芯片外罩自动上料测量机制造技术

本实用新型专利技术公开了芯片外罩自动上料测量机，包括上料测量机主体，所述上料测量机主体的上端外表面设置有便捷测量机构、进料斗与外罩壳，所述便捷测量机构位于进料斗的一侧，所述外罩壳位于进料斗的另一侧。本实用新型专利技术所述的芯片外罩自动上料测量机，设有便捷测量机构、卷绕收纳机构与便捷出料机构，能够便于人们对芯片外罩的质量与大小进行测量，测量起来较为方便，有利于人们使用，并能对上料测量机上过长部分的导线进行收纳，防止长期暴露在外受到损坏，有利于人们使用，还可以根据加工设备料口的位置对出料的高度进行调节，可以使出料变得更加顺畅，有利于人们使用，带来更好的使用前景。

Chip cover automatic feeding measuring machine

【技术实现步骤摘要】
芯片外罩自动上料测量机
本技术涉及上料测量设备领域，特别涉及芯片外罩自动上料测量机。
技术介绍
芯片外罩自动上料测量机主要是对芯片外罩的大小、质量进行测量，然后对其上料的一种设备，可以大大节省劳动力，为了使上料测量机更加完美，人们对上料测量机的要求也越来越高。现有的上料测量机在使用时存在一定的弊端，首先，传统的上料测量机对芯片外罩测量起来较为麻烦，不能保证上料加工的质量，具有一定的不利影响，其次，如果上料测量机上的导线过长，不方便人们对其进行收纳，具有一定的不利影响，还有，如果传统的上料测量机与加工设备的进料口距离过远，容易使芯片外罩出料的时候受到损坏，在出料的时候也不能起到缓冲的作用，容易影响芯片外罩加工的质量，具有一定的不利影响，给人们的使用过程带来了一定的影响，为此，我们提出芯片外罩自动上料测量机。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供芯片外罩自动上料测量机，可以有效解决
技术介绍
中的问题。为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：芯片外罩自动上料测量机，包括上料测量机主体，所述上料测量机主体的上端外表面设置有便捷测量机构、进料斗与外罩壳，所述便捷测量机构位于进料斗的一侧，所述外罩壳位于进料斗的另一侧，所述上料测量机主体的前端一侧外表面设置有控制面板，所述外罩壳的上端一侧外表面设置有卷绕收纳机构，所述外罩壳的中部内表面设置有上料机构，所述外罩壳的下端一侧外表面设置有便捷出料机构，所述外罩壳的一侧外表面设置有支撑台，所述支撑台的上端外表面设置有电机，所述便捷测量机构的中部设置有测量弹簧，所述测量弹簧的上端外表面设置有放置平板，所述放置平板的前端外表面设置有二号测量尺，所述放置平板的上端外表面设置有卡块，所述便捷测量机构的两侧内表面均设置有一号测量尺，所述一号测量尺的前端外表面设置有限位座，所述卷绕收纳机构的上端外表面设置有卷绕轴，所述便捷出料机构的两侧外表面均设置有螺栓，所述便捷出料机构的下端外表面设置有活动轴，所述活动轴的两侧内表面均设置有滚轮。控制面板主要是起到控制、编码的作用。进料斗主要是便于上料。支撑台主要是起到支撑的作用。测量弹簧主要是便于对芯片外罩的质量进行测量的作用。卷绕轴主要是起到收纳的作用。优选的，所述一号测量尺与限位座的数量均为两组，所述一号测量尺与限位座之间设置有滑槽，所述便捷测量机构与测量弹簧之间设置有固定座，所述便捷测量机构的中部内表面通过固定座测量弹簧的下端外表面活动连接。优选的，所述卷绕收纳机构与卷绕轴之间设置有转轴，所述卷绕收纳机构的上端外表面通过转轴与卷绕轴的下端外表面活动连接。优选的，所述便捷出料机构与螺栓之间设置有螺纹槽，所述便捷出料机构的两侧内表面均通过螺纹槽与螺栓的前端外表面活动连接。优选的，所述上料机构的两侧外表面均设置有上料斗，所述上料测量机主体的下端四周外表面均固定安装有支撑脚。优选的，所述控制面板的前端外表面设置有控制按钮，控制按钮的数量为若干组，所述上料测量机主体的后端外表面设置有电源线。与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：1.该芯片外罩自动上料测量机，通过设置的便捷测量机构，能够便于人们对芯片外罩的质量与大小进行测量，测量起来较为方便，有利于人们使用。2.通过设置的卷绕收纳机构,能够对上料测量机上过长部分的导线进行收纳，防止长期暴露在外受到损坏，有利于人们使用。3.便捷出料机构的设置，能够根据加工设备料口的位置对出料的高度进行调节，对芯片外罩起到了一定的保护作用，可以使出料变得更加顺畅，有利于人们使用，整个芯片外罩自动上料测量机结构简单，操作方便，使用的效果相对于传统方式更好。