辐射杂散功率测试系统、方法及测试系统的控制方法技术方案

本发明专利技术提供了一种辐射杂散功率测试系统、方法及测试系统的控制方法，该测试系统包括：微波暗箱，用于放置被测设备；信号接收装置包括置于转台上的多只天线，用于接收被测设备产生的预设测试频段的辐射杂散信号；谐波混频器，用于接收并将预设测试频段的辐射杂散信号转换为中频信号；信号处理装置，用于接收并对中频信号进行处理，生成辐射杂散功率数据；控制装置，用于确定信号接收装置中预设测试频段对应的天线；控制转台转动，使得预设测试频段对应的天线与被测设备位于同一水平高度；控制预设测试频段对应的天线、谐波混频器与信号处理装置导通。本发明专利技术可以对辐射杂散功率进行测试，效率高，可批量测试。

【技术实现步骤摘要】
辐射杂散功率测试系统、方法及测试系统的控制方法
本专利技术涉及通信领域，尤其涉及一种辐射杂散功率测试系统、方法及测试系统的控制方法。
技术介绍
随着电子技术的发展，无线产品在日常生活和工作中得到越来越广泛的应用，而电子产品质量的保证很大程度上要依赖于对其进行的各项测试，辐射杂散测试就是其中很重要的一项。这一测试项目比较繁琐，实验人员无法高效、快捷、准确地完成此测试项目。现有的无线产品辐射杂散检测方法主要有两种。一是替代法，每次测量时都需使用替代天线及信号源，调节信号源的频率和输出功率，使得天线接收到的信号与测量出的杂散信号的频率及场强相等。该方法对于一个频点至少需要两次测试，一次测试无线产品正常发射的场强，一次测试用信号源替代无线产品，需要根据接收机的读值调节信号源。对于多频点测试，则需要重复测量多次。二是换算法，通过接收机测量无线产品在某一距离所产生的场强值，通过公式换算出天线端所发射出的ERP或者EIRP。该方法需要将测量到的场强值通过公式：ERP或者EIRP＝E+20logd-104.8进行计算，其中E为电场强度，d为测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种辐射杂散功率测试系统，其特征在于，包括：微波暗箱、置于微波暗箱内的能够转动的转台、信号接收装置、谐波混频器、信号处理装置和控制装置，其中，/n微波暗箱，用于放置被测设备；/n信号接收装置包括置于转台上的多只天线，用于接收被测设备产生的预设测试频段的辐射杂散信号；/n谐波混频器，与信号接收装置连接，用于接收并将预设测试频段的辐射杂散信号转换为中频信号；/n信号处理装置，与谐波混频器通信，用于接收并对中频信号进行处理，生成辐射杂散功率数据；/n控制装置，用于确定信号接收装置中预设测试频段对应的天线；控制转台转动，使得预设测试频段对应的天线与被测设备位于同一水平高度；控制预设测试频段对应的天...

【技术特征摘要】
1.一种辐射杂散功率测试系统，其特征在于，包括：微波暗箱、置于微波暗箱内的能够转动的转台、信号接收装置、谐波混频器、信号处理装置和控制装置，其中，
微波暗箱，用于放置被测设备；
信号接收装置包括置于转台上的多只天线，用于接收被测设备产生的预设测试频段的辐射杂散信号；
谐波混频器，与信号接收装置连接，用于接收并将预设测试频段的辐射杂散信号转换为中频信号；
信号处理装置，与谐波混频器通信，用于接收并对中频信号进行处理，生成辐射杂散功率数据；
控制装置，用于确定信号接收装置中预设测试频段对应的天线；控制转台转动，使得预设测试频段对应的天线与被测设备位于同一水平高度；控制预设测试频段对应的天线、谐波混频器与信号处理装置导通。


2.如权利要求1所述的辐射杂散功率测试系统，其特征在于，信号处理装置包括：
频谱分析仪，与谐波混频器连接，用于接收谐波混频器输出的中频信号并处理，生成频谱数据，所述频谱数据包括多个频率下的辐射杂散功率数据。


3.如权利要求2所述的辐射杂散功率测试系统，其特征在于，谐波混频器与频谱分析仪通过第一射频开关连接；
信号接收装置与谐波混频器通过第二射频开关连接；
控制装置具体用于：通过控制第一射频开关和第二射频开关，将预设测试频段对应的天线、谐波混频器与信号处理装置导通。


4.如权利要求3所述的辐射杂散功率测试系统，其特征在于，谐波混频器有多个；
控制装置还用于：
从多个谐波混频器中，确定预设测试频段对应的谐波混频器；
通过控制第一射频开关和第二射频开关，将预设测试频段对应的天线、预设测试频段对应的谐波混频器与信号处理装置导通。


5.如权利要求4所述的辐射杂散功率测试系统，其特征在于，控制装置还用于：
在预设测试频段对应的天线、预设测试频段对应的谐波混频器与信号处理装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊宇飞，万思嘉，陈天伟，史锁兰，刘宝殿，张夏，臧琦，周镒，
申请(专利权)人：中国信息通信研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11