一种集成电路测试系统及其面向行的数据库管理系统技术方案

本发明专利技术的主要目的在于克服现有技术中的不足，提供一种能实现数据高效实时存储和快速查询的数据库管理系统。为解决上述技术问题，本发明专利技术的解决方案是：提供一种用于集成电路测试领域面向行的数据库管理系统，数据库用于以二维表形式逐行存储测试流数据，二维表形式是指：每一行为一条测试记录，每一列为一个字段。

An integrated circuit test system and its line oriented database management system

The main purpose of the invention is to overcome the shortcomings in the prior art and provide a database management system capable of realizing efficient real-time storage and fast query of data. To solve the above technical problems, the solution of the invention is to provide a row oriented database management system for the field of integrated circuit test, the database is used to store test flow data row by row in the form of two-dimensional table, which means that each row has a test record, and each column has a field.

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试系统及其面向行的数据库管理系统
本专利技术是关于半导体设计和生产领域，特别涉及一种集成电路测试系统及其面向行的数据库管理系统。
技术介绍
随着集成电路的设计规模不断扩大，单一芯片上的电子器件密度越来越大，而电子器件的特征尺寸越来越小。同时，集成电路工艺流程包含着很多复杂的工艺步骤，每一步都存在特定的工艺制造偏差，导致了集成电路芯片的成品率降低。在可制造性设计的背景下，为了提高集成电路产品的成品率，缩短成品率成熟周期，业界普遍采用基于特殊设计的测试芯片的测试方法，通过对测试芯片的测试来获取制造工艺和设计成品率改善所必需的数据。但是随着芯片的集成度越来越高，在制造过程中产生的测试数据，也在飞速增长。以高密度测试芯片为例，约包含100万个器件，目前可在25秒内完成测试，即每秒可测40000个器件；如果连续测试24小时，将能完成约35亿个器件的测试，获得的原始测试数据可达9GB。因此，需要建立一个专门的数据库，来实现测试数据的实时高效存储，以及快速响应数据查询。数据库管理系统（DBMS，DatabaseManagemen本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于集成电路测试领域面向行的数据库管理系统，数据库用于以二维表形式逐行存储测试流数据，二维表形式是指：每一行为一条测试记录，每一列为一个字段；其特征在于，所述用于集成电路测试领域面向行的数据库管理系统设置有数据立方，数据立方中存储有根据数据库中数据所生成的查询数据，用于响应针对数据库中数据的查询；/n所述查询数据是指：设数据库中存储的任意一行数据为H

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路测试领域面向行的数据库管理系统，数据库用于以二维表形式逐行存储测试流数据，二维表形式是指：每一行为一条测试记录，每一列为一个字段；其特征在于，所述用于集成电路测试领域面向行的数据库管理系统设置有数据立方，数据立方中存储有根据数据库中数据所生成的查询数据，用于响应针对数据库中数据的查询；
所述查询数据是指：设数据库中存储的任意一行数据为HiL1,…,HiLn-1,HiLn，该行i
的数据包括n个字段值，从n个字段值中取其中预定的m个字段值用于生成查询数据，对该行
数据中所述m个字段值进行组合，得到个不同的组合，每一个组合即作为一条查询数
据；
其中，i、j、m、n都是自然数，且n≥m≥j；是组合符号，从m个字段值中，取j个字段值组
成一个子集，不考虑子集中字段值的顺序，子集的个数用表示。


2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试领域面向行的数据库管理系统，其特征在于，所述数据立方中的查询数据，采用编码表示字段值。


3.根据权利要求2所述的一种用于集成电路测试领域面向行的数据库管理系统，其特征在于，所述查询数据利用列编码表对字段值进行编码，列编码表根据二维表形式的数据生成，每个字段分别设有一张列编码表；所述列编码表为键值表，包括该列所有的字段值，以及每个字段值对应的编码。


4.根据权利要求3所述的一种用于集成电路测试领域面向行的数据库管理系统，其特征在于，每行编码后的查询数据包括位掩码和字段值编码，位掩码和字段值编码之间采用符号“+”进行分隔；
每一个位掩码对应一列字段，位掩码为1时，表示该条查询数据中包括该字段，位掩码为0时，表示该条查询数据中不包括该字段；
位掩码的个数和字段值编码的个数相同，且位掩码按顺序与字段值编码一一对应；取值为1的位掩码，对应的字段值编码即为编码表示的字段值。


5.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试领域面向行的数据库管理系统，其特征在于，所述测试流数据中包括字段：wafer编号、die坐标位置、待测器件地址、测试条件、测试值和待测器件的属性。


6.一种集成电路测试系统，其特征在于，包括数据库和至少一组测试装置；
所述测试装置包括测试芯片和测试设备，所述测试设备包括函数发生器、开关矩阵模块和若干源测量单元，测试设备通过探针卡与测试芯片连接形成测试通路，测试生成测试流数据；
所述数据库采用权利要求1至5任意一项所述的数据库管理系统，用于存储测试流数据。


7.根据权利要求6所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：蓝帆，
申请(专利权)人：杭州广立微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33