深度模组的校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种深度模组的校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质，深度模组的测量方向设置有测试反射件，测试反射件与深度模组之间的距离为第一设定距离，校准步骤包括：依据第一设定距离，确定深度模组的快门开启的第一延迟时间；依据第一延迟时间，控制深度模组测量与反射件之间的距离，获得第一深度距离；选取第一设定距离范围内的第一测试点，深度模组至第一测试点之间的距离为第二设定距离；依据第二设定距离，确定深度模组的快门开启的第二延迟时间；依据第二延迟时间，控制深度模组测量与反射件之间的距离，获得第二深度距离；校准深度模组。本发明专利技术技术方案能够有效减少测试反射件的移动，提高校准效率。

Calibration Method, Device, Equipment and Computer Readable Storage Medium of Depth Module

【技术实现步骤摘要】
深度模组的校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质
本专利技术涉及深度模组校准
，特别涉及一种深度模组的校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
TOF(Timeofflight，飞行时间测距法)模组，TOF模组也称深度模组，深度模组是一种发射光脉冲，然后通过传感器记录接收从物体表面反射回的光，通过时间乘以光速计算光脉冲的往返距离，并得出与物体的距离的技术，由于生产工艺条件的限制差异，在生产制造出来的深度模组中，测量的准确性存在偏差，因此需要对深度模组进行测试校准，目前的校准方法是设置一测试面板，每次通过移动测试面板来标定深度模组的测试距离，但是待测试距离点较多，频繁移动测试面板导致测试效率降低。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提出一种深度模组的校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质，旨在解决校准深度模组的过程中，频繁移动测试面板导致测试效率降低的问题。为实现上述目的，本专利技术提出的深度模组的校准方法，所述深度模组的深度测量方向设置有测试反射件，所述测试反射件用于反射光线，所述测试反射件与所述深度模组之间的距离为第一设定距离，所述深度模组的校准步骤包括：依据所述第一设定距离，确定所述深度模组的快门开启的第一延迟时间；依据所述第一延迟时间，控制所述深度模组测量与所述反射件之间的距离，获得第一深度距离；选取所述第一设定距离范围内的第一测试点，所述深度模组至所述第一测试点之间的距离为第二设定距离；依据所述第二设定距离，确定所述深度模组的快门开启的第二延迟时间；依据所述第二延迟时间，控制所述深度模组测量与所述反射件之间的距离，获得第二深度距离；依据所述第一深度距离和所述第一设定距离，以及，所述第二深度距离和所述第二设定距离，校准所述深度模组。可选地，所述测试反射件与所述深度模组之间的距离为实际距离，所述测试反射件与所述深度模组均固定设置，所述依据所述第一设定距离，确定所述深度模组的快门开启的第一延迟时间的步骤包括：定义所述第一延迟时间为t1，所述第一设定距离为L1，所述实际距离为L，则所述依据所述第二设定距离，确定所述深度模组的快门开启的第二延迟时间的步骤包括：定义所述第二延迟时间为t2，所述第二设定距离为L2，则其中c代表光在空气中的运行速度。可选地，所述深度模组用于发射脉冲激光测量深度距离，所述深度模组包括依次开启的第一快门和第二快门，所述第一快门和所述第二快门开启时，所述深度模组接收经所述测试反射件反射回的脉冲激光，所述依据所述第二延迟时间，控制所述深度模组测量与所述反射件之间的距离，获得第二深度距离的步骤包括：依据所述第二延迟时间，控制所述深度模组的所述第一快门和所述第二快门推迟至第二延迟时间后开启；所述第一快门开启时间段内，生成第一电荷数；所述第二快门开启时间段内，生成第二电荷数；依据所述第一电荷数和所述第二电荷数，获得第二深度距离。可选地，所述依据所述第一电荷数和所述第二电荷数，获得第二深度距离的步骤包括：定义所述第一电荷数为S1，所述第二电荷数为S2，所述深度模组发射脉冲激光的时间为tp，所述第二深度距离为D2，则其中c代表光在空气中的运行速度。可选地，所述依据所述第一深度距离和所述第一设定距离，以及，所述第二深度距离和所述第二设定距离，校准所述深度模组的步骤包括：依据所述第一深度距离和所述第二深度距离，生成第一差异值；依据所述第一设定距离和所述第二设定距离，生成第二差异值；依据所述第一差异值和所述第二差异值，校准所述深度模组。可选地，所述依据所述第一差异值和所述第二差异值，校准所述深度模组的步骤包括：对比所述第一差异值和所述第二差异值，生成第一比例系数；依据所述第一比例系数，校正所述第一深度距离值，和/或，校正所述第二深度距离值。