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与测定芯片通过接口连接的仪器制造技术

技术编号:22560314 阅读:28 留言:0更新日期:2019-11-16 09:44
与测定芯片通过接口连接的仪器,该测定芯片包括具有样品孔的多个像素,所述样品孔被配置成接收当被激发时发射出发射能量的样品;至少一个在特定方向中指引所述发射能量的元件;以及光路径,所述发射能量沿所述光路径从所述样品孔向传感器行进。所述器械还包括与所述测定芯片通过接口连接的仪器。所述仪器包括用于在每个样品孔中激发所述样品的激发光源;和与所述样品孔相应的多个传感器。每个传感器可在各样品孔中检测源于样品的发射能量。所述仪器包括至少一个光学元件,其将源于每个样品孔的所述发射能量引向所述多个传感器中的各个传感器。

An instrument connected to a measuring chip through an interface

An instrument connected with a determination chip through an interface, the determination chip includes a plurality of pixels having a sample hole configured to receive a sample emitting energy when excited; at least one element guiding the emitting energy in a specific direction; and a light path, wherein the emitting energy travels from the sample hole to the sensor along the light path. The apparatus also includes an instrument connected with the measuring chip through an interface. The apparatus includes an excitation light source for exciting the sample in each sample hole; and a plurality of sensors corresponding to the sample hole. Each sensor can detect the emission energy from the sample in each sample hole. The apparatus includes at least one optical element that directs the emission energy from each sample hole to each of the plurality of sensors.

【技术实现步骤摘要】
与测定芯片通过接口连接的仪器本申请是申请日为2014年11月17日、申请号为201480073505.9、专利技术名称为“用于探测、检测和分析分子的光学系统和测定芯片”的专利技术专利申请的分案申请。相关申请案本申请根据美国法典第35编第119条要求于2013年11月17日提交的序列号为61/905282且题为“用于探测、检测和分析分子的集成装置”的美国临时专利申请;于2013年12月18日提交的序列号为61/917926且题为“用于探测、检测和分析分子的集成装置”的美国临时专利申请;于2014年2月19日提交的序列号为61/941916且题为“用于探测、检测和分析分子的集成装置”的美国临时专利申请的权益,所有专利均通过引用全部并入本文。
本专利技术一般涉及用于进行生物和/或化学样品的快速、大规模并行的定量分析的装置、方法和技术以及制造该装置的方法。
技术介绍
可使用生物测定(“生物测定bioassays”)进行生物样品的检测和分析。生物测定通常涉及大且昂贵的实验室设备,其需要对做研究的科学家进行培训以操作设备和进行生物测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种被配置成与测定芯片通过接口连接的仪器,所述测定芯片包括多个样品孔,所述多个样品孔中的每个样品孔被配置成接收样品,所述仪器包括:/n至少一个激发光源,其被配置成激发所述多个样品孔中的至少一部分的所述样品;/n多个传感器,所述多个传感器中的每个传感器与所述多个样品孔的样品孔相对应,其中所述多个传感器中的每个传感器被配置成检测源于在各个样品孔中的所述样品的发射能量;以及/n至少一个光学元件,其被配置成将源于所述多个样品孔中的每个样品孔的所述发射能量引向所述多个传感器中的各个传感器。/n

【技术特征摘要】
20131117 US 61/905,282;20131218 US 61/917,926;20141.一种被配置成与测定芯片通过接口连接的仪器,所述测定芯片包括多个样品孔,所述多个样品孔中的每个样品孔被配置成接收样品,所述仪器包括:
至少一个激发光源,其被配置成激发所述多个样品孔中的至少一部分的所述样品;
多个传感器,所述多个传感器中的每个传感器与所述多个样品孔的样品孔相对应,其中所述多个传感器中的每个传感器被配置成检测源于在各个样品孔中的所述样品的发射能量;以及
至少一个光学元件,其被配置成将源于所述多个样品孔中的每个样品孔的所述发射能量引向所述多个传感器中的各个传感器。


2.根据权利要求1所述的仪器,其还包括:
多向色镜,其被配置成将源于所述至少一个激发光源的激发光向所述测定芯片反射并将源于所述多个样品的所述发射能量向所述多个传感器传输。


3.根据权利要求1-2中任一项所述的仪器,其中所述至少一个光学元件包括中继透镜。


4.根据权利要求1-3中任一项所述的仪器,其中所述至少一个激发光源包括多个光源,所述多个光源中的每个光源在多个波长中的一个或多个上发射激发光。

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【专利技术属性】
技术研发人员:乔纳森·M·罗思伯格阿里·卡比里杰森·W·斯克勒布雷特·J·格亚凡思杰瑞米·拉基杰勒德·施密德本杰明·西普里亚尼杰克·朱厄尔罗伦斯·威斯特迈克尔·费里尼奥保罗·E·格伦亚当·E·科恩安东尼·贝罗菲奥雷
申请(专利权)人:宽腾矽公司
类型:发明
国别省市:美国;US

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