【技术实现步骤摘要】
基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法
本专利技术涉及光谱检测
,提出一种基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法。
技术介绍
太赫兹拉曼光谱(THz-Ramanspectroscopy)又称低波数拉曼光谱,通常包含的频谱范围为±5cm-1-200cm-1,对应分子间/分子内的振动频率为0.15THz-6THz,包括声子振动、晶格振动和分子转动等模式,是一种发展潜力巨大的光谱表征技术。拉曼光谱技术伴随着上世纪60年代激光技术的发展已经取得了跨越发展,成功运用在化学、物理学、生物学和医学等领域,在定性分析、高度定量分析和结构表征等方面具有很大价值。但是该技术向低波数扩展构建太赫兹拉曼光谱时,遇到了极大的困难,究其原因主要是缺乏精确滤除激发激光的窄带滤光器件,使其频谱范围通常在200cm-1以上。近年来随着基于布拉格光栅的陷波滤波片的出现,其带宽通常可以达到5-10cm-1,使其可以对低波数的斯托克斯光谱线和反斯托克斯光谱线同时测量,但是其多采用连续激光作为激发光源,信噪比普遍较低且工作时需要利用液氮等各种手段对探测器进行人工制冷,操作繁琐 ...
【技术保护点】
1.一种基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,运行太赫兹拉曼光谱系统,利用激发光源产生的激光与样品相互作用激发产生散射光,并收集部分散射光;步骤2,滤除散射光中与激发激光相同频率的瑞利散射成分,保留与激发激光不同频率的太赫兹拉曼散射成分;步骤3,探测滤除瑞利杂散光后的散射光,并基于门开关技术压制散射光信号的时域噪声;步骤4,将散射光信号进行分光,并探测分光后的散射光信号,得到能够同时探测斯托克斯光谱线和反斯托克斯光谱线的高信噪比太赫兹拉曼光谱。
【技术特征摘要】
1.一种基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,运行太赫兹拉曼光谱系统,利用激发光源产生的激光与样品相互作用激发产生散射光,并收集部分散射光;步骤2,滤除散射光中与激发激光相同频率的瑞利散射成分,保留与激发激光不同频率的太赫兹拉曼散射成分;步骤3,探测滤除瑞利杂散光后的散射光,并基于门开关技术压制散射光信号的时域噪声;步骤4,将散射光信号进行分光,并探测分光后的散射光信号,得到能够同时探测斯托克斯光谱线和反斯托克斯光谱线的高信噪比太赫兹拉曼光谱。2.根据权利要求1所述的基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法,其特征在于,在步骤2中,利用陷波滤波片滤除散射光中与激发激光相同频率的瑞利散射成分。3.根据权利要求1所述的基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法,其特征在于,步骤3中,通过装配电子快门的探测器探测滤除瑞利杂散光后的散射光...
【专利技术属性】
技术研发人员:丁洪斌,赵亚锐,冯春雷,石劼霖,吴鼎,
申请(专利权)人:大连理工大学,
类型:发明
国别省市:辽宁,21
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