一种半导体测试分选机阻挡机构制造技术

本实用新型专利技术涉及半导体加工设备技术领域，具体涉及一种半导体测试分选机阻挡机构，包括阻挡条、滑动块、立柱、连接杆、浮动支架、气缸，滑动块固接在阻挡条两端；立柱穿透滑动块且能自由滑动，连接杆上端铰接在滑动块上，其下端水平固接有短轴；浮动支架由两端的倾斜段、中部水平段组成，倾斜段上沿其长度方向设有供短轴插合的腰型槽。本实用新型专利技术通过气缸的动作，驱动浮动支架移动，短轴在腰型槽内滑动，通过腰型槽内壁抵顶短轴，使连接杆驱动滑动块在立柱上滑动，从而驱动阻挡条移动，使阻挡条的移动过程更稳定、顺畅，同时由于只设置一个气缸，减少了成本、避免卡料现象发生。

A Blocking Mechanism of Semiconductor Test Sorter

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试分选机阻挡机构
本技术涉及半导体加工设备
，具体涉及一种半导体测试分选机阻挡机构。
技术介绍
中国专利CN201720946348.9公开了一种半导体测试分选机用的阻挡装置,一种半导体测试分选机用的阻挡装置，包括阻挡条，在所述阻挡条的左右两末端分别设置杠杆和连接块，所述连接块与所述阻挡条的末端固定连接，所述杠杆设置在支架上，所述杠杆的一端抵住所述连接块的上端面，所述杠杆的另一端与气缸连接；在所述连接块的一侧设置导向块，所述连接块与所述导向块滑动连接，在连接块和导向块之间设置压簧，通过两个气缸同时动作，驱动阻挡条移动，设置两个气缸，实际作业过程中，由于两个气缸磨损程度不同，造成气缸动作不同步，此时阻挡条将产生倾斜，造成卡料现象。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术中存在的问题，提供一种半导体测试分选机阻挡机构，它可以实现提高阻挡条移动的稳定性、避免卡料发生。为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本技术是通过以下技术方案实现的：一种半导体测试分选机阻挡机构，包括阻挡条，还包括：滑动块，所述滑动块设有两个，分别固接在所述阻挡条两端；立柱，所述立柱穿透滑动块且能自由滑动，其长度方向与所述阻挡条厚度方向平行；连接杆，所述连接杆上端铰接在滑动块上，其下端水平固接有短轴；浮动支架，所述浮动支架由两端的倾斜段、中部水平段组成，所述倾斜段上沿其长度方向设有供短轴插合的腰型槽，所述短轴在腰型槽内能自由滑动；气缸，所述气缸伸缩杆连接在水平段上且其驱动浮动支架竖直移动。进一步地，所述气缸连接在水平段中部位置上。进一步地，所述短轴上套设有滚动轴承，所述滚动轴承卡合在腰型槽内。进一步地，两个所述倾斜段夹角定义为A，90°＜A＜120°。进一步地，所述浮动支架竖直移动的驱动形式包括但不限定于使用气缸。本技术的有益效果：通过气缸的动作，驱动浮动支架移动，短轴在腰型槽内滑动，通过腰型槽内壁抵顶短轴，使连接杆驱动滑动块在立柱上滑动，从而驱动阻挡条移动，使阻挡条的移动过程更稳定、顺畅，同时由于只设置一个气缸，减少了成本、避免卡料现象发生。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术的结构示意图；图2为本技术使用状态的结构示意图；附图中，各标号所代表的部件如下：1-阻挡条，2-滑动块，3-立柱，4-连接杆，5-短轴，6-浮动支架，7-倾斜段，8-水平段，9-腰型槽，10-气缸，11-滚动轴承，12-导轨，13-半导体元件，14-梭子，15-电机，16-皮带，17-分选桶。具体实施方式为了使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。