附图说明图1为本技术芯片外罩自动上料测量机的整体结构示意图；图2为本技术芯片外罩自动上料测量机的图1中便捷测量机构2的结构示意图；图3为本技术芯片外罩自动上料测量机的图1中卷绕收纳机构3的结构示意图；图4为本技术芯片外罩自动上料测量机的图1中便捷出料机构4的内部结构示意图。图中：1、上料测量机主体；2、便捷测量机构；3、卷绕收纳机构；4、便捷出料机构；5、控制面板；6、进料斗；7、外罩壳；8、上料机构；9、支撑台；10、电机；11、测量弹簧；12、一号测量尺；13、限位座；14、放置平板；15、卡块；16、二号测量尺；17、卷绕轴；18、活动轴；19、螺栓；20、滚轮。具体实施方式为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。如图1-4所示，芯片外罩自动上料测量机，包括上料测量机主体1，上料测量机主体1的上端外表面设置有便捷测量机构2、进料斗6与外罩壳7，便捷测量机构2位于进料斗6的一侧，外罩壳7位于进料斗6的另一侧，上料测量机主体1的前端一侧外表面设置有控制面板5，外罩壳7的上端一侧外表面设置有卷绕收纳机构3，外罩壳7的中部内表面设置有上料机构8，外罩壳7的下端一侧外表面设置有便捷出料机构4，外罩壳7的一侧外表面设置有支撑台9，支撑台9的上端外表面设置有电机10，便捷测量机构2的中部设置有测量弹簧11，测量弹簧11的上端外表面设置有放置平板14，放置平板14的前端外表面设置有二号测量尺16，放置平板14的上端外表面设置有卡块15，便捷测量机构2的两侧内表面均设置有一号测量尺12，一号测量尺12的前端外表面设置有限位座13，卷绕收纳机构3的上端外表面设置有卷绕轴17，便捷出料机构4的两侧外表面均设置有螺栓19，便捷出料机构4的下端外表面设置有活动轴18，活动轴18的两侧内表面均设置有滚轮20。一号测量尺12与限位座13的数量均为两组，一号测量尺12与限位座13之间设置有滑槽，便捷测量机构2与测量弹簧11之间设置有固定座，便捷测量机构2的中部内表面通过固定座测量弹簧11的下端外表面活动连接，能够便于人们对芯片外罩的质量、大小进行更好的测量，有利于人们使用；卷绕收纳机构3与卷绕轴17之间设置有转轴，卷绕收纳机构3的上端外表面通过转轴与卷绕轴17的下端外表面活动连接，能够便于人们对上料测量机主体1上过长部分的导线进行收纳；便捷出料机构4与螺栓19之间设置有螺纹槽，便捷出料机构4的两侧内表面均通过螺纹槽与螺栓19的前端外表面活动连接，能够保证出料的高度与加工设备对其，并可以使其出料的更加顺畅；上料机构8的两侧外表面均设置有上料斗，上料测量机主体1的下端四周外表面均固定安装有支撑脚；控制面板5的前端外表面设置有控制按钮，控制按钮的数量为若干组，上料测量机主体1的后端外表面设置有电源线。需要说明的是，本技术为芯片外罩自动上料测量机，在使用时，先将上料测量机主体1后端的电源线与插排连接，然后通过控制面板5前端的控制按钮进行编码，使电机10工作起来，从而带动外罩壳7内的上料机构8运转，为了方便人们对芯片外罩进行测量，可以将芯片外罩放在放置平板14上，将卡块15卡在芯片外罩的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.芯片外罩自动上料测量机，包括上料测量机主体(1)，其特征在于：所述上料测量机主体(1)的上端外表面设置有便捷测量机构(2)、进料斗(6)与外罩壳(7)，所述便捷测量机构(2)位于进料斗(6)的一侧，所述外罩壳(7)位于进料斗(6)的另一侧，所述上料测量机主体(1)的前端一侧外表面设置有控制面板(5)，所述外罩壳(7)的上端一侧外表面设置有卷绕收纳机构(3)，所述外罩壳(7)的中部内表面设置有上料机构(8)，所述外罩壳(7)的下端一侧外表面设置有便捷出料机构(4)，所述外罩壳(7)的一侧外表面设置有支撑台(9)，所述支撑台(9)的上端外表面设置有电机(10)，所述便捷测量机构(2)的中部设置有测量弹簧(11)，所述测量弹簧(11)的上端外表面设置有放置平板(14)，所述放置平板(14)的前端外表面设置有二号测量尺(16)，所述放置平板(14)的上端外表面设置有卡块(15)，所述便捷测量机构(2)的两侧内表面均设置有一号测量尺(12)，所述一号测量尺(12)的前端外表面设置有限位座(13)，所述卷绕收纳机构(3)的上端外表面设置有卷绕轴(17)，所述便捷出料机构(4)的两侧外表面均设置有螺栓(19)，所述便捷出料机构(4)的下端外表面设置有活动轴(18)，所述活动轴(18)的两侧内表面均设置有滚轮(20)。/n...

