光学测定系统、光学单元以及光学测定方法技术方案

技术编号:22392283 阅读:57 留言:0更新日期:2019-10-29 07:55
本发明专利技术的目的在于新提供一种适合于核酸、蛋白质等的光学测定的光学测定系统等。本发明专利技术的第一观点是一种光学测定系统,进行试样的光学测定,其中,该光学测定系统具备:光学单元,具有用于保持所述试样的中空部;以及光源部,向所述光学单元照射包含第一光与第二光的宽频带光,所述光学单元具有:第一导光路,通过与所述第二光相比更使所述第一光透过的第一透过部及所述中空部,不通过与所述第一光相比更使所述第二光透过的第二透过部;以及第二导光路,独立于所述第一导光路,通过所述第二透过部及所述中空部,不通过所述第一透过部。

Optical measurement system, optical unit and optical measurement method

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光学测定系统、光学单元以及光学测定方法
本专利技术涉及进行试样的光学测定的光学测定系统、光学单元以及光学测定方法。
技术介绍
在生命科学领域,对使用了紫外线(以下,也称为UV光)的光分析的需求较大。作为使用了UV光的光分析法,有吸光度测定法、光(激光)诱导荧光测定法等。例如,也能够通过使用了UV光的吸光度测定来测定核酸的纯度。DNA、RNA、寡核苷酸等核酸很好地吸收260nm附近的UV光。这源于构成它们的四个种类的各碱基(腺嘌呤、鸟嘌呤、胞嘧啶、胸腺嘧啶)的最大吸收波长在250~270nm的波长区域内。另外,蛋白质很好地吸收波长280nm附近的UV光。这源于蛋白质中的氨基酸中的色氨酸·酪氨酸·苯丙氨酸的芳香族的苯环在该附近具有吸收峰值。因此,能够将260nm与280nm的吸光度之比(A260/A280)设为核酸试样的纯度的指标。在核酸试样中混入有蛋白质的情况下,由于也很好地吸收280nm的光,因此A260/A280的值变低。作为A260/A280的值的判断基准,若在DNA的情况下为1.8以上、在RNA的情况下为2.0以上,则判断为纯度高。通常,核酸、蛋白质等的试样大多为微量。因此,作为能够进行体积为微升级别的微量试样(液体)的光学测定的方法·装置,已知有对利用表面张力保持为圆筒状的试样进行光测定的方法·装置(专利文献1以及2)。通过使用这种装置,能够在不将试样保持在光学单元的情况下,进行使用了紫外线的光学测定。现有技术文献专利文献专利文献1:日本专利第4982386号公报专利文献2:日本特开2009-530642号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题然而,在使用专利文献1或2所公开的技术进行光测定的情况下,需要在每次测定时使用移液管向装置的测定部供给试样。即,无法预先准备测定试样。本专利技术是鉴于上述的情况而完成的,目的在于新提供一种适合核酸、蛋白质等的光学测定的光学测定系统等。用于解决课题的手段本专利技术的第一观点是一种光学测定系统,进行试样的光学测定,其中,该光学测定系统具备:光学单元,具有用于保持所述试样的中空部;以及光源部,向所述光学单元照射包含第一光与第二光的宽频带光,所述光学单元具有:第一导光路,通过与所述第二光相比更使所述第一光透过的第一透过部及所述中空部,不通过与所述第一光相比更使所述第二光透过的第二透过部;以及第二导光路,独立于所述第一导光路,通过所述第二透过部及所述中空部,不通过所述第一透过部。本专利技术的第二观点是第一观点的光学测定系统,其中,所述光学单元在包围所述中空部的周壁部的一部分,具有:双透过部,使所述第一光及所述第二光透过;所述第一透过部;以及所述第二透过部,所述第一导光路从所述光源部的方向依次通过所述第一透过部、所述中空部以及所述双透过部,所述第二导光路从所述光源部的方向依次通过所述第二透过部、所述中空部以及所述双透过部。本专利技术的第三观点是第一观点的光学测定系统,其中,所述光学单元在包围所述中空部的周壁部的一部分,具有将所述中空部与外部连接的第一孔以及第二孔,所述第一导光路从所述光源部的方向依次通过所述第一孔、所述中空部以及所述第一透过部,所述第二导光路从所述光源部的方向依次通过所述第二孔、所述中空部以及所述第二透过部。本专利技术的第四观点是第一~三任一观点的光学测定系统,其中,所述光学单元还具有:与所述中空部不同的第一参照中空部;与所述中空部和所述第一参照中空部均不同的第二参照中空部;与所述第一透过部不同的第一参照透过部,与所述第二光相比更使所述第一光透过;与所述第二透过部不同的第二参照透过部,与所述第一光相比更使所述第二光透过;第一参照导光路,光路长与所述第一导光路的光路长相同;以及第二参照导光路,光路长与所述第二导光路的光路长相同,所述第一参照导光路通过所述第一参照中空部与所述第一参照透过部,所述第二参照导光路通过所述第二参照中空部与所述第一参照透过部,光在所述第一透过部之中通过的距离与光在所述第一参照透过部之中通过的距离相同,光在所述第二透过部之中通过的距离与光在所述第二参照透过部之中通过的距离相同。本专利技术的第五观点是第一~四任一观点的光学测定系统,其中,在所述光源部与检测来自所述光学单元的光的光检测部之间具备光挡板,该光挡板对使光通过还是将光遮挡进行控制。本专利技术的第六观点是第一~五任一观点的光学测定系统,其中,所述第一光是260nm波长的光,所述第二光是280nm波长的光。