【技术实现步骤摘要】
温度冲击试验箱
本技术涉及电子实验设备
,尤其是涉及一种温度冲击试验箱。
技术介绍
温度冲击箱适用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵抗力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具,它可以在高低温中进行快速转换,从而实现温度冲击,检测测试材料在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害,应用十分广泛,授权公告号为CN203494527U的中国专利中公开了一种温度冲击试验箱,包括温度冲击舱以及安装在温度冲击舱内的吊篮机构,所述吊篮机构经链条连接有气缸,所述温度冲击舱的顶部安装有链轮组合,用于对链条进行导向,该技术方案中,采用链条和链轮组合取代拉索结构,链条抗温湿度变化冲击的能力更强,增强了吊篮机构提升下降的可靠性 ...
【技术保护点】
1.一种温度冲击试验箱,包括箱体(1),所述箱体(1)内设置有高温室(11)和低温室(12),其特征在于:所述高温室(11)与低温室(12)之间转动设置有转轴(13),所述箱体(1)内所述转轴(13)的圆心与隔板(14)位于同一水平面,所述转轴(13)的外周壁上设置有最少两根转杆(132),所述箱体(1)上设置有用于驱动转轴(13)转动的电机(131),所述转杆(132)远离转轴(13)端转动设置有放置板(133),所述箱体(1)内位于高温室(11)和低温室(12)之间设置有隔板(14),所述隔板(14)上开设有供放置板(133)与转杆(132)通过的通孔(141),所述转 ...
【技术特征摘要】
1.一种温度冲击试验箱,包括箱体(1),所述箱体(1)内设置有高温室(11)和低温室(12),其特征在于:所述高温室(11)与低温室(12)之间转动设置有转轴(13),所述箱体(1)内所述转轴(13)的圆心与隔板(14)位于同一水平面,所述转轴(13)的外周壁上设置有最少两根转杆(132),所述箱体(1)上设置有用于驱动转轴(13)转动的电机(131),所述转杆(132)远离转轴(13)端转动设置有放置板(133),所述箱体(1)内位于高温室(11)和低温室(12)之间设置有隔板(14),所述隔板(14)上开设有供放置板(133)与转杆(132)通过的通孔(141),所述转杆(132)之间设置有用于将高温室(11)与低温室(12)隔开的间隔组件。
2.根据权利要求1所述的温度冲击试验箱,其特征在于:所述间隔组件包括沿转轴(13)的周向设置在转杆(132)之间的呈圆形的隔温件(135),所述箱体(1)内设置有用于遮盖通孔(141)的闭合组件。
3.根据权利要求2所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员:石泰昌,孙健,李晓玲,
申请(专利权)人:西安国是电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:陕西;61
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