一种膜层类型测定方法技术

本发明专利技术提供了一种膜层类型测定方法。该测定方法包括：分别获取至少一个预定波长的光在膜层中的折射率，其中，膜层的类型为非晶态膜层或者为晶态膜层，至少一个预定波长是根据预定条件确定的，预定条件为：同一波长在非晶态膜层中的折射率与在晶态膜层中的折射率之间的差值能够用于区分膜层的类型；根据预定参数确定膜层的类型，其中，预定参数包括：至少一个预定波长的光在膜层中的折射率。采用折射率之间的差值能够用于区分膜层的类型对应的波长作为预定波长，获取该预定波长后，检测至少一个预定波长下的膜层的折射率，根据折射率的大小或折射率差值的大小即可确定膜层为晶态膜或非晶态膜。因此通过常规折射率的检测即可测定膜层的类型。

A method to determine the type of film

【技术实现步骤摘要】
一种膜层类型测定方法
本专利技术涉及光学膜领域，具体而言，涉及一种膜层类型测定方法。
技术介绍
二氧化钛膜作为光学膜的一个常规基本结构，通常存在两个状态晶态膜和非晶态膜。晶态膜和非晶态膜存在微观结构上的区别，导致二者光学性能上的一些差异，但是，目前并没有有效手段能够快速区分出晶态膜和非晶态膜，导致最终形成的光学膜的光学性能变化不能被及时发现。而一旦膜层制作完成，将无法进行调整，导致光学膜制作风险增加。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种膜层类型测定方法，以解决现有技术中无法有效测定膜层类型的问题。为了实现上述目的，根据本专利技术的一个方面，提供了一种膜层类型测定方法，包括：分别获取至少一个预定波长的光在膜层中的折射率，其中，膜层的类型为非晶态膜层或者为晶态膜层，至少一个预定波长是根据预定条件确定的，预定条件为：同一波长在非晶态膜层中的折射率与在晶态膜层中的折射率之间的差值能够用于区分膜层的类型；根据预定参数确定膜层的类型，其中，预定参数包括：至少一个预定波长的光在膜层中的折射率。>进一步地，在分别获本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种膜层类型测定方法，其特征在于，包括：/n分别获取至少一个预定波长的光在所述膜层中的折射率，其中，所述膜层的类型为非晶态膜层或者为晶态膜层，所述至少一个所述预定波长是根据预定条件确定的，所述预定条件为：同一波长在所述非晶态膜层中的折射率与在所述晶态膜层中的折射率之间的差值能够用于区分所述膜层的类型；/n根据预定参数确定所述膜层的类型，其中，所述预定参数包括：所述至少一个预定波长的光在膜层中的折射率。/n

【技术特征摘要】
1.一种膜层类型测定方法，其特征在于，包括：
分别获取至少一个预定波长的光在所述膜层中的折射率，其中，所述膜层的类型为非晶态膜层或者为晶态膜层，所述至少一个所述预定波长是根据预定条件确定的，所述预定条件为：同一波长在所述非晶态膜层中的折射率与在所述晶态膜层中的折射率之间的差值能够用于区分所述膜层的类型；
根据预定参数确定所述膜层的类型，其中，所述预定参数包括：所述至少一个预定波长的光在膜层中的折射率。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在分别获取所述至少一个预定波长的光在所述膜层中的折射率之前，所述方法还包括：
根据第一关系和第二关系确定符合所述预定条件的所述至少一个预定波长，其中，所述第一关系为非晶态膜层中的波长与折射率之间的关系，所述第二关系为晶态膜层中的波长与折射率之间的关系。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述至少一个预定波长对应的折射率确定所述膜层的类型包括以下至少之一：
根据一个波长对应的折射率确定所述膜层的类型；
根据两个波长分别对应的折射率确定所述膜层的类型。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述至少一个预定波长为300nm至350nm之间任意至少之一的波长。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：于甄，
申请(专利权)人：张家港康得新光电材料有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32