X射线产生装置和X射线分析装置制造方法及图纸

技术编号:22078877 阅读:29 留言:0更新日期:2019-09-12 15:14
本发明专利技术提供一种X射线产生装置和X射线分析装置,其能够利用简单的结构来实现电子束尺寸小的聚焦X射线电子束。X射线产生装置具备:线状X射线源;多层膜镜;以及并排反射镜,其以2片凹面镜共用接合线的方式彼此接合,所述X射线产生装置的特征在于,多层膜镜的反射面的截面具有抛物线形状,并且该抛物线形状的焦点位于线状X射线源,并排反射镜的2片凹面镜的反射面的截面各自具有抛物线形状,并且该抛物线形状的焦点分别位于多层膜镜的相反侧,在俯视观察下,所述并排反射镜的接合线的延长线贯穿多层膜镜以及线状X射线源。

X-ray Generator and X-ray Analysis Device

【技术实现步骤摘要】
X射线产生装置和X射线分析装置
本专利技术涉及一种X射线产生装置和X射线分析装置,尤其涉及一种提供聚焦X射线电子束的技术。
技术介绍
目前,正在使用能够使电子束尺寸小的聚焦X射线电子束照射到所期望的位置(例如供试料配置的位置)的X射线产生装置。日本特表2015-520384号公报公开了一种双模式散射或衍射系统。如日本特表2015-520384号公报的图3A所记载的那样,放射线源214为射线放射源,来自放射线源214的X射线电子束通过光圈236的第2开口,与KB光学系统的第1表面222以及第2表面224双方彼此作用,例如形成了成为点电子束的2维电子束232。日本特表2015-522809号公报的图1中记载了2维动作模式下的双模式小角X射线散射系统。日本特开2008-96180号公报中公开了一种使用聚毛细管36可获得点状X射线电子束的X射线光学系统。在该X射线光学系统中,可实现获得截面聚焦为点状的聚焦电子束的第3状态。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特表2015-520384号公报专利文献2:日本特表2015-522809号公报专利文献3:日本特开2008-96180号公报专利技术内本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X射线产生装置,具备:线状X射线源;多层膜镜;以及并排反射镜,其以2片凹面镜共用接合线的方式彼此接合,所述X射线产生装置的特征在于,所述多层膜镜的反射面的截面具有抛物线形状,并且该抛物线形状的焦点位于所述线状X射线源,所述并排反射镜的2片凹面镜的反射面的截面各自具有抛物线形状,并且该抛物线形状的焦点分别位于所述多层膜镜的相反侧。

【技术特征摘要】
2018.03.01 JP 2018-0362081.一种X射线产生装置,具备:线状X射线源;多层膜镜;以及并排反射镜,其以2片凹面镜共用接合线的方式彼此接合,所述X射线产生装置的特征在于,所述多层膜镜的反射面的截面具有抛物线形状,并且该抛物线形状的焦点位于所述线状X射线源,所述并排反射镜的2片凹面镜的反射面的截面各自具有抛物线形状,并且该抛物线形状的焦点分别位于所述多层膜镜的相反侧。2.根据权利要求1所述的X射线产生装置,其特征在于,在俯视观察下,所述并排反射镜的接合线的延长线贯穿多层膜镜以及线状X射线源。3.根据权利要求1所述的X射线产生装置,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:表和彦刑部刚小泽哲也姜立才鲍里斯·韦尔曼
申请(专利权)人:株式会社理学
类型:发明
国别省市:日本,JP

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1