辐射杂散功率测试系统、方法及测试系统的控制方法技术方案

本发明专利技术提供了一种辐射杂散功率测试系统、方法及测试系统的控制方法，该测试系统包括：微波暗箱，用于放置被测设备；信号接收装置包括置于转台上的多只天线，用于接收被测设备产生的预设测试频段的辐射杂散信号；谐波混频器，用于接收并将预设测试频段的辐射杂散信号转换为中频信号；信号处理装置，用于接收并对中频信号进行处理，生成辐射杂散功率数据；控制装置，用于确定信号接收装置中预设测试频段对应的天线；控制转台转动，使得预设测试频段对应的天线与被测设备位于同一水平高度；控制预设测试频段对应的天线、谐波混频器与信号处理装置导通。本发明专利技术可以对辐射杂散功率进行测试，效率高，可批量测试。

【技术实现步骤摘要】
辐射杂散功率测试系统、方法及测试系统的控制方法
本专利技术涉及通信领域，尤其涉及一种辐射杂散功率测试系统、方法及测试系统的控制方法。
技术介绍
随着电子技术的发展，无线产品在日常生活和工作中得到越来越广泛的应用，而电子产品质量的保证很大程度上要依赖于对其进行的各项测试，辐射杂散测试就是其中很重要的一项。这一测试项目比较繁琐，实验人员无法高效、快捷、准确地完成此测试项目。现有的无线产品辐射杂散检测方法主要有两种。一是替代法，每次测量时都需使用替代天线及信号源，调节信号源的频率和输出功率，使得天线接收到的信号与测量出的杂散信号的频率及场强相等。该方法对于一个频点至少需要两次测试，一次测试无线产品正常发射的场强，一次测试用信号源替代无线产品，需要根据接收机的读值调节信号源。对于多频点测试，则需要重复测量多次。二是换算法，通过接收机测量无线产品在某一距离所产生的场强值，通过公式换算出天线端所发射出的ERP或者EIRP。该方法需要将测量到的场强值通过公式：ERP或者EIRP＝E+20logd-104.8进行计算，其中E为电场强度，d为测量天线和被测设备的距离，同时算出来的EIRP或者ERP需要减去地面的反射系数，30MHz以下反射系数是6dB，30MHz-1GHz反射系数为4.7dB，1GHz以上反射系数为0；且频谱仪的测量单位一般为dBm而非场强值，与低频接收机的单位不一致。因此该方法并不能直观地得到结果，而是经过多次计算才能得出，测试效率低，也不利于测试的批量进行。另外，在毫米波等极高、极宽频段，因现今市面上常见的频谱仪无法利用自身混频到达此频段，需外接高次谐波混频器，如果测量范围达到110GHz，则至少需要2个谐波混频器。若采用此种方法，需要人工更换混频器，额外增加工作量。通过上述可以得出现有辐射杂散功率测试方法的测试过程都很繁琐，耗时比较长，成本较高，对人工依赖性大，导致效率低下，不能批量测试。
技术实现思路
本专利技术实施例提出一种辐射杂散功率测试系统，用以对辐射杂散功率进行测试，效率高，可批量测试，该系统包括：微波暗箱、置于微波暗箱内的能够转动的转台、信号接收装置、谐波混频器、信号处理装置和控制装置，其中，微波暗箱，用于放置被测设备；信号接收装置包括置于转台上的多只天线，用于接收被测设备产生的预设测试频段的辐射杂散信号；谐波混频器，与信号接收装置连接，用于接收并将预设测试频段的辐射杂散信号转换为中频信号；信号处理装置，与谐波混频器通信，用于接收并对中频信号进行处理，生成辐射杂散功率数据；控制装置，用于确定信号接收装置中预设测试频段对应的天线；控制转台转动，使得预设测试频段对应的天线与被测设备位于同一水平高度；控制预设测试频段对应的天线、谐波混频器与信号处理装置导通。本专利技术实施例提出一种辐射杂散功率测试系统的控制方法，用以对辐射杂散功率进行测试，效率高，可批量测试，该控制方法用于控制上述辐射杂散功率测试系统，包括：确定信号接收装置中预设测试频段对应的天线；控制转台转动，使得预设测试频段对应的天线与被测设备位于同一水平高度；控制预设测试频段对应的天线、谐波混频器与信号处理装置导通。本专利技术实施例提出一种辐射杂散功率测试方法，用以对辐射杂散功率进行测试，效率高，可批量测试，该测试方法应用于上述辐射杂散功率测试系统，包括：接收预设测试频段的辐射杂散信号；将预设测试频段的辐射杂散信号转换为中频信号；对所述中频信号进行处理，生成频谱数据，所述频谱数据包括多个频率下的辐射杂散功率数据。在本专利技术实施例中，辐射杂散功率测试系统包括微波暗箱、置于微波暗箱内的能够转动的转台、信号接收装置、谐波混频器、信号处理装置和控制装置，其中，微波暗箱，用于放置被测设备；信号接收装置包括置于转台上的多只天线，用于接收被测设备产生的预设测试频段的辐射杂散信号；谐波混频器，与信号接收装置连接，用于接收并将预设测试频段的辐射杂散信号转换为中频信号；信号处理装置，与谐波混频器通信，用于接收并对中频信号进行处理，生成辐射杂散功率数据；控制装置，用于确定信号接收装置中预设测试频段对应的天线；控制转台转动，使得预设测试频段对应的天线与被测设备位于同一水平高度；控制预设测试频段对应的天线、谐波混频器与信号处理装置导通。在上述测试系统中，信号接收装置包括置于转台上的多只天线和谐波混频器，通过控制装置的控制，控制转台转动，使得预设测试频段对应的天线与被测设备位于同一水平高度，控制预设测试频段对应的天线、谐波混频器与信号处理装置导通，从而实现获得预设测试频段的辐射杂散信号，进而生成辐射杂散功率数据，上述过程可高度自动化实现，不用任何人工参与，效率高；信号接收装置置于暗箱中，替代了传统的高成本的暗室，节约了成本；且通过控制装置的控制，可实现多个测试频段下的杂散功率测试，即实现了高效批量测试。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：图1为本专利技术实施例中辐射杂散功率测试系统的示意图；图2为本专利技术实施例中批量测试的流程图；图3为本专利技术实施例中辐射杂散功率测试系统的控制方法的流程图；图4为本专利技术实施例中辐射杂散功率测试方法的流程图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合附图对本专利技术实施例做进一步详细说明。在此，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，但并不作为对本专利技术的限定。在本说明书的描述中，所使用的“包含”、“包括”、“具有”、“含有”等，均为开放性的用语，即意指包含但不限于。参考术语“一个实施例”、“一个具体实施例”、“一些实施例”、“例如”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。各实施例中涉及的步骤顺序用于示意性说明本申请的实施，其中的步骤顺序不作限定，可根据需要作适当调整。图1为本专利技术实施例中辐射杂散功率测试系统的示意图，如图1所示，该系统包括：微波暗箱、置于微波暗箱内的能够转动的转台、信号接收装置、谐波混频器、信号处理装置和控制装置，其中，微波暗箱，用于放置被测设备；信号接收装置包括置于转台上的多只天线，用于接收被测设备产生的预设测试频段的辐射杂散信号；谐波混频器，与信号接收装置连接，用于接收并将预设测试频段的辐射杂散信号转换为中频信号；信号处理装置，与谐波混频器通信，用于接收并对中频信号进行处理，生成辐射杂散功率数据；控制装置，用于确定信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种辐射杂散功率测试系统，其特征在于，包括：微波暗箱、置于微波暗箱内的能够转动的转台、信号接收装置、谐波混频器、信号处理装置和控制装置，其中，/n微波暗箱，用于放置被测设备；/n信号接收装置包括置于转台上的多只天线，用于接收被测设备产生的预设测试频段的辐射杂散信号；/n谐波混频器，与信号接收装置连接，用于接收并将预设测试频段的辐射杂散信号转换为中频信号；/n信号处理装置，与谐波混频器通信，用于接收并对中频信号进行处理，生成辐射杂散功率数据；/n控制装置，用于确定信号接收装置中预设测试频段对应的天线；控制转台转动，使得预设测试频段对应的天线与被测设备位于同一水平高度；控制预设测试频段对应的天线、谐波混频器与信号处理装置导通。/n

