一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统，基于MES系统的基础上，在MES系统内增加生产时间智能管控模块，当测试过程中某个子流程超过了预设的生产时间，系统将该子流程的背景颜色变深，并且其排列顺序改变，超时越多，排列顺序越靠前，从而提醒产线上的人员对出现问题的子流程进行故障排查，以确保最终的生产时间不会超过交货期，保证产品能够按时出货，生产超时批次大幅度减少，提高企业的生产管理能力、企业形象和企业竞争力。

LED wafer test management system based on MES

【技术实现步骤摘要】
一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统
本专利技术涉及LED芯片测试生产
，尤其是涉及一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统。
技术介绍
LED晶圆是LED的核心部分，事实上，LED的波长、亮度、正向电压等主要光电参数基本上取决于晶圆材料。LED的相关电路元件的加工与制作都是在晶圆上完成的，所以晶圆技术与设备是晶圆制造技术的关键所在。为了确保芯片的质量，生产出来的LED晶圆均需要进行各种参数检测；然而在LED晶圆测试的过程中有许多不确定因素，特别是设备故障停机的时间实在是难以把控，若处理不及时则会耽误生产进度，交货期延误，使公司承受高额赔偿金；目前的MES生产管理系统中并不存在生产时间管理的模块，基本都是超出规定生产时间后才被发现，生产过程中对生产时间没有准确数据和预判，造成了很多管理上的缺失。基于近些年LED芯片行业发展迅速，LED芯片产能需求也日益增长，进入该行业的企业也越来越多，竞争加剧，为了保持企业的竞争优势，各家企业都对生产时间提供出更加严格的要求，因此一个能够提前警示产线技术人员，解决生产意外的管理系统本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统，其特征在于，包括以下步骤：/n1)将LED晶圆测试过程中涉及到的各类型设备的产能UPH进行整理，根据设备的产能设定测试的总时间T总，将晶圆测试设备的产能UPH和设定测试的总时间T总录入到MES系统中；/n2)根据测试流程的总时间T和晶圆测试设备的产能UPH，对总时间T总进行分配，制定测试过程中每个子流程的最大允许生产时间T流程n，并且录入到MES系统中，总时间T总与T流程n的关系符合下列公式：T总≥T流程1+T流程2+T流程3+....+T流程n＝∑T流程n；/n3)设定好上述数据后MES系统对生产流程的时间进行监控，在监控屏幕上显示每个流程的实...

【技术特征摘要】
1.一种基于MES系统的LED晶圆测试管理系统，其特征在于，包括以下步骤：
1)将LED晶圆测试过程中涉及到的各类型设备的产能UPH进行整理，根据设备的产能设定测试的总时间T总，将晶圆测试设备的产能UPH和设定测试的总时间T总录入到MES系统中；
2)根据测试流程的总时间T和晶圆测试设备的产能UPH，对总时间T总进行分配，制定测试过程中每个子流程的最大允许生产时间T流程n，并且录入到MES系统中，总时间T总与T流程n的关系符合下列公式：T总≥T流程1+T流程2+T流程3+....+T流程n＝∑T流程n；
3)设定好上述数据后MES系统对生产流程的时间进行监控，在监控屏幕上显示每个流程的实际用时T实际n，每个流程的实际用时T实际n都设有背景颜色，当某个流程的实际用时T实际n超出制定的测试时间T流程n时，其背景颜色发生改变，以实现提醒产线人员采取措施优先生产该流程批次；
4)后续流程采取措施后，该超时流程的追上生产进度，T实际n未超出制定的测试时间T流程n时，背景颜色恢复正常；
5)生产过程继续正常进...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟超，尹华，王福成，
申请(专利权)人：东莞长城开发科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44