电磁波测量装置(101、102)具备生成两种波长的探光的探光生成部(1)以及包括电光晶体且接收通过所述探光生成部(1)生成的所述探光以及被检测电磁波的电光探针(2、2A、2B)，所述探光生成部(1)进行使所述探光的频率差变动的变动动作，所述变动动作被设定成遵照所述被检测电磁波的频率变动的规格的内容。
Electromagnetic wave measuring device and method
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电磁波测量装置以及电磁波测量方法
本专利技术涉及电磁波测量装置以及电磁波测量方法，尤其涉及利用电光晶体的电磁波测量装置以及电磁波测量方法。本申请主张基于2017年3月6日提交的日本申请特愿2017-41286号的优先权，将其公开内容全部引入本申请中。
技术介绍
开发出了利用电光晶体检测电磁波的各种装置。作为这样的检测电磁波的技术的一例，例如，专利文献1(特开2014-52272号公报)公开了如下技术。即，电磁波检测系统具备：第一光源；以与所述第一光源不同的频率发光的第二光源；将来自所述第一光源的光分支为两路的第一光分支器；将来自所述第二光源的光分支为两路的第二光分支器；将通过所述第一光分支器分支的两路光中的一路光以及通过所述第二光分支器分支的两路光中的一路光进行合波的第一光合波器；将通过所述第一光分支器分支的两路光中的另一路光以及通过所述第二光分支器分支的两路光中的另一路光进行合波的第二光合波器；输出恒定频率的振荡信号的振荡器；插入到所述第一光分支器与所述第一光合波器之间、所述第二光分支器与所述第一光合波器之间、所述第一光分支器与所述第二光合波器之间以及所述第二光分支器与所述第二光合波器之间中的任意处，通过来自所述振荡器的振荡信号将光的频率移位所述振荡信号的频率量的频率移位器；接收来自所述第一光合波器的不同频率的两路光，生成以两路光的差频为频率的第一RF(RadioFrequency：射频)信号，并将所生成的第一RF信号照射至被测体的RF信号发生器；将来自所述第二光合波器的不同频率的两路光作为LO(LocalOscilating：局部振荡)信号，将透过所述被测体或者被所述被测体反射的第一RF信号以及所述LO信号混合而进行外差检波，输出以构成所述LO信号的两路光的差频与所述第一RF信号的频率的差频为频率的检测信号的RF信号检测器；以及将所述RF信号检测器输出的检测信号通过所述振荡器输出的振荡信号进行2相位锁相检测，输出与所述RF信号检测器输出的检测信号同相位的同相成分以及与所述RF信号检测器输出的检测信号正交相位的正交成分的2相位锁相检测器。另外，专利文献2(日本特开2017-15703号公报)公开了如下技术。即，电磁波测量装置具备：光源；接收来自所述光源的光以及电磁波的电光探针；接收从所述电光探针输出的光的光滤波器；以及将通过所述光滤波器的光转换为电信号的受光元件，其中，所述电光探针具备电光晶体以及与所述电光晶体光耦合的光纤，设置为所述电光晶体的原有的轴向与入射到所述电光晶体的来自所述光纤的光的偏波方向一致。先行技术文献非专利文献非专利文献1：H.-L.Bloecheretal.“79GHzUWBautomotiveshortrangeradar-Spectrumallocationandtechnologytrends”，Adv.RadioSci.，2009年，7，61～65非专利文献2：井上大辅“通过大规模拟实验的雷达在车辆搭载时的特性了解”，东京工业大学TSUBAME工业利用试行成果报告(平成26年度(2014年))，2014年专利文献专利文献1：日本特开2014-52272号公报专利文献2：日本特开2017-15703号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题希望开发出超过这样的专利文献1以及2记载的技术、可以以低成本良好地测量电磁波的技术。本专利技术是为了解决上述课题做出的，其目的在于提供能够利用电光晶体以低成本且良好地测量电磁波的电磁波测量装置以及电磁波测量方法。解决课题的手段(1)为了解决上述课题，根据本专利技术一方面的电磁波测量装置具备：探光生成部，其生成两种波长的探光；以及电光探针，其包括电光晶体，接收被检测电磁波以及通过所述探光生成部生成的所述探光，其中，所述探光生成部进行变动所述探光的频率差的变动动作，所述变动动作被设定成遵照所述被检测电磁波的频率变动的规格的内容。(8)为了解决上述课题，根据本专利技术一方面的电磁波测量方法包括如下步骤：生成两种波长的探光；以及向包括电光晶体的电光探针施加所生成的所述探光，并且施加被检测电磁波，其中，在生成所述探光的步骤中，进行变动所述探光的频率差的变动动作，所述变动动作是遵照所述被检测电磁波的频率变动的规格的内容。专利技术效果根据本专利技术，能够利用电光晶体以低成本良好地测量电磁波。附图说明图1是示出根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的构成的图。图2是示出根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的构成的图。图3是示出根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的测量原理的图。图4是示出成为根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的测量对象的电磁波的一例的图。图5是示出根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的对比例中的IF信号频率的一例的图。图6是示出根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置中的探光的控制一例的图。图7是示出根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置中的IF信号频率的一例的图。