激光器近场测试方法及测试系统技术方案

本发明专利技术涉及激光器特性测试领域，具体涉及一种激光器近场测试方法及测试系统，其中，方法包括：获取驱动电源的频率；其中，所述驱动电源用于驱动被测激光器发光；利用所述驱动电源的频率确定采集频率；接收所述被测激光器在目标点的近场光强数据；其中，所述近场光强数据是基于所述采集频率所采集到的；根据所述近场光强数据，计算所述被测激光器在所述目标点的光强。该方法可以保证待测激光器输出周期与采样周期一致且采样时激光器处于输出状态，从而保证了测试的准确性。

Laser near field test method and system

【技术实现步骤摘要】
激光器近场测试方法及测试系统
本专利技术涉及激光器特性测试领域，具体涉及一种激光器近场测试方法及测试系统。
技术介绍
激光器是当前通信、计算机、航天、医疗等领域中的关键器件，而激光器的优劣是由多种参数决定的，其中发光近场是一个重要参数。通过对激光器发光近场的测试，可以得到有源区均匀性，发光位置和电流扩展等信息。如果可以把发光近场和光谱对应的进行测试，可以了解模式随电流的变化情况。其中，激光器的近场测试通常是采用狭缝后接功率计或光电探测器，通过激光器与狭缝的相对位置一定进行探测，以测得的功率判断近场光斑光强的强弱。即，激光器的近场测量也可以理解为测量光斑光强与位置的关系。常用的激光器主要分为连续波输出(CW)和准连续波输出(QCW)两种模式，对于QCW模式下的激光器，由于激光器非连续输出，在实际测试过程中难以保证激光器输出周期与采样周期的一致性，这将导致当待测激光器正对狭缝时激光器处于未输出状态，进而导致系统误判为非发光区，影响测试的准确性，若采用间断步进法，令激光器与狭缝相对移动，会增加测试时间以及测试的复杂度。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种激光器近场测试方法及测试系统，以解决测试不够准确的问题。根据第一方面，本专利技术实施例提供了一种激光器近场测试方法，包括：获取驱动电源的频率；其中，所述驱动电源用于驱动被测激光器发光；利用所述驱动电源的频率确定采集频率；接收所述被测激光器在目标点的近场光强数据；其中，所述近场光强数据是基于所述采集频率所采集到的；根据所述近场光强数据，计算所述被测激光器在所述目标点的光强。本专利技术实施例提供的激光器近场测试方法，通过利用驱动电源的频率确定采集频率，可以保证采集到的近场光强数据能有效反映出所述待测激光器近场的光信息且解决了当被测激光器处于未发光状态时，误判为非发光区的不利现象，进而提高了采集的精确性与准确性。结合第一方面，在第一方面第一实施方式中，所述根据所述近场光强数据，计算所述被测激光器在所述目标点的光强，通过如下步骤完成：利用所述驱动电源的频率，确定数据采样周期；基于所述采样周期对所述近场光强数据进行采样，以得到采样数据；根据所述驱动电源的频率，对所述采样数据进行分析，以计算出所述被测激光器在所述目标点的光强。本专利技术实施例提供的激光器近场测试方法，通过利用所述驱动电源的频率，确定数据采样周期，并基于所述采样周期对所述近场光强数据进行采样，保证了被测激光器输出周期与采样周期一致，从而保证了测试的准确性。结合第一方面第一实施方式，在第一方面第二实施方式中，所述驱动电源为脉冲电源；所述根据所述驱动电源的频率，对所述采样数据进行分析，以计算出所述被测激光器在所述目标点的光强，通过如下步骤完成：获取所述脉冲电源的占空比；其中，所述占空比为被测激光器的已知特性；基于所述占空比，从所述采样数据中提取预设比例的最高光强；其中，所述预设比例与所述占空比相同；对提取出的预设比例的最高光强进行处理，得到所述被测激光器在所述目标点的光强。本专利技术实施例提供的激光器近场测试方法，利用驱动电源的频率，确定脉冲电源的占空比，并提取采样数据中与占空比相同的预设比例的最高光强，减小了所述被测激光器非发光区数据的干扰，使得后续对提取出的预设比例的最高光强进行处理，得到所述被测激光器在所述目标点的光强更加准确。结合第一方面第一实施方式，在第一方面第二实施方式中，所述采集频率大于或等于所述驱动电源的频率的100倍；所述采样周期为所述驱动电源的脉冲周期的整数倍。结合第一方面第一实施方式或第一方面第二实施方式，在第一方面第三实施方式中，驱动所述被测激光器匀速移动至下一个目标点，以进行所述下一个目标点的光强的计算。本专利技术实施例提供的激光器近场测试方法，通过利用被测激光器的驱动电源的频率，确定采集频率、采样周期和脉冲电源的占空比；并以所述采集频率采集所述被测激光器在目标点的近场光强数据，使得采集到的近场光强数据能有效反映出所述待测激光器近场的光信息且解决了当被测激光器处于未发光状态时，误判为非发光区的不利现象，进而保证采集的精确性与准确性；以所述采样周期对所述近场光强数据进行采样，保证了被测激光器输出周期与采样周期一致，从而保证了测试的准确性；基于所述占空比，从所述采样数据中提取与所述占空比相同的预设比例的最高光强，避免了所述被测激光器非发光区数据的干扰，使得后续对提取出的预设比例的最高光强进行处理，得到所述被测激光器在所述目标点的光强更加准确。根据第二方面，本专利技术实施例还提供了一种激光器近场测试系统，包括：被测激光器；驱动电源，与所述被测激光器连接；所述驱动电源用于驱动所述被测激光器发光；数据采集装置，用于采集所述被测激光器的近场光强数据；处理器，与所述驱动电源连接；所述处理器用于获取所述驱动电源的频率，利用所述驱动电源的频率确定采集频率，接收所述数据采集装置基于所述采集频率所采集到的所述被测激光器在目标点的近场光强数据，并根据所述近场光强数据，计算所述被测激光器在所述目标点的光强。本专利技术实施例提供的激光器近场测试系统，驱动电源与被测激光器相连，用于驱动被测激光器发光，通过数据采集装置采集所述被测激光器的近场光强数据；处理器与所述驱动电源相连，用于获取驱动电源的频率，并利用所述驱动电源的频率确定采集频率，接收所述数据采集装置基于所述采集频率所采集到的所述被测激光器在目标点的近场光强数据，并根据所述近场光强数据，计算所述被测激光器在所述目标点的光强。该系统使得采集到的近场光强数据能有效反映出所述待测激光器近场的光信息且解决了当被测激光器处于未发光状态时，误判为非发光区的不利现象，保证了被测激光器输出周期与采样周期一致，避免了所述被测激光器非发光区数据的干扰，从而保证了测试的准确性。结合第二方面，在第二方面第一实施方式中，所述数据采集装置包括：狭缝；光电探测器，用于将经所述狭缝射出的所述待测激光器的光信号转换成电信号；数据采集卡，与所述光电探测器连接；其中，所述数据采集卡用于基于所述采集频率采集所述光电探测器输出的电信号，以得到所述近场光强数据。本专利技术实施例提供的激光器近场测试系统，利用数据采集卡基于采集频率对光电探测器输出的电信号进行采集，以得到近场光强数据，其中，所述采集频率是根据驱动电源的频率确定的，可以保证采集到的近场光强数据能够有效反映被测激光器近场的光信息且解决了当被测激光器处于未发光状态时，误判为非发光区的不利现象，进而提高了采集的精确性与准确性。结合第二方面第一实施方式，在第二方面第二实施方式中，所述数据采集装置还包括：准直系统，所述准直系统设置在所述被测激光器的输出端与所述狭缝之间。本专利技术实施例提供的激光器近场测试系统，通过准直系统将被测激光器发出的光进行准直，提高了所述被测激光器所发出激光方向的稳定性，减小了光束在传播过程中受温度影响所产生的漂移本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种激光器近场测试方法，其特征在于，包括：/n获取驱动电源的频率；其中，所述驱动电源用于驱动被测激光器发光；/n利用所述驱动电源的频率确定采集频率；/n接收所述被测激光器在目标点的近场光强数据；其中，所述近场光强数据是基于所述采集频率所采集到的；/n根据所述近场光强数据，计算所述被测激光器在所述目标点的光强。/n

