本实用新型专利技术涉及无线测试的技术领域，提供一种快速的三维天线测试装置，包括多环探头阵列，多环探头阵列包括主环探头阵列和多个副环探头阵列，副环探头阵列均匀的绕设于主环探头阵列的外围，主环探头阵列与副环探头阵列构成三维球体，被测物放置于三维球体的球心位置。本实用新型专利技术还提供一种天线测试系统。将被测物放置于三维球体的球心位置，从而使得被测物无需自转，多环探头阵列采用电子扫描，从而采集到被测物在此三维空间的辐射性能数据，通过软件计算得出被测物的三维辐射性能；本实用新型专利技术结构简单，操作简单，提高了三维天线测试速度和测试效率。
A fast three-dimensional antenna test device and antenna test system
【技术实现步骤摘要】
一种快速的三维天线测试装置及天线测试系统
本技术涉及无线测试的
，更具体地说，是涉及一种快速的三维天线测试装置及天线测试系统。
技术介绍
若设备涉及到无线通信，通常需要测试该设备的无线传输性能，而要衡量设备的无线传输性能好坏，往往需要可以测试该设备无线性能的天线测量系统。在通讯技术的高速发展形态下，无线通讯产品数量更是日益倍增，在这种供不应求的情况下，检测无线设备性能设备的效率往往就比较重要，毕竟对于一个做无线产品的企业来说，做好产品本身是前提，才能产生利益最大化。传统典型的三维天线测试系统有两种：一种是大圆切的单探头测试系统，此系统需要被测物自转外，仍需转台公转，加上探头的双极化扫描，方可实现被测物三维辐射性能测试，测试效率非常低；另外一种是圆锥切的多探头测试系统，相比单探头测试系统，多探头采用电子扫描探头的方式，被测物只需自转即可完成三维辐射性能测试，相比探头的测试效率稍高。但是整体上的测试效率经常跟不上市场的脚步。以上不足，有待改进。
技术实现思路
为了克服现有的技术的不足,本技术提供一种快速的三维天线测试装置及天线测试系统。本技术技术方案如下所述：一种快速的三维天线测试装置，包括多环探头阵列，所述多环探头阵列包括主环探头阵列和多个副环探头阵列，所述副环探头阵列均匀的绕设于所述主环探头阵列的外围，所述主环探头阵列与所述副环探头阵列构成三维球体，被测物放置于所述三维球体的球心位置。进一步地，所述主环探头阵列呈圆形。进一步地，所述主环探头阵列上设有被测物放置口。进一步地，所述副环探头阵列呈半圆形。进一步地，所述快速的三维天线测试装置还包括主环支架，所述主环支架的内侧设有圆形轨道，所述主环探头阵列设于所述圆形轨道上。进一步地，所述圆形轨道上还设有第一吸波材料。进一步地，所述快速的三维天线测试装置还包括副环支架，所述副环支架的内侧设有半圆形轨道，所述副环探头阵列设于所述半圆形轨道上。进一步地，所述半圆形轨道上还设有第二吸波材料。进一步地，所述主环探头阵列中的探头为双极化探头；所述副环探头阵列中的探头为双极化探头。本技术的另一个目的还在于提供一种天线测试系统，包括上述所述的快速的三维天线测试装置，还包括射频设备、通路切换单元及射频开关矩阵；所述射频设备与所述通路切换单元连接，所述通路连接单元与所述射频开关矩阵连接，所述射频开关矩阵与所述多环探头阵列连接，所述多环探头阵列环设于所述被测物的外围；所述通路连接单元与所述射频开关矩阵连接，所述射频开关矩阵与所述被测物通过天线连接。根据上述方案的本技术，其有益效果在于：（1）本技术提供的快速的三维天线测试装置，将被测物放置于三维球体的球心位置，从而使得被测物无需自转，多环探头阵列采用电子扫描，从而采集到被测物在此三维空间的辐射性能数据，通过软件计算得出被测物的三维辐射性能；（2）本技术摒弃了传统单环多探头阵列的被测物需要自转实现三维辐射性能测试，测试效率是常规的单环多探头天线测试系统十倍以上；（3）本技术结构简单，操作简单，提高了三维天线测试速度和测试效率。本技术提供的天线测试系统，提高了测试结果的准确性，同时还提高了测试效率和测试速度。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术的快速的三维天线测试装置的结构示意图；图2为本技术的主环支架结构示意图；图3为本技术的副环支架结构示意图；图4为本技术的天线测试系统结构示意图。