通过Ipmitool测试热插拔的方法、系统及存储介质技术方案

本发明专利技术涉及一种通过Ipmitool测试热插拔的方法、系统及存储介质，包括以下步骤：S1：预处理步骤：S2：PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除插槽；S3：获取PCIE设备的在位信息；S4：获取PCIE插槽的外插卡数据信息；S5：查看被测机台系统的日志信息是否存在异常fail或者error日志；S6：PCIE插槽上电，模拟PCIE设备插入插槽；S7：获取PCIE设备的在位信息；S8：获取PCIE插槽的外插卡数据信息；S9：查看被测机台系统的日志信息是否存在异常fail或者error日志。

Test hot plug method, system and storage media through ipmitool

The invention relates to a method, system and storage medium for testing hot plug through ipmitool, including the following steps: S1: preprocessing steps: S2: PCIe slot power down, simulating PCIe device to remove the slot; S3: obtaining the position information of PCIe device; S4: obtaining the external card data information of PCIe slot; S5: checking whether the log information of the tested machine system has abnormal failure or error Log; S6: power on the PCIe slot, simulate the insertion of the PCIe device into the slot; S7: obtain the in place information of the PCIe device; S8: obtain the external card data information of the PCIe slot; S9: check whether the log information of the tested machine platform system has abnormal failure or error logs.

【技术实现步骤摘要】
通过Ipmitool测试热插拔的方法、系统及存储介质
本专利技术属于热插拔测试
，具体涉及一种通过Ipmitool测试热插拔的方法、系统及存储介质。
技术介绍
传统热插拔技术是在主板上预留按键或者拨码，当需要更换PCIE板卡或者板卡出现故障时，将按键按下，此时PCIE插槽断电，对PCIE外插卡进行更换，此方法在开发阶段测试比较占用资源。此为现有技术中存在的不足。有鉴于此，本专利技术给出一种通过Ipmitool测试热插拔的方法、系统及存储介质的技术方案；以解决现有技术中存在的缺陷和问题。
技术实现思路
针对现有技术中存在的当需要更换PCIE板卡或者板卡出现故障时，将按键按下，此时PCIE插槽断电，对PCIE外插卡进行更换，此方法在开发阶段测试比较占用资源的问题；本专利技术提供一种通过Ipmitool测试热插拔的方法、系统及存储介质，以解决上述技术问题。为实现上述目的，本专利技术给出以下技术方案：第一方面，本专利技术提供一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，包括以下步骤：S1：预处理步骤：获取PCIE插槽的外插卡数据信息以及被测机台系统的日志信息；S2：PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除插槽；S3：获取PCIE设备的在位信息，如果仍检测到PCIE设备处于在位状态，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果检测到PCIE设备处于不在位状态，则继续执行下一步；S4：获取PCIE插槽的外插卡数据信息，并将该数据信息与步骤S1中获取的PCIE插槽的外插卡数据信息进行对比，两者相比，如果不在位状态的PCIE设备数据信息正确，则继续下一步；否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；S5：查看被测机台系统的日志信息是否存在异常fail或者error日志，如果存在，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果不存在，则继续下一步；S6：PCIE插槽上电，模拟PCIE设备插入插槽；S7：获取PCIE设备的在位信息，如果检测到PCIE设备处于不在位状态，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果检测到PCIE设备处于在位状态，则继续执行下一步；S8：获取PCIE插槽的外插卡数据信息，并将该数据信息与步骤S1中获取的PCIE插槽的外插卡数据信息进行对比；如果数据信息一致，则继续执行下一步，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；S9：查看被测机台系统的日志信息是否存在异常fail或者error日志，如果存在，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果不存在，则转到步骤S2作循环测试。作为优选，所述步骤S1中，通过lspci获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第一文件中；外插卡信息包括：待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备DeviceID信息、待测PCEI设备UEsta信息、待测PCIE设备CEsta信息、获取待测PCIE设备的Speed以及Width信息；被测机台系统的日志信息包括Dmesg、Messages、Mcelog日志信息。获取上述数据信息，用作后续模拟移除和插入前后的数据对比，得到的测试结果更加准确，降低测试不准确率。作为优选，所述步骤S2的实现步骤如下：通过ipmitool发送remove信息给CPLD，CPLD收到remove信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉低，PCIE链路断开，RST拉低后CPU将信息回传给CPLD，将VR电断开，PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除。采用该步骤能够快速准确的控制PCIE插槽掉电；有效确保PCIE插槽处于掉电状态；模拟PCIE设备移除更加准确。作为优选，所述步骤S4具体实现如下：通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第二文件中；该步骤获取的信息包括待测PCIE设备的设备号，以及待测PCIE设备的DeviceID信息；与步骤S1中获取的数据进行对比，如果不在位状态的PCIE设备号以及DeviceID正确，则继续执行下一步，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法。通过该步骤能够快速对PCIE设备模拟移除后，PCIE插槽的外插卡数据的对比，并做出准确的判断。作为优选，所述步骤S6具体实现如下：通过ipmitool发送insert信息给CPLD，CPLD收到insert信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉高，PCIE链路闭合，RST拉高后CPU将信息回传给CPLD，将VR电导通，PCIE插槽上电，模拟PCIE插入。采用该步骤能够快速准确的控制PCIE插槽上电；有效确保PCIE插槽处于上电状态；模拟PCIE设备插入更加准确。作为优选，所述步骤S8具体实现如下：通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第三文件中，将第三文件与第一文件存储数据信息进行对比；如果待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备DeviceID信息、待测PCEI设备UEsta信息、待测PCIE设备CEsta信息、获取待测PCIE设备的Speed以及Width信息均对应一致，则继续执行下一步操作，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法。通过该步骤能够快速对PCIE设备模拟插入后，PCIE插槽的外插卡数据的对比，并做出准确的判断。第二方面，本专利技术提供一种通过Ipmitool测试热插拔的系统，包括：预处理模块：获取PCIE插槽的外插卡数据信息以及被测机台系统的日志信息；通过lspci获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第一文件中；模拟PCIE设备移除模块：通过ipmitool发送remove信息给CPLD，CPLD收到remove信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉低，PCIE链路断开，RST拉低后CPU将信息回传给CPLD，将VR电断开，PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除；模拟移除后数据对比模块：通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第二文件中；该步骤获取的信息包括待测PCIE设备的设备号，以及待测PCIE设备的DeviceID信息；与预处理模块中获取的数据进行对比；模拟PCIE设备插入模块：通过ipmitool发送insert信息给CPLD，CPLD收到insert信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉高，PCIE链路闭合，RST拉高后CPU将信息回传给CPLD，将VR电导通，PCIE插槽上电，模拟PCIE插入；模拟插入后数据对比模块：通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第三文件，将第三文件与第一文件存储数据信息进行对比。作为优选，所述预处理模块中，通过lspci获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第一文件中；外插卡信息包括：待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备Devic本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1：预处理步骤：/n获取PCIE插槽的外插卡数据信息以及被测机台系统的日志信息；/nS2：PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除插槽；/nS3：获取PCIE设备的在位信息，如果仍检测到PCIE设备处于在位状态，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果检测到PCIE设备处于不在位状态，则继续执行下一步；/nS4：获取PCIE插槽的外插卡数据信息，并将该数据信息与步骤S1中获取的PCIE插槽的外插卡数据信息进行对比，两者相比，如果不在位状态的PCIE设备数据信息正确，则继续下一步；否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；/nS5：查看被测机台系统的日志信息是否存在异常fail或者error日志，如果存在，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果不存在，则继续下一步；/nS6：PCIE插槽上电，模拟PCIE设备插入插槽；/nS7：获取PCIE设备的在位信息，如果检测到PCIE设备处于不在位状态，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果检测到PCIE设备处于在位状态，则继续执行下一步；/nS8：获取PCIE插槽的外插卡数据信息，并将该数据信息与步骤S1中获取的PCIE插槽的外插卡数据信息进行对比；如果数据信息一致，则继续执行下一步，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；/nS9：查看被测机台系统的日志信息是否存在异常fail或者error日志，如果存在，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果不存在，则转到步骤S2作循环测试。/n...