【技术特征摘要】
1.一种激光器近场测试方法，其特征在于，包括：
获取驱动电源的频率；其中，所述驱动电源用于驱动被测激光器发光；
利用所述驱动电源的频率确定采集频率；
接收所述被测激光器在目标点的近场光强数据；其中，所述近场光强数据是基于所述采集频率所采集到的；
根据所述近场光强数据，计算所述被测激光器在所述目标点的光强。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述近场光强数据，计算所述被测激光器在所述目标点的光强，包括：
利用所述驱动电源的频率，确定数据采样周期；
基于所述采样周期对所述近场光强数据进行采样，以得到采样数据；
根据所述驱动电源的频率，对所述采样数据进行分析，以计算出所述被测激光器在所述目标点的光强。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述驱动电源为脉冲电源；所述根据所述驱动电源的频率，对所述采样数据进行分析，以计算出所述被测激光器在所述目标点的光强，包括：
利用所述驱动电源的频率，确定所述电源的占空比；
基于所述占空比，从所述采样数据中提取预设比例的最高光强；其中，所述预设比例与所述占空比相同；
对提取出的预设比例的最高光强进行处理，得到所述被测激光器在所述目标点的光强。


4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述采集频率大于或等于所述驱动电源的频率的100倍；所述采样周期为所述驱动电源的脉冲周期的整数倍。


5.根据权利要求1－4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
驱动所述被测激光器匀速移动...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘华东，梁志敏，周立，王俊，李泉灵，廖新胜，
申请(专利权)人：苏州长光华芯光电技术有限公司，苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32