一种信源解码芯片的金属绝缘测试针架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种信源解码芯片的金属绝缘测试针架，包括针架主体，所述针架主体的内部开设有多个竖槽，且竖槽下端内部安装有下绝缘电抗控制圈，竖槽上端内部安装有线圈弧A与线圈弧B，且所述线圈弧B与线圈弧A对称安置，所述针架主体的内部开设有活动槽，所述线圈弧A处于活动槽的内部，所述活动槽的内部还安装有复位弹簧，所述复位弹簧的一端与线圈弧A连接，另一端与活动槽的外端壁连接；通过设计的上绝缘电抗控制圈分为线圈弧A与线圈弧B，且线圈弧B固定不动，线圈弧A可以调节位置，待探针穿过线圈弧B的内侧，调节栓推着线圈弧A向线圈弧B移动直接贴合对探针夹固即可，便于探针的安装。

【技术实现步骤摘要】
一种信源解码芯片的金属绝缘测试针架
本技术属于测试针架
，具体涉及一种信源解码芯片的金属绝缘测试针架。
技术介绍
在半导体制造行业中，半导体芯片需进行电性能测试，以检验芯片是否满足电气性能的要求。在芯片测试过程中电流和信号需通过电子连接件实现芯片和测试线路板之间连接与传输，芯片测试机架是整个测试系统中不可缺少的一种连接测试装置；经查，专利公开号：CN204925183U，公开了一种半导体芯片测试针架，包括针架主体、一个或者多个信号传输探针、探针托板、上绝缘电抗控制圈、绝缘电抗控制圈，其中针架主体、探针托板均为金属材质，并在该金属材质的表面设置有绝缘层；针架主体、探针托板上均设置有至少一个用于固定信号传输探针的信号针穴，在针架主体的信号针穴上部和探针托板的信号针穴下部之间设有绝缘电抗控制圈，绝缘电抗控制圈包括上绝缘电抗控制圈和下绝缘电抗控制圈，上绝缘电抗控制圈固化在针架主体的上端，下绝缘电抗控制圈固化在探针托板的下端。本技术使信号传输探针的芯片接触点及测试线路板接触点之间保持同轴结构，以改善其在测试过程中的电性能的损耗从而保证超高频的芯片的测试；但是该装置的上绝缘电抗控制圈的内径不便，而探针下端半径大于上端，导致探针不能穿过上绝缘电抗控制圈，探针安装不便的问题，为此我们提出一种信源解码芯片的金属绝缘测试针架。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种信源解码芯片的金属绝缘测试针架，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种信源解码芯片的金属绝缘测试针架，包括针架主体，所述针架主体的内部开设有多个竖槽，且竖槽下端内部安装有下绝缘电抗控制圈，竖槽上端内部安装有线圈弧A与线圈弧B，且所述线圈弧B与线圈弧A对称安置，所述针架主体的内部开设有活动槽，所述线圈弧A处于活动槽的内部，所述活动槽的内部还安装有复位弹簧，所述复位弹簧的一端与线圈弧A连接，另一端与活动槽的外端壁连接，所述针架主体的内部对应活动槽的位置螺接有调节栓，所述调节栓的内端固定连接有绝缘柱，且所述调节栓的内端穿过复位弹簧，所述绝缘柱的端部开设有多个珠槽，任意所述珠槽的内部均安装有滚珠。优选的，所述针架主体的上部安装有芯片主体，所述芯片主体的下部安装有探针端座，所述探针端座的下部安装有上半针杆，所述上半针杆处于线圈弧A与线圈弧B之间，所述上半针杆的下端安装有下半针杆，且所述下半针杆的下端处于下绝缘电抗控制圈内部。优选的，所述绝缘柱与调节栓强胶粘合固定，所述滚珠与线圈弧A相接触。优选的，所述线圈弧A与线圈弧B内侧面相吻合，靠近贴合组成上绝缘电抗控制圈。优选的，所述针架主体的上部开设有与探针端座配合使用的圆槽，所述下半针杆大于上半针杆的半径。优选的，所述调节栓为一种木质构件，且所述调节栓的外侧面开设有螺纹。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1.本技术中，通过设计的上绝缘电抗控制圈分为线圈弧A与线圈弧B，且线圈弧B固定不动，线圈弧A可以调节位置，待探针穿过线圈弧B的内侧，调节栓推着线圈弧A向线圈弧B移动直接贴合对探针夹固即可，便于探针的安装。2.本技术中，通过设计在调节栓端部的滚珠，在调节栓接触线圈弧A转动时，滚珠可以滚动，降低线圈弧A与调节栓之间的摩擦力，使得调节栓转动更加省力。附图说明图1为本技术的正剖结构示意图；图2为本技术的上绝缘电抗控制圈组成结构示意图；图3为本技术的调节栓整体结构示意图。图中：1、芯片主体；2、探针端座；3、线圈弧A；4、上半针杆；5、下半针杆；6、针架主体；7、下绝缘电抗控制圈；8、复位弹簧；9、调节栓；10、活动槽；11、线圈弧B；12、绝缘柱；13、滚珠；14、珠槽。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1至图3，本技术提供一种技术方案：一种信源解码芯片的金属绝缘测试针架，包括针架主体6，针架主体6的内部开设有多个竖槽，且竖槽下端内部安装有下绝缘电抗控制圈7，竖槽上端内部安装有线圈弧A3与线圈弧B11，且线圈弧B11与线圈弧A3对称安置，针架主体6的内部开设有活动槽10，线圈弧A3处于活动槽10的内部，活动槽10的内部还安装有复位弹簧8，复位弹簧8的一端与线圈弧A3连接，另一端与活动槽10的外端壁连接，针架主体6的内部对应活动槽10的位置螺接有调节栓9，调节栓9的内端固定连接有绝缘柱12，且调节栓9的内端穿过复位弹簧8，使得探针沿着竖槽插入，直至下半针杆5的下端插入下绝缘电抗控制圈7的内部，这时上半针杆4会处于线圈弧A3与线圈弧B11之间，而线圈弧B11固定不动，这时旋转调节栓9靠近线圈弧A3移动，直至绝缘柱12抵着线圈弧A3靠近线圈弧B11移动，线圈弧A3与线圈弧B11完全贴合即完成对上半针杆4的夹持，探针即安装完成，绝缘柱12的端部开设有多个珠槽14，任意珠槽14的内部均安装有滚珠13。进一步地，针架主体6的上部安装有芯片主体1，芯片主体1的下部安装有探针端座2，探针端座2的下部安装有上半针杆4，上半针杆4处于线圈弧A3与线圈弧B11之间，上半针杆4的下端安装有下半针杆5，且下半针杆5的下端处于下绝缘电抗控制圈7内部。进一步地，绝缘柱12与调节栓9强胶粘合固定，滚珠13与线圈弧A3相接触，绝缘柱12转动时滚珠13贴着线圈弧A3的外壁滚动，降低绝缘柱12与线圈弧A3的摩擦，使得调节栓9转动更加省力。进一步地，线圈弧A3与线圈弧B11内侧面相吻合，靠近贴合组成上绝缘电抗控制圈。进一步地，针架主体6的上部开设有与探针端座2配合使用的圆槽，下半针杆5大于上半针杆4的半径。进一步地，调节栓9为一种木质构件，且调节栓9的外侧面开设有螺纹，使得调节栓9绝缘，操作更加安全。本技术的工作原理及使用流程：在探针安装前，线圈弧A3远离线圈弧B11，这时使得探针沿着竖槽插入，直至下半针杆5的下端插入下绝缘电抗控制圈7的内部，这时上半针杆4会处于线圈弧A3与线圈弧B11之间，而线圈弧B11固定不动，这时旋转调节栓9靠近线圈弧A3移动，直至绝缘柱12抵着线圈弧A3靠近线圈弧B11移动，线圈弧A3与线圈弧B11完全贴合即完成对上半针杆4的夹持，探针即安装完成，而复位弹簧8会被拉伸，同时绝缘柱12转动时滚珠13贴着线圈弧A3的外壁滚动，降低绝缘柱12与线圈弧A3的摩擦，使得调节栓9转动更加省力。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种信源解码芯片的金属绝缘测试针架，包括针架主体(6)，其特征在于：所述针架主体(6)的内部开设有多个竖槽，且竖槽下端内部安装有下绝缘电抗控制圈(7)，竖槽上端内部安装有线圈弧A(3)与线圈弧B(11)，且所述线圈弧B(11)与线圈弧A(3)对称安置，所述针架主体(6)的内部开设有活动槽(10)，所述线圈弧A(3)处于活动槽(10)的内部，所述活动槽(10)的内部还安装有复位弹簧(8)，所述复位弹簧(8)的一端与线圈弧A(3)连接，另一端与活动槽(10)的外端壁连接，所述针架主体(6)的内部对应活动槽(10)的位置螺接有调节栓(9)，所述调节栓(9)的内端固定连接有绝缘柱(12)，且所述调节栓(9)的内端穿过复位弹簧(8)，所述绝缘柱(12)的端部开设有多个珠槽(14)，任意所述珠槽(14)的内部均安装有滚珠(13)。/n

