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一种核壳结构中壳层耗散情况的定量检测方法技术

技术编号:23189916 阅读:54 留言:0更新日期:2020-01-24 15:55
本发明专利技术提供了核壳结构中壳层耗散情况的定量检测方法,所述核壳结构中金纳米颗粒为核体,银壳层为壳体。与现有技术相比,本发明专利技术的检测方法采用内标分子和参比分子比率强度测试,排除了外界不确定因素,例如温度、PH值、光照等因素带来的影响。使得测试结果更精确。且测试的各个步骤从合成到测试都是相当成熟的操作,不具有任何门槛,可重复性高,所以本测试方法是普遍适用的。

A quantitative detection method of shell dissipation in core-shell structure

【技术实现步骤摘要】
一种核壳结构中壳层耗散情况的定量检测方法
本专利技术属于分析检测领域,具体涉及一种核壳结构中壳层耗散情况的定量检测方法。
技术介绍
基于金银核壳纳米结构的研究已经十分深入其中金纳米粒子为核体,银为壳体,由于其具有多功能性、可调谐性以及稳定性等良好的物理化学性质,使得其在光学、环境科学、生物医学及材料学等具有十分广泛的应用,特别是在表面增强拉曼光谱当中具有十分重要的应用由于其显著的局域表面等离子体共振特性。目前关于金银核壳纳米颗粒的研究大都基于金纳米颗粒粒径大小、形貌以及银层厚度进行调节,从而得到较为理想的结构作为表面增强拉曼光谱基底应用到生物医学、食品农药残留检测以及环境污染物的检测当中。但是当前关于这种结构,还缺乏针对银层的耗散的定量研究。由于在金银核壳结构当中银层是不够稳定的,容易受到所处环境中温度、PH值、光照等因素影响,因此在该结构的应用过程当中,银层的耗散问题需要得到定量的分析,银层的厚度的大小将会对于内标分子的拉曼信号的增强效果产生很大的影响。由此在对该结构应用的过程当中需要对该结构中银层的耗散问题进行定量分析,否则对于相关本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种核壳结构中壳层耗散情况的定量检测方法,所述核壳结构中金纳米颗粒为核体,银壳层为壳体,其特征在于,包括如下步骤:/n在所述金纳米颗粒上负载分子A,得到Au@A纳米颗粒,所述分子A为具备拉曼光谱的小分子;/n在所述Au@A纳米粒子上负载不同厚度的银壳层,得到不同银壳层厚度的Au@A@Ag纳米颗粒;/n在金纳米颗粒上负载参比分子B,得到Au@B纳米颗粒,所述分子B为单巯基的六元芳环化合物;/n将所述Au@B纳米颗粒和所述不同银壳层厚度的Au@A@Ag纳米颗粒混合,并测试混合溶液的拉曼光谱;/n分析数据得到定量检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种核壳结构中壳层耗散情况的定量检测方法,所述核壳结构中金纳米颗粒为核体,银壳层为壳体,其特征在于,包括如下步骤:
在所述金纳米颗粒上负载分子A,得到Au@A纳米颗粒,所述分子A为具备拉曼光谱的小分子;
在所述Au@A纳米粒子上负载不同厚度的银壳层,得到不同银壳层厚度的Au@A@Ag纳米颗粒;
在金纳米颗粒上负载参比分子B,得到Au@B纳米颗粒,所述分子B为单巯基的六元芳环化合物;
将所述Au@B纳米颗粒和所述不同银壳层厚度的Au@A@Ag纳米颗粒混合,并测试混合溶液的拉曼光谱;
分析数据得到定量检测结果。


2.如权利要求1所述的检测方法...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡睿吕云杰黄春刘丽炜屈军乐
申请(专利权)人:深圳大学
类型:发明
国别省市:广东;44

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