如图1-2所示的一种半导体测试分选机阻挡机构，包括阻挡条1，还包括：滑动块2，所述滑动块2设有两个，分别固接在所述阻挡条1两端；立柱3，所述立柱3穿透滑动块2且能自由滑动，其长度方向与所述阻挡条1厚度方向平行；连接杆4，所述连接杆4上端铰接在滑动块2上，其下端水平固接有短轴5；浮动支架6，所述浮动支架6由两端的倾斜段7、中部水平段8组成，所述倾斜段7上沿其长度方向设有供短轴5插合的腰型槽9，所述短轴5在腰型槽9内能自由滑动；气缸10，所述气缸10伸缩杆连接在水平段8上且其驱动浮动支架6竖直移动，气缸10安装在外部半导体测试分选机上，并由外部控制器控制器动作。所述气缸10连接在水平段8中部位置上，减少水平段8上的应力集中。所述短轴5上套设有滚动轴承11，所述滚动轴承11卡合在腰型槽9内，通过滚动轴承11在腰型槽9内滚动，取代短轴5在腰型槽9内滑动，减少了短轴5的磨损，提高使用寿命。两个所述倾斜段7夹角定义为A，90°＜A＜120°，减少短轴5在腰型槽9内滑动时的阻力。所述浮动支架6竖直移动的驱动形式包括但不限定于使用气缸，当然也可设置为电动伸缩杆。本技术在使用时：半导体元件13由半导体测试分选机的导轨12滑落至梭子14中，梭子14通过电机15、皮带16的传动进行左右移动，再次过程中，阻挡条1挡住梭子14下方的出口，然后梭子14移动至对应的分选桶17上方时，气缸10动作，驱动浮动支架6移动，短轴5在腰型槽9内壁的抵顶作用下，使连接杆4驱动滑动块2在立柱3上滑动，从而使阻挡条1移动，使半导体元件13落入其下方的分选桶17内，完成分选作业，最后气缸10复位，驱动阻挡条1继续挡住梭子14下方出口，开始下个作业循环。以上公开的本技术优选实施例只是用于帮助阐述本技术。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该技术仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本技术的原理和实际应用，从而使所属
技术人员能很好地理解和利用本技术。本技术仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体测试分选机阻挡机构，包括阻挡条(1)，其特征在于，还包括：滑动块(2)，所述滑动块(2)设有两个，分别固接在所述阻挡条(1)两端；立柱(3)，所述立柱(3)穿透滑动块(2)且能自由滑动，其长度方向与所述阻挡条(1)厚度方向平行；连接杆(4)，所述连接杆(4)上端铰接在滑动块(2)上，其下端水平固接有短轴(5)；浮动支架(6)，所述浮动支架(6)由两端的倾斜段(7)、中部水平段(8)组成，所述倾斜段(7)上沿其长度方向设有供短轴(5)插合的腰型槽(9)，所述短轴(5)在腰型槽(9)内能自由滑动；气缸(10)，所述气缸(10)伸缩杆连接在水平段(8)上且其驱动浮动支架(6)竖直移动。

【技术特征摘要】
1.一种半导体测试分选机阻挡机构，包括阻挡条(1)，其特征在于，还包括：滑动块(2)，所述滑动块(2)设有两个，分别固接在所述阻挡条(1)两端；立柱(3)，所述立柱(3)穿透滑动块(2)且能自由滑动，其长度方向与所述阻挡条(1)厚度方向平行；连接杆(4)，所述连接杆(4)上端铰接在滑动块(2)上，其下端水平固接有短轴(5)；浮动支架(6)，所述浮动支架(6)由两端的倾斜段(7)、中部水平段(8)组成，所述倾斜段(7)上沿其长度方向设有供短轴(5)插合的腰型槽(9)，所述短轴(5)在腰型槽(9)内能自由滑动；气缸(10)，所述气缸(10)伸缩杆连接在...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭勇，
申请(专利权)人：合肥市华达半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽,34