一种紧缩场天线测量同步反射点位置识别方法技术

本发明专利技术公开一种紧缩场天线测量同步反射点位置识别方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和处于测试区内的待测天线所在位置为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到到处于测试区任意位置的待测天线的传播路径长为长轴长度，在紧缩场暗室中构建一个椭球面；椭球面与紧缩场暗室各面及紧缩场暗室内部空间物体的交汇处即为同步反射点位置。该方法快速的找到紧缩场内反射信号与直射波信号同时到达接收天线的同步反射点位置。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种紧缩场天线测量同步反射点位置识别方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在所述三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置T；根据所述紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以所述紧缩场馈源所在位置T和处于测试区内的待测天线所在位置A为焦点，以所述紧缩场馈源所在位置T经所述紧缩场反射面到达处于测试区内待测天线所在位置A的平面波传播距离为长轴长度，在所述紧缩场暗室中构建一个椭球面；所述椭球面与所述紧缩场暗室各面及紧缩场暗室内部空间物体的交汇处即为所述紧缩场天线测量同步反射点位置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：马永光，韩玉峰，钱冰华，高启轩，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11