【技术特征摘要】
1.芯片外罩自动上料测量机，包括上料测量机主体(1)，其特征在于：所述上料测量机主体(1)的上端外表面设置有便捷测量机构(2)、进料斗(6)与外罩壳(7)，所述便捷测量机构(2)位于进料斗(6)的一侧，所述外罩壳(7)位于进料斗(6)的另一侧，所述上料测量机主体(1)的前端一侧外表面设置有控制面板(5)，所述外罩壳(7)的上端一侧外表面设置有卷绕收纳机构(3)，所述外罩壳(7)的中部内表面设置有上料机构(8)，所述外罩壳(7)的下端一侧外表面设置有便捷出料机构(4)，所述外罩壳(7)的一侧外表面设置有支撑台(9)，所述支撑台(9)的上端外表面设置有电机(10)，所述便捷测量机构(2)的中部设置有测量弹簧(11)，所述测量弹簧(11)的上端外表面设置有放置平板(14)，所述放置平板(14)的前端外表面设置有二号测量尺(16)，所述放置平板(14)的上端外表面设置有卡块(15)，所述便捷测量机构(2)的两侧内表面均设置有一号测量尺(12)，所述一号测量尺(12)的前端外表面设置有限位座(13)，所述卷绕收纳机构(3)的上端外表面设置有卷绕轴(17)，所述便捷出料机构(4)的两侧外表面均设置有螺栓(19)，所述便捷出料机构(4)的下端外表面设置有活动轴(18)，所述活动轴(18)的两侧内表面均设置有滚轮(20)。

【专利技术属性】
技术研发人员：朱磊刚，
申请(专利权)人：苏州亿利特电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32