【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试辅助装置
本技术涉及芯片测试附属装置的
，特别是涉及一种芯片测试辅助装置。
技术介绍
众所周知，芯片测试辅助装置是一种用于芯片生产加工过程中，对芯片进行测试的辅助装置，其在电子产品加工的领域中得到了广泛的使用；现有的芯片测试辅助装置包括检测台，检测台的顶端设置有放置台，并在放置台上设置有定位槽，检测台的顶端设置有门型支架，并在门型支架的底端安装有检测端子，检测端子位于定位槽的正上方；现有的芯片测试辅助装置使用时，将芯片置于定位槽内，然后通过检测端子对芯片进行检测即可；现有的芯片测试辅助装置使用中发现，其不方便对芯片进行拆装，导致使用可靠性较低；并且芯片上的静电会吸附空气中的灰尘，从而对测试的精度造成影响，导致实用性较低。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本技术提供一种方便对芯片进行拆装，提高使用可靠性；并且可以对芯片进行去静电操作，避免芯片由于静电吸附空气中的灰尘，保证测试的精度，提高实用性的芯片测试辅助装置。本技术的一种芯片测试辅助装置，包括检测箱、驱动电机、减速箱、转盘、支...
【技术保护点】
1.一种芯片测试辅助装置，其特征在于，包括检测箱（1）、驱动电机（2）、减速箱（3）、转盘（4）、支柱（5）、连接杆（6）、压缩弹簧（7）、推杆（8）和支杆（9），检测箱（1）底端的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有支腿（10），并在检测箱（1）的内部设置有工作腔，检测箱（1）的前端设置有取放口，所述驱动电机（2）和减速箱（3）均安装于检测箱（1）的底端，并且减速箱（3）位于驱动电机（2）的输出端，并在减速箱（3）的顶部输出端设置有转轴（11），所述转轴（11）的顶端自检测箱（1）的底端伸入至工作腔内并与转盘（4）的底端中部连接，所述转盘（4）顶端的左端、右端、前端和后...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试辅助装置，其特征在于，包括检测箱（1）、驱动电机（2）、减速箱（3）、转盘（4）、支柱（5）、连接杆（6）、压缩弹簧（7）、推杆（8）和支杆（9），检测箱（1）底端的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有支腿（10），并在检测箱（1）的内部设置有工作腔，检测箱（1）的前端设置有取放口，所述驱动电机（2）和减速箱（3）均安装于检测箱（1）的底端，并且减速箱（3）位于驱动电机（2）的输出端，并在减速箱（3）的顶部输出端设置有转轴（11），所述转轴（11）的顶端自检测箱（1）的底端伸入至工作腔内并与转盘（4）的底端中部连接，所述转盘（4）顶端的左端、右端、前端和后端均设置有定位槽（12），并在定位槽（12）内安装有定位装置，工作腔内顶壁的后端设置有检测装置（13），所述检测装置（13）位于后端所述定位装置的正上方，所述支柱（5）的底端与工作腔的内底壁左侧连接，支柱（5）的顶端与连接杆（6）底端的偏右位置可转动连接，支柱（5）的右端设置有固定板（14），所述压缩弹簧（7）的顶端与连接杆（6）的底端连接，压缩弹簧（7）的底端与固定板（14）的顶端连接，所述支杆（9）的底端与连接杆（6）的右端连接，并在支杆（9）的顶端设置有万向轮（15），转盘（4）的底端均匀设置有四组弧形凸起（16），所述四组弧形凸起（16）分别位于四组定位槽（12）的内侧，最左端一组弧形凸起（16）的底端与万向轮（15）的顶端贴紧，四组定位槽（12）内均设置有上下贯通的通孔（17），所述推杆（8）的底端与连接杆（6）的左端连接，推杆（8）的顶端自转盘（4）的底端穿过一组所述通孔（17）并伸入至左端一组所述定位槽（12）内；还包括除静电装置，所述除静电装置安装于工作腔的内顶壁上，并且除静电装置位于最右端一组定位装置的正上方，除静电装置包括两组螺纹管（18）、两组螺纹杆（19）、安装板（20）和离子风扇（21），工作腔的内顶壁上设置有两组安装槽，并在两组安装槽内均固定安装有第一滚珠轴承（22），所述两组螺纹管（18）的底端分别插入至两组第一滚珠轴承（22）内部，所述两组螺纹杆（19）的底端分别与安装板（20）顶端的左侧和右侧连接，两组螺纹杆（19）的顶端分别插入并螺装至两组螺纹管（18）的底端内部，所述离子风扇（21）安装于安装板（20）的底端...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙圣钦，
申请(专利权)人：芯源长通天津精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12
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