一种基于空间分布的多探头天线测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种基于空间分布的多探头天线测试设备，包括电波暗室、控制台、环形支架、半环支架、待测物转台、多个第一探头和多个第二探头，所述环形支架与所述半环支架设置在所述电波暗室，所述控制台控制待测物转台旋转，所述半环支架的顶部与所述环形支架的顶部连接，所述环形支架与所述半环支架形成第一夹角，所述待测物转台设置在所述环形支架的底部，所述待测物转台的顶部位于所述环形支架的中心，所述第一探头设置在所述环形支架上，所述第二探头设置在所述半环支架上。本实用新型专利技术以空间分布多探头的方式，大大提高了空间角度分辨率，实现从空间上将探头的距离扩大实现低耦。

【技术实现步骤摘要】
一种基于空间分布的多探头天线测试设备
本技术涉及电磁测量
，具体的说，是涉及一种基于空间分布的多探头天线测试设备。
技术介绍
现有的多探头天线测试法实现过采样基本上都是在单个环形支架上均匀或者不均匀分布足够多的探头。随着当前测量需求的快速发展，测试系统需要的探头数量急剧增加。在有限空间的单个环形支架上安排大量的探头，将会面临诸多技术难题。其中之一就是探头安排过密产生的耦合问题，探头间的耦合效应严重影响测量系统的精确度。因此，如何恰当地布置大量探头以及如何实现探头间去耦，从而提高系统的测量精度和效率，是当前设计微波暗室等测量系统的技术难题之一。
技术实现思路
为了克服现有的技术的不足,本技术提供一种基于空间分布的多探头天线测试设备。本技术技术方案如下所述：一种基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，包括电波暗室、控制台、环形支架、半环支架、待测物转台、多个第一探头和多个第二探头，所述环形支架与所述半环支架设置在所述电波暗室，所述控制台控制待测物转台旋转，所述半环支架的顶部与所述环形支架的顶部本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，包括电波暗室、控制台、环形支架、半环支架、待测物转台、多个第一探头和多个第二探头，/n所述环形支架与所述半环支架设置在所述电波暗室，所述控制台控制待测物转台旋转，所述半环支架的顶部与所述环形支架的顶部连接，所述环形支架与所述半环支架形成第一夹角，/n所述待测物转台设置在所述环形支架的底部，所述待测物转台的顶部位于所述环形支架的中心，所述第一探头设置在所述环形支架上，所述第二探头设置在所述半环支架上。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，包括电波暗室、控制台、环形支架、半环支架、待测物转台、多个第一探头和多个第二探头，
所述环形支架与所述半环支架设置在所述电波暗室，所述控制台控制待测物转台旋转，所述半环支架的顶部与所述环形支架的顶部连接，所述环形支架与所述半环支架形成第一夹角，
所述待测物转台设置在所述环形支架的底部，所述待测物转台的顶部位于所述环形支架的中心，所述第一探头设置在所述环形支架上，所述第二探头设置在所述半环支架上。


2.根据权利要求1所述的基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，所述电波暗室内壁设置有吸波棉。


3.根据权利要求1所述的基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，所述第一夹角为θ，0°＜θ≤360°。


4.根据权利要求3所述的基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，所述第一夹角为90°或者27...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩栋，梁家军，赵鲁豫，
申请(专利权)人：泰姆瑞技术深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44