技术采用的技术方案是:提供了一种轨道位置测量工具,包括:基块,以可在轨道上表面移动的方式设于所述轨道上,且所述基块下表面与所述轨道上表面贴合;靶片,贴设于所述基块上,所述靶片上设有靶心,所述靶心位于所述轨道的竖直中心面上;挡块,设于所述轨道上,用于限定所述基块沿所述轨道上表面的轨道中心线移动。进一步地,所述基块具有与所述基块下表面相邻的基块限位面,所述挡块具有挡块限位面,所述轨道具有与所述轨道上表面相邻并沿所述轨道长度方向延伸的轨道限位面,所述基块限位面与所述轨道限位面平齐设置,所述挡块限位面与所述轨道限位面相抵接,且所述挡块限位面用于与所述基块限位面相抵接以限定所述基块移动轨迹。优选地,所述基块下表面与所述基块限位面垂直设置。优选地,所述基块与所述挡块固定连接并同步运动,所述基块沿所述轨道上表面移动,所述挡块沿所述轨道限位面移动。进一步地,所述挡块与所述基块为一体成型结构。优选地,所述基块与所述挡块活动连接,所述基块限位面沿所述挡块限位面移动。进一步地,所述基块呈方形,所述基块具有与所述基块下表面垂直并相连的基块前侧面和基块后侧面,所述靶片贴设于所述基块前侧面或所述基块后侧面上,所述靶心的竖直中心线与所述轨道中心线垂直相交。进一步地,所述靶片的背面设有粘贴件,所述靶片通过粘贴件贴设于所述基块前侧面,所述靶心设于所述靶片的正面。进一步地,所述靶片的正面还设有十字线,所述十字线的中心与所述靶心重合。进一步地,所述靶片的正面还设有以所述靶心为圆心并用于全站仪测试光圈定位的圆线。本技术提供的轨道位置测量工具的有益效果在于:与现有技术相比,本技术的轨道位置测量工具通过将靶块的靶心设于轨道的竖直中心面上,使得靶心的坐标与轨道的竖直中心面上各测量点的坐标相同,从而可以通过全站仪或其他坐标检测设备检测靶心的坐标,然后通过靶心的坐标来计算轨道的位置。同时,通过挡块限制基块沿轨道中心线移动,使得可以通过同一基块测量轨道上多个测量点的坐标,从而使得各测量点的误差相同,所以在最终进行测量数据分析及直线度计算时,不同测量点之间的误差可相互抵消,可大幅提高直线度的准确性。本实施例的轨道位置测量工具能够快速准备的进行行吊轨道的位置测量,且可以防止工作人员长期在辐射剂量率非常高的环境下工作,解决了人员集体辐射剂量较高的现象。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为轨道位置测量常用方法示意图;图2为本技术实施例一提供的轨道位置测量工具测量轨道的示意图;图3为图2的正面示意图;图4为本技术实施例一提供的轨道位置测量工具的结构示意图;图5为图4的轨道位置测量工具的侧面示意图;图6为本技术实施例二提供的轨道位置测量工具测量轨道的示意图。其中,图中各附图标记:100-轨道;200-轨道位置测量工具;21-基块;22-靶片;23-挡块;110-轨道上表面;120-轨道限位面;210-基块下表面;211-基块限位面;220-靶心;221-十字线;222-圆线;230-挡块限位面;M-轨道中心线;P-竖直中心面。具体实施方式为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。需要说明的是,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。实施例一:请一并参阅图2,现对本技术提供的轨道位置测量工具200进行说明。该轨道位置测量工具200用于测量行吊轨道100的位置,以此来检验行吊轨道100位置是否符合要求,以确保行吊安全运行。可以理解地,在本技术的其他实施例中,上述轨道位置测量工具200也可以用于测量其他类似轨道,此处不做唯一限定。请参阅图2,轨道位置测量工具200包括基块21、靶片22及挡块23。基块21以可在轨道上表面110移动的方式设于轨道100上,且基块下表面210与轨道上表面110贴合。靶片22贴设于基块21上,靶片22上设有靶心220,靶心220即为靶片22的中心,靶心220位于轨道100的竖直中心面P上。挡块23设于轨道100上,挡块23用于限定基块21沿轨道上表面110的轨道中心线M直线移动。优选地,在本实施例中,上述基块21呈方形块状,请参阅图2,基块2本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.轨道位置测量工具,其特征在于,包括:/n基块,以可在轨道上表面移动的方式设于所述轨道上,且所述基块下表面与所述轨道上表面贴合;/n靶片,贴设于所述基块上,所述靶片上设有靶心,所述靶心位于所述轨道的竖直中心面上;/n挡块,设于所述轨道上,用于限定所述基块沿所述轨道上表面的轨道中心线移动。/n

【技术特征摘要】
1.轨道位置测量工具,其特征在于,包括:
基块,以可在轨道上表面移动的方式设于所述轨道上,且所述基块下表面与所述轨道上表面贴合;
靶片,贴设于所述基块上,所述靶片上设有靶心,所述靶心位于所述轨道的竖直中心面上;
挡块,设于所述轨道上,用于限定所述基块沿所述轨道上表面的轨道中心线移动。


2.如权利要求1所述的轨道位置测量工具,其特征在于,所述基块具有与所述基块下表面相邻的基块限位面,所述挡块具有挡块限位面,所述轨道具有与所述轨道上表面相邻并沿所述轨道长度方向延伸的轨道限位面,所述基块限位面与所述轨道限位面平齐设置,所述挡块限位面与所述轨道限位面相抵接,且所述挡块限位面用于与所述基块限位面相抵接以限定所述基块移动轨迹。


3.如权利要求2所述的轨道位置测量工具,其特征在于,所述基块下表面与所述基块限位面垂直设置。


4.如权利要求3所述的轨道位置测量工具,其特征在于,所述基块与所述挡块固定连接并同步运动,所述基块沿所述轨道上表面移动,所述挡块沿所述轨道限位面移动。...

【专利技术属性】
技术研发人员:汪邦栋李蜀丰黄宇徐永绍康宽彬
申请(专利权)人:中核检修有限公司
类型:新型
国别省市:上海;31

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