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通过Ipmitool测试热插拔的方法、系统及存储介质技术方案
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文档序号:22641230
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本发明涉及一种通过Ipmitool测试热插拔的方法、系统及存储介质,包括以下步骤:S1:预处理步骤:S2:PCIE插槽掉电,模拟PCIE设备移除插槽;S3:获取PCIE设备的在位信息;S4:获取PCIE插槽的外插卡数据信息;S5:查看被测机...
该专利属于苏州浪潮智能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州浪潮智能科技有限公司授权不得商用。
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