图8是示出根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置中的探针频率的控制效果的一例的图。图9是示出根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的变形例的构成的图。图10是示出根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的变形例中的探光以及电光晶体的调制边带一例的图。图11是示出根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的变形例中的探光的控制以及IF信号的频率的一例的图。图12是示出根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的变形例的构成的图。图13是示出根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的变形例的构成的图。图14是示出利用根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的电磁波测量方法的次序的图。图15是示出根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置的构成的图。图16是示出利用根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置的电磁波测量方法的次序的图。图17是示出利用根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置的测量系统的一例的图。图18是示出根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置的测量结果的一例的图。图19是示出根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置的测量结果的一例的图。图20是示出根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置的测量结果的一例的图。图21是示出根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置的测量结果的其它例子的图。图22是示出根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置的测量结果的其它例子的图。图23是示出根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置的测量结果的其它例子的图。图24是示出根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置的测量结果的其它例子的图。图25是示出根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置中的被检测电磁波的模拟实验结果的图。图26是示出根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置中的被检测电磁波的模拟实验结果的图。图27是示出根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置的测量结果以及模拟实验结果的其它例子的图。图28是示出根据本专利技术第二实施方式的电磁波测量装置的测量结果以及模拟实验结果的其它例子的图。具体实施方式首先，列举说明本专利技术的实施方式的内容。(1)根据本专利技术实施方式的电磁波测量装置具备：探光生成部，其生成两种波长的探光；以及电光探针，其包括电光晶体，接收被检测电磁波和通过所述探光生成部生成的所述探光，其中，所述探光生成部进行变动所述探光的频本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种电磁波测量装置，其具备：探光生成部，其生成两种波长的探光；以及电光探针，其包括电光晶体，且接收被检测电磁波以及通过所述探光生成部生成的所述探光，其中，所述探光生成部进行使所述探光的频率差变动的变动动作，所述变动动作被设定成遵照所述被检测电磁波的频率变动的规格的内容。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.03.06 JP 2017-0412861.一种电磁波测量装置，其具备：探光生成部，其生成两种波长的探光；以及电光探针，其包括电光晶体，且接收被检测电磁波以及通过所述探光生成部生成的所述探光，其中，所述探光生成部进行使所述探光的频率差变动的变动动作，所述变动动作被设定成遵照所述被检测电磁波的频率变动的规格的内容。2.根据权利要求1所述的电磁波测量装置，其中，在所述变动动作中，所述探光生成部使所述探光的频率差变动，以使所述探光的频率差与所述被检测电磁波的频率之间的差的变动幅度比所述被检测电磁波的频率的变动幅度小。3.根据权利要求1或2所述的电磁波测量装置，其中，在所述变动动作中，所述探光生成部使所述频率差变动，以使所述探光的频率差追随所述被检测电磁波的频率变动。4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的电磁波测量装置，其中，所述电磁波测量装置还具备受光元件，该受光元件将基于从所述电光探针输出的光的光转换为电信号，在所述变动动作中，所述探光生成部基于所述受光元件所转换的所述电信号的频率，调整所述频率差的变动。5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的电磁波测量装置，其中，所述电磁波测量装置还具备：光波长滤波器，其接收从所述电光探针输出的光；以及受光元...
【专利技术属性】
技术研发人员：久武信太郎，
申请(专利权)人：国立大学法人大阪大学，
类型：发明
国别省市：日本,JP
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