【技术特征摘要】
1.一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：预处理步骤：
获取PCIE插槽的外插卡数据信息以及被测机台系统的日志信息；
S2：PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除插槽；
S3：获取PCIE设备的在位信息，如果仍检测到PCIE设备处于在位状态，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果检测到PCIE设备处于不在位状态，则继续执行下一步；
S4：获取PCIE插槽的外插卡数据信息，并将该数据信息与步骤S1中获取的PCIE插槽的外插卡数据信息进行对比，两者相比，如果不在位状态的PCIE设备数据信息正确，则继续下一步；否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；
S5：查看被测机台系统的日志信息是否存在异常fail或者error日志，如果存在，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果不存在，则继续下一步；
S6：PCIE插槽上电，模拟PCIE设备插入插槽；
S7：获取PCIE设备的在位信息，如果检测到PCIE设备处于不在位状态，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果检测到PCIE设备处于在位状态，则继续执行下一步；
S8：获取PCIE插槽的外插卡数据信息，并将该数据信息与步骤S1中获取的PCIE插槽的外插卡数据信息进行对比；如果数据信息一致，则继续执行下一步，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；
S9：查看被测机台系统的日志信息是否存在异常fail或者error日志，如果存在，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果不存在，则转到步骤S2作循环测试。


2.根据权利要求1所述的一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，其特征在于，所述步骤S1中，通过lspci获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存第一文件；外插卡信息包括：待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备DeviceID信息、待测PCEI设备UEsta信息、待测PCIE设备CEsta信息、获取待测PCIE设备的Speed以及Width信息；
被测机台系统的日志信息包括Dmesg、Messages、Mcelog日志信息。


3.根据权利要求2所述的一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，其特征在于，所述步骤S2的实现步骤如下：
通过ipmitool发送remove信息给CPLD，CPLD收到remove信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉低，PCIE链路断开，RST拉低后CPU将信息回传给CPLD，将VR电断开，PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除。


4.根据权利要求3所述的一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，其特征在于，所述步骤S4具体实现如下：
通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第二文件中；该步骤获取的信息包括待测PCIE设备的设备号，以及待测PCIE设备的DeviceID信息；与步骤S1中获取的数据进行对比，如果不在位状态的PCIE设备号以及DeviceID正确，则继续执行下一步，...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜庆臣，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32