本专利技术的第七观点是一种光学单元,具有用于保持光学测定对象的试样的中空部,其中,该光学单元具备:第一导光路,通过与第二光相比更使第一光透过的第一透过部及所述中空部,不通过与所述第一光相比更使所述第二光透过的第二透过部;以及第二导光路,通过所述第二波长透过部及所述中空部,不通过所述第一波长透过部。本专利技术的第八观点是一种光学测定方法,在光学测定系统中进行试样的光学测定,其中,所述光学测定系统具备:光学单元,具有用于保持所述试样的中空部;光源部,对所述光学单元照射包含第一光与第二光的宽频带光;光检测部,检测来自所述光学单元的光;第一导光路,通过与所述第二光相比更使所述第一光透过的第一透过部及所述中空部,不通过与所述第一光相比更使所述第二光透过的第二透过部;以及第二导光路,独立于所述第一导光路,通过所述第二透过部及所述中空部,不通过所述第一透过部,该光学测定方法包括检测步骤,所述光检测部独立地检测通过所述第一导光路的光与通过所述第二导光路的光。专利技术效果根据本专利技术的各观点,能够对相同的光学单元中的试样照射来自同一光源的光,获得双波长下的光学测定结果。由此,例如在DNA纯度测定等需要对少量的试样进行双波长下的光学测定的情况下有用。另外,试样并不是注入到光学测定装置自身,而是注入到光学单元的中空部,因此若事先准备多个光学单元,则能够集中进行多个试样的注入作业。由此,相比于在每次光学测定时都需要进行注入操作的情况,能够减轻用户的作业负担。另外,在专利文献1或2所记载的光测定装置中,由于试样的露出面积广,因此存在因试样的蒸发而浓度发生变动的隐患。另外,在光学测定中,通过试样的通过光的光路不断变化,可能难以进行稳定的光学测定。对此,在本专利技术中,由于向光学单元的中空部中注入试样,因此即使试样的量较少也几乎没有蒸发的影响,能够进行稳定的光学测定。另外,在专利文献1或2所记载的光测定装置中,在实施多次测定的情况下,每当测定结束时,都需要擦拭测定部的试样。因此,第二次以后的测定存在因前次的试样的混入而导致的浓度变动、试样污染的隐患。对此,在本专利技术中,只要更换光学单元即可,因此容易防止试样的浓度变动以及污染。根据本专利技术的第二及第三观点,能够不变更光源部以及光检测部的设定,而仅通过更换为具有不同的波长透过部的光学单元来变更测定波长。另外,由于在光学单元自身设有第一波长透过部以及第二波长透过部,因此在构成光学测定系统的光学测定装置中不需要衍射光栅等具有分光功能或者波长选择性的光学元件。由此,也能够实现光学测定装置的小型化。另外,若将本专利技术的第三观点与第二观点进行比较,则不需要双透过部。由此,能够延长在第一导光路以及第二导光路中光通过试样中的距离、和/或实现光学单元的小型化。根据本专利技术的第四观点,在设置了注入有试样的光学单元的状态下,本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学测定系统,进行试样的光学测定,其中,该光学测定系统具备:光学单元,具有用于保持所述试样的中空部;以及光源部,向所述光学单元照射包括第一光和第二光的宽频带光,所述光学单元具有:第一导光路,通过与所述第二光相比更使所述第一光透过的第一透过部及所述中空部,不通过与所述第一光相比更使所述第二光透过的第二透过部;以及第二导光路,独立于所述第一导光路,通过所述第二透过部及所述中空部,不通过所述第一透过部。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.03.03 JP 2017-0411191.一种光学测定系统,进行试样的光学测定,其中,该光学测定系统具备:光学单元,具有用于保持所述试样的中空部;以及光源部,向所述光学单元照射包括第一光和第二光的宽频带光,所述光学单元具有:第一导光路,通过与所述第二光相比更使所述第一光透过的第一透过部及所述中空部,不通过与所述第一光相比更使所述第二光透过的第二透过部;以及第二导光路,独立于所述第一导光路,通过所述第二透过部及所述中空部,不通过所述第一透过部。2.如权利要求1所述的光学测定系统,其中,所述光学单元在包围所述中空部的周壁部的一部分具有:双透过部,使所述第一光及所述第二光透过;所述第一透过部;以及所述第二透过部,所述第一导光路从所述光源部的方向依次通过所述第一透过部、所述中空部以及所述双透过部,所述第二导光路从所述光源部的方向依次通过所述第二透过部、所述中空部以及所述双透过部。3.如权利要求1所述的光学测定系统,其中,所述光学单元在包围所述中空部的周壁部的一部分,具有将所述中空部与外部连接的第一孔以及第二孔,所述第一导光路从所述光源部的方向依次通过所述第一孔、所述中空部以及所述第一透过部,所述第二导光路从所述光源部的方向依次通过所述第二孔、所述中空部以及所述第二透过部。4.如权利要求1~3的任一项所述的光学测定系统,其中,所述光学单元还具有:与所述中空部不同的第一参照中空部;与所述中空部和所述第一参照中空部均不同的第二参照中空部;与所述第一透过部不同的第一参照透过部,与所述第二光相比更使所述第一光透过;与所述第二透过部不同的第二参照透过部,与所述第一光相比更使所述第二光透过;第一参照...

【专利技术属性】
技术研发人员:中岛雄太森田金市
申请(专利权)人:国立大学法人熊本大学优志旺电机株式会社
类型:发明
国别省市:日本,JP

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