【技术实现步骤摘要】
GaN高温功能试验系统
本技术涉及试验设备
,具体是GaN高温功能试验系统。
技术介绍
在GaN器件的生产领域,为保证器件的可靠性,厂家在器件出厂前会采用一系列可靠性试验进行检测、筛选,针对器件不同的使用环境,采用的可靠性试验的种类、条件也会有所差异,对于GaN器件来说,高温功能试验,是器件出厂前必做的试验之一,该试验对剔除具有表面效应缺陷的早期失效器件特别有效,这些器件的失效与时间和应力有关,如未经该试验,这些器件在正常的使用条件下会发生早期失效,此外,该试验还能揭示与时间和应力有关的电气失效模式,对于器件可靠性的保证有着重要作用,该试验需要通过专门的高温功能试验系统完成,但现有的高温功能试验系统存在一些不足,比如烘箱数量较少,在产品研发阶段不能做不同温度下的参数试验,比如不能配置不同的驱动板以检测不同的器件或者参数,这些不足显然不利于对器件可靠性的精确检测,同时也限制了高温功能试验系统使用的灵活性,对于厂家来说,更重要的在于,如果想要对器件做不同温度下的参数试验,或者想要借助高温功能试验系统检测不同的器件或者参数, ...
【技术保护点】
1.GaN高温功能试验系统,包括柜体(1),所述柜体(1)底部四个角的位置设置柜脚(5),其特征在于:所述柜体(1)中部设置操作台(7),所述操作台(7)上方设置工业控制计算机(8),所述工业控制计算机(8)上方横向并排设置开始按钮(14)、停止按钮(13),所述工业控制计算机(8)两侧均设置烘箱(2),所述烘箱(2)下方设置电源(4),所述电源(4)与所述工业控制计算机(8)电性连接,所述烘箱(2)与所述电源(4)、所述工业控制计算机(8)均电性连接,所述开始按钮(14)、停止按钮(13)与所述电源(4)、所述工业控制计算机(8)均电性连接,所述烘箱(2)的数量为4个,所 ...
【技术特征摘要】
1.GaN高温功能试验系统,包括柜体(1),所述柜体(1)底部四个角的位置设置柜脚(5),其特征在于:所述柜体(1)中部设置操作台(7),所述操作台(7)上方设置工业控制计算机(8),所述工业控制计算机(8)上方横向并排设置开始按钮(14)、停止按钮(13),所述工业控制计算机(8)两侧均设置烘箱(2),所述烘箱(2)下方设置电源(4),所述电源(4)与所述工业控制计算机(8)电性连接,所述烘箱(2)与所述电源(4)、所述工业控制计算机(8)均电性连接,所述开始按钮(14)、停止按钮(13)与所述电源(4)、所述工业控制计算机(8)均电性连接,所述烘箱(2)的数量为4个,所述工业控制计算机(8)两侧分别纵向设置2个烘箱(2),4个所述烘箱(2)内部设置四种不同温度。
2.根据权利要求1所述的GaN高温功能试验系统,其特征在于,同侧所述烘箱(2)之间设置测试柜(3)。
3.根据权利要求1所述的GaN高温功能试验系统,其特征在于,所述电源(4)的数量为2组,2组所述电源(4)分别设置于所述工业控制计算机(...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡久恒,
申请(专利权)人:杭州高坤电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:浙江;33
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