一种集成电路测试系统及其面向列的数据库管理系统技术方案

本发明专利技术的主要目的在于克服现有技术中的不足，提供一种能实现数据高效实时存储和快速查询的数据库管理系统。为解决上述技术问题，本发明专利技术的解决方案是：提供一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，数据库用于以二维表形式逐列存储测试流数据，二维表形式是指：每一行为一条测试记录，每一列为一个字段；所述用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统设置有消息队列，消息队列能处理数据写入请求，以暂存测试流数据，消息队列还能处理数据库的数据读取请求，实现测试流数据批量存入数据库。

An integrated circuit test system and its column oriented database management system

The main purpose of the invention is to overcome the shortcomings in the prior art and provide a database management system capable of realizing efficient real-time storage and fast query of data. In order to solve the above technical problems, the solution of the invention is to provide a column oriented database management system for the field of integrated circuit test, the database is used to store test flow data column by column in the form of two-dimensional table, which means that each row has a test record, each column is a field, and the column oriented database management for the field of integrated circuit test The system is equipped with message queue, which can process the data write request to temporarily store the test flow data. The message queue can also process the data read request of the database and realize the batch storage of the test flow data into the database.

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试系统及其面向列的数据库管理系统
本专利技术是关于半导体设计和生产领域，特别涉及一种集成电路测试系统及其面向列的数据库管理系统。
技术介绍
随着集成电路的设计规模不断扩大，单一芯片上的电子器件密度越来越大，而电子器件的特征尺寸越来越小。同时，集成电路工艺流程包含着很多复杂的工艺步骤，每一步都存在特定的工艺制造偏差，导致了集成电路芯片的成品率降低。在可制造性设计的背景下，为了提高集成电路产品的成品率，缩短成品率成熟周期，业界普遍采用基于特殊设计的测试芯片的测试方法，通过对测试芯片的测试来获取制造工艺和设计成品率改善所必需的数据。但是随着芯片的集成度越来越高，在制造过程中产生的测试数据，也在飞速增长。以高密度测试芯片为例，约包含100万个器件，目前可在25秒内完成测试，即每秒可测40000个器件；如果连续测试24小时，将能完成约35亿个器件的测试，获得的原始测试数据可达9GB。因此，需要建立一个专门的数据库，来实现测试数据的实时高效存储，以及快速响应数据查询。数据库管理系统（DBMS，DatabaseManagemen本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，数据库用于以二维表形式逐列存储测试流数据，二维表形式是指：每一行为一条测试记录，每一列为一个字段；其特征在于，所述用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统设置有消息队列，消息队列能处理数据写入请求，以暂存测试流数据，消息队列还能处理数据库的数据读取请求，实现测试流数据批量存入数据库。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，数据库用于以二维表形式逐列存储测试流数据，二维表形式是指：每一行为一条测试记录，每一列为一个字段；其特征在于，所述用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统设置有消息队列，消息队列能处理数据写入请求，以暂存测试流数据，消息队列还能处理数据库的数据读取请求，实现测试流数据批量存入数据库。


2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，其特征在于，所述消息队列设置有最长保持时间和最大读取次数，并配置：
在消息队列中，数据存储的时间达到最长保持时间时被删除；
在消息队列中，数据被读取的次数达到最大读取次数时被删除。


3.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，其特征在于，所述消息队列保持在线状态，即能实时响应并实现测试设备的测试流数据写入请求，以及能实时响应并实现数据库的数据读取请求。


4.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，其特征在于，所述数据库处于在线状态或者离线状态。


5.根据权利要求4所述的一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，其特征在于，所述数据库处于在线状态时，每隔预设的时间间隔向消息队列发送数据读取请求。


6.一种集成电路测试系统，其特征在于，包括数据库和至少一组测试装置；
所述测试装置包括测试芯片和测试设备，所述测试设备包括函数发生器、开关矩阵模块和若干源测量单元，测试设备通过探针卡与测试芯片连接形成测试通路，...

【专利技术属性】
技术研发人员：蓝帆，
申请(专利权)人：杭州广立微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33