【技术特征摘要】
1.一种信源解码芯片的金属绝缘测试针架，包括针架主体(6)，其特征在于：所述针架主体(6)的内部开设有多个竖槽，且竖槽下端内部安装有下绝缘电抗控制圈(7)，竖槽上端内部安装有线圈弧A(3)与线圈弧B(11)，且所述线圈弧B(11)与线圈弧A(3)对称安置，所述针架主体(6)的内部开设有活动槽(10)，所述线圈弧A(3)处于活动槽(10)的内部，所述活动槽(10)的内部还安装有复位弹簧(8)，所述复位弹簧(8)的一端与线圈弧A(3)连接，另一端与活动槽(10)的外端壁连接，所述针架主体(6)的内部对应活动槽(10)的位置螺接有调节栓(9)，所述调节栓(9)的内端固定连接有绝缘柱(12)，且所述调节栓(9)的内端穿过复位弹簧(8)，所述绝缘柱(12)的端部开设有多个珠槽(14)，任意所述珠槽(14)的内部均安装有滚珠(13)。


2.根据权利要求1所述的一种信源解码芯片的金属绝缘测试针架，其特征在于：所述针架主体(6)的上部安装有芯片主体(1)，所述芯片主体(1)的下部安装有探针端座(2)，所述探针...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭勇，
申请(专利权)人：合肥市华达半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽;34