其中，图中各附图标记：100-快速的三维天线测试装置；101-多环探头阵列；1011-主环探头阵列；10111-被测物放置口；1012-副环探头阵列；102-主环支架；1021-圆形轨道；103-第一吸波材料；104-副环支架；1041-半圆形轨道；105-第二吸波材料；200-被测物；300-射频设备；400-通路切换单元；500-射频开关矩阵；600-天线。具体实施方式为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。需要说明的是，当部件被称为“固定于”或“设置于”另一个部件，它可以直接或者间接位于该另一个部件上。当一个部件被称为“连接于”另一个部件，它可以是直接或者间接连接至该另一个部件上。术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置为基于附图所示的方位或位置，仅是为了便于描述，不能理解为对本技术方案的限制。术语“第一”、“第二”仅用于便于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明技术特征的数量。“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。请参阅图1至图3，一种快速的三维天线测试装置100，包括多环探头阵列101，多环探头阵列101包括主环探头阵列1011和多个副环探头阵列1012，副环探头阵列1012均匀的绕设于主环探头阵列1011的外围，主环探头阵列1011与副环探头阵列1012构成三维球体，被测物200放置于三维球体的球心位置。本实施例提供的快速的三维天线测试装置100的工作原理如下：本技术以主环探头阵列1011为基点，在主环探头阵列1011的外围环绕安装多个副环探头阵列1012，主环探头阵列1011与多个副环探头阵列1012构成三维球体，然后将被测物200放置于三维球体的球心位置，从而使得被测物200无需自转，多环探头阵列101采用电子扫描，从而采集到被测物200在此三维空间的辐射性能数据，通过软件计算得出被测物200的三维辐射性能。本实施例提供的快速的三维天线测试装置100的有益效果为：（1）本技术提供的快速的三维天线测试装置100，将被测物200放置于三维球体的球心位置，从而使得被测物200无需自转，多环探头阵列101采用电子扫描，从而采集到被测物200在此三维空间的辐射性能数据，通过软件计算得出被测物的三维辐射性能；（2）本技术摒弃了传统单环多探头阵列的被测物需要自转实现三维辐射性能测试，测试效率是常规的单环多探头天线测试系统十倍以上；（3）本技术结构简单，操作简单，提高了三维天线测试速度和测试效率。在一个实施例中，主环探头阵列1011呈圆形。在一个实施例中，本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种快速的三维天线测试装置，其特征在于：包括多环探头阵列，所述多环探头阵列包括主环探头阵列和多个副环探头阵列，所述副环探头阵列均匀的绕设于所述主环探头阵列的外围，所述主环探头阵列与所述副环探头阵列构成三维球体，被测物放置于所述三维球体的球心位置。/n
【技术特征摘要】
1.一种快速的三维天线测试装置，其特征在于：包括多环探头阵列，所述多环探头阵列包括主环探头阵列和多个副环探头阵列，所述副环探头阵列均匀的绕设于所述主环探头阵列的外围，所述主环探头阵列与所述副环探头阵列构成三维球体，被测物放置于所述三维球体的球心位置。
2.如权利要求1所述的快速的三维天线测试装置，其特征在于：所述主环探头阵列呈圆形。
3.如权利要求2所述的快速的三维天线测试装置，其特征在于：所述主环探头阵列上设有被测物放置口。
4.如权利要求1所述的快速的三维天线测试装置，其特征在于：所述副环探头阵列呈半圆形。
5.如权利要求1所述的快速的三维天线测试装置，其特征在于：所述快速的三维天线测试装置还包括主环支架，所述主环支架的内侧设有圆形轨道，所述主环探头阵列设于所述圆形轨道上。
6.如权利要求5所述的快速的三维天线测试装置，其特征在于：所述圆形轨道上还设有第一吸波材料。
【专利技术属性】
技术研发人员：韩世超，
申请(专利权)人：泰姆瑞技术深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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