【技术特征摘要】
1.一种辐射杂散功率测试系统，其特征在于，包括：微波暗箱、置于微波暗箱内的能够转动的转台、信号接收装置、谐波混频器、信号处理装置和控制装置，其中，
微波暗箱，用于放置被测设备；
信号接收装置包括置于转台上的多只天线，用于接收被测设备产生的预设测试频段的辐射杂散信号；
谐波混频器，与信号接收装置连接，用于接收并将预设测试频段的辐射杂散信号转换为中频信号；
信号处理装置，与谐波混频器通信，用于接收并对中频信号进行处理，生成辐射杂散功率数据；
控制装置，用于确定信号接收装置中预设测试频段对应的天线；控制转台转动，使得预设测试频段对应的天线与被测设备位于同一水平高度；控制预设测试频段对应的天线、谐波混频器与信号处理装置导通。


2.如权利要求1所述的辐射杂散功率测试系统，其特征在于，信号处理装置包括：
频谱分析仪，与谐波混频器连接，用于接收谐波混频器输出的中频信号并处理，生成频谱数据，所述频谱数据包括多个频率下的辐射杂散功率数据。


3.如权利要求2所述的辐射杂散功率测试系统，其特征在于，谐波混频器与频谱分析仪通过第一射频开关连接；
信号接收装置与谐波混频器通过第二射频开关连接；
控制装置具体用于：通过控制第一射频开关和第二射频开关，将预设测试频段对应的天线、谐波混频器与信号处理装置导通。


4.如权利要求3所述的辐射杂散功率测试系统，其特征在于，谐波混频器有多个；
控制装置还用于：
从多个谐波混频器中，确定预设测试频段对应的谐波混频器；
通过控制第一射频开关和第二射频开关，将预设测试频段对应的天线、预设测试频段对应的谐波混频器与信号处理装置导通。


5.如权利要求4所述的辐射杂散功率测试系统，其特征在于，控制装置还用于：
在预设测试频段对应的天线、预设测试频段对应的谐波混频器与信号处理装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊宇飞，万思嘉，陈天伟，史锁兰，刘宝殿，张夏，臧琦，周镒，
申请(专利权)人：中国信息通信研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11