一种波形测量方法技术

本发明专利技术公开了一种波形测量方法，将待测波形先通过两个比较器转换为两个对应的方波，当硬件逻辑器件接收到来自上位机软件发出的开始采集波形的信号后，采集所述两个方波，同时启动计数器，以固定高频率时钟计数，出现波形翻转时，若计数值小于设定的滤波值，则将该波形滤除，若计数值大于设定的滤波值，则硬件逻辑器件保存当时的波形和计数值，并将计数器清零，然后判断波形翻转次数是否达到设定值，若没达到，则重新计数，若达到，则停止波形的采集，然后通过上位机软件读取硬件逻辑器件保存的波形和计数值，并进行优化，根据测试需要，送入对应的算法，输出计算结果，提高了测量的准确性和精确度，提高了测量方法的灵活度。

A method of waveform measurement

【技术实现步骤摘要】
一种波形测量方法
本专利技术涉及电子
，尤其涉及一种波形测量方法。
技术介绍
目前，波形测量的现有技术是提供多个测量档位及测量功能模式的选择。使用者需根据待测信号的频率周期以及需要的测量项目，自行选择测量。如测量档位包括1K，10K，100K，1M等，测量功能模式包括频率，周期，占空比，上/下降沿时间，信号间间隔时间等。当测量周期较长的信号时，会丢失该信号的部分高频信息；对于周期内频率不固定的波形无法准确识别和测量；无法稳定测量占空比极低的信号，使测量结果不精确可靠，并且数据处理的灵活度不足。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种波形测量方法，提高测量结果的精确度和准确度，增加数据处理的灵活度。为实现上述目的，本专利技术提供了一种波形测量方法，包括：接收上位机软件发出的开始采集波形信号进行波形采集；启动计数器，以固定高频率时钟计数；出现波形翻转，判断计数值是否大于设定的滤波值；判断波形翻转次数是否达到设定值；通过上位机软件读取波形，输出测量结果。其中，所述上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种波形测量方法，其特征在于，包括：/n接收上位机软件发出的开始采集波形信号进行波形采集；/n启动计数器，以固定高频率时钟计数；/n出现波形翻转，判断计数值是否大于设定的滤波值；/n判断波形翻转次数是否达到设定值；/n通过上位机软件读取波形，输出测量结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种波形测量方法，其特征在于，包括：
接收上位机软件发出的开始采集波形信号进行波形采集；
启动计数器，以固定高频率时钟计数；
出现波形翻转，判断计数值是否大于设定的滤波值；
判断波形翻转次数是否达到设定值；
通过上位机软件读取波形，输出测量结果。


2.如权利要求1所述的一种波形测量方法，其特征在于，所述上位机软件发出的开始采集波形信号波形采集，包括：
将待测波形输入第一比较器和第二比较器，转换为两个对应的方波，将所述转换后的方波传输至硬件逻辑器件。


3.如权利要求1所述的一种波形测量方法，其特征在于，所述判断计数值是否大于设定的滤波值，包括：
若计数值小于设定的滤波值，则该波形为无效波形，被滤除；
若计数值大于设定的滤波值，则硬件逻辑器件保存当时的波形状态和对应的计数值，并将计数器清零。


4.如权利要求3所述的一种波形测量方法，其特征在于，所述判断波形翻转次数是否达到设定值，包括：
若波形翻转次数未达到设定值，则计数器重新计数；
若波形翻转次数...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄悦扬，毛国梁，
申请(专利权)人：南京宏泰半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32