下载一种集成电路测试系统及其面向行的数据库管理系统的技术资料

文档序号:22722404

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本发明的主要目的在于克服现有技术中的不足,提供一种能实现数据高效实时存储和快速查询的数据库管理系统。为解决上述技术问题,本发明的解决方案是:提供一种用于集成电路测试领域面向行的数据库管理系统,数据库用于以二维表形式逐行存储测试流数据,二维表...
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