一种基于多探头波束合成技术的测量设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种基于多探头波束合成技术的测量设备，该基于多探头波束合成技术的测量方法，应用于基于多探头波束合成技术的测量设备，所述测量设备包括电波暗室、控制台、环形支架、待测物转台、波束合成网络和至少两个实际探头，包括：通过所述电波暗室吸收电磁波和隔绝外部干扰电磁场；通过所述控制台控制所述波束合成网络的调整，控制所述待测物转台旋转；通过所述待测物转台带动待测物体旋转；通过所述波束合成网络为至少两个所述实际探头提供信号激励，生成至少一个等效探头。本实用新型专利技术使用较少的探头，探头间间距大，耦合效应不明显，测试结果精度，结构简单，效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种基于多探头波束合成技术的测量设备
本技术涉及天线、微波毫米波器件、无线产品的测量
，具体的说，是涉及一种基于多探头波束合成技术的测量设备。
技术介绍
多探头法天线、微波毫米波器件、无线产品测量领域常用的一种方法。现有的多探头法实现过采样基本上都是在支架圆周上均匀或者不均匀排列足够多的探头。随着5G移动通信技术的发展，尤其是测量工作在毫米波频段范围的器件，其采样点数需求迅速增加，所需的采样探头数目也急剧增长。采样探头的数目急增导致难以在有限空间的环形支架上进行布置。因为环形支架上探头的安装空间有限，无论是均匀排列或者不均匀排列都使得探头安置得比较密，在有限空间可以安置的探头数目有限，拥挤的探头之间产生的耦合效应一定程度上影响系统测试精度，因此，如何在有限空间实现更多探头数目以及对探头之间实现去耦是当前测量设备及测量方法存在的难题之一。
技术实现思路
为了克服现有的技术的不足,本技术提供一种基于多探头波束合成技术的测量设备。本技术技术方案如下所述：一种基于多探头波束合成技术的测量设备，其特征在于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于多探头波束合成技术的测量设备，其特征在于，包括电波暗室、环形支架、待测物转台、波束合成网络和至少两个实际探头，所述环形支架垂直设置在所述电波暗室，控制台分别与所述待测物转台、所述波束合成网络连接，所述波束合成网络与所述实际探头连接，所述待测物转台设置在所述环形支架的底部，所述待测物转台的顶部位于所述环形支架的中心，所述实际探头设置在所述环形支架上。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于多探头波束合成技术的测量设备，其特征在于，包括电波暗室、环形支架、待测物转台、波束合成网络和至少两个实际探头，所述环形支架垂直设置在所述电波暗室，控制台分别与所述待测物转台、所述波束合成网络连接，所述波束合成网络与所述实际探头连接，所述待测物转台设置在所述环形支架的底部，所述待测物转台的顶部位于所述环形支架的中心，所述实际探头设置在所述环形支架上。


2.根据权利要求1所述的基于多探头波束合成技术的测量设备，其特征在于，所述实际探头均匀或者不均匀设置在所述环形支架上。


3.根据权利要求2所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩栋，梁家军，
申请(专利权)人：泰姆瑞技术深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44