此外，为了实现上述目的，本专利技术还提供一种深度模组的校准装置，所述深度模组的深度测量方向设置有测试反射件，所述测试反射件用于反射光线，所述测试反射件与所述深度模组之间的距离为第一设定距离，所述深度模组的校准装置包括：选取模块，用于选取所述第一设定距离范围内的第一测试点，所述深度模组至所述第一测试点之间的距离为第二设定距离；计算模块，用于依据所述第一设定距离，确定所述深度模组的快门开启的第一延迟时间，以及，用于依据所述第二设定距离，确定所述深度模组的快门开启的第二延迟时间；控制模块，用于依据所述第一延迟时间，控制所述深度模组测量与所述反射件之间的距离，获得第一深度距离，以及，用于依据所述第二延迟时间，控制所述深度模组测量与所述反射件之间的距离，获得第二深度距离；校准模块，用于依据所述第一深度距离和所述第一设定距离，以及，所述第二深度距离和所述第二设定距离，校准所述深度模组。可选地，所述深度模组用于发射脉冲激光测量深度距离，所述深度模组包括依次开启的第一快门和第二快门，所述第一快门和所述第二快门开启时，所述深度模组接收经所述测试反射件反射回的脉冲激光，所述控制模块还用于依据所述第二延迟时间，控制所述深度模组的所述第一快门和所述第二快门推迟至第二延迟时间后开启；所述控制模块包括生成单元和获取单元；所述生成单元用于所述第一快门开启时间段内，生成第一电荷数，以及，所述第二快门开启时间段内，生成第二电荷数；所述获取单元用于依据所述第一电荷数和所述第二电荷数，获得第二深度距离。可选地，所述生成单元还用于依据所述第一深度距离和所述第二深度距离，生成第一差异值，以及，用于依据所述第一设定距离和所述第二设定距离，生成第二差异值；所述校准模块还用于依据所述第一差异值和所述第二差异值，校准所述深度模组。可选地，所述生成单元还用于对比所述第一差异值和所述第二差异值，生成第一比例系数；所述校准模块还用于依据所述第一比例系数，校正所述第一深度距离值，和/或，校正所述第二深度距离值。此外，为了实现上述目的，本专利技术还提供一种深度模组的校准设备，所述深度模组的校准设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的深度模组的校准程序；所述深度模组的校准程序被所述处理器执行时实现如上文所述的深度模组的校准方法的步骤。此外，为了实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有深度模组的校准程序，所述深度模组的校准程序被处理器执行时实现如上文所述的深度模组的校准方法的步骤。本专利技术技术方案设定生成第一延迟时间和第二延迟时间，分别通过第一延迟时间和第二延迟时间推迟深度模组开启快门的时间，快门推迟开启时间，光速飞行的一定距离，由于快门开启的时间推迟，深度模组测量得到的距离变短，由此可知，在不需要移动测试件的情况下，分别通过推迟快门的开启，同样能够测量在不同距离条件下深度模组和测试反射件的深度距离，由此能够避免频繁移动测试反射件，有效提高测试效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本专利技术深度模组的校准方法的第一实施例流程示意图；图2为本专利技术深度模组的校准方法的第二实施例流程示意图；图3为本专利技术深度模组的校本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种深度模组的校准方法，其特征在于，所述深度模组的深度测量方向设置有测试反射件，所述测试反射件用于反射光线，所述测试反射件与所述深度模组之间的距离为第一设定距离，所述深度模组的校准步骤包括：依据所述第一设定距离，确定所述深度模组的快门开启的第一延迟时间；依据所述第一延迟时间，控制所述深度模组测量与所述反射件之间的距离，获得第一深度距离；选取所述第一设定距离范围内的第一测试点，所述深度模组至所述第一测试点之间的距离为第二设定距离；依据所述第二设定距离，确定所述深度模组的快门开启的第二延迟时间；依据所述第二延迟时间，控制所述深度模组测量与所述反射件之间的距离，获得第二深度距离；依据所述第一深度距离和所述第一设定距离，以及，所述第二深度距离和所述第二设定距离，校准所述深度模组。

【技术特征摘要】
1.一种深度模组的校准方法，其特征在于，所述深度模组的深度测量方向设置有测试反射件，所述测试反射件用于反射光线，所述测试反射件与所述深度模组之间的距离为第一设定距离，所述深度模组的校准步骤包括：依据所述第一设定距离，确定所述深度模组的快门开启的第一延迟时间；依据所述第一延迟时间，控制所述深度模组测量与所述反射件之间的距离，获得第一深度距离；选取所述第一设定距离范围内的第一测试点，所述深度模组至所述第一测试点之间的距离为第二设定距离；依据所述第二设定距离，确定所述深度模组的快门开启的第二延迟时间；依据所述第二延迟时间，控制所述深度模组测量与所述反射件之间的距离，获得第二深度距离；依据所述第一深度距离和所述第一设定距离，以及，所述第二深度距离和所述第二设定距离，校准所述深度模组。2.如权利要求1所述的深度模组的校准方法，其特征在于，所述测试反射件与所述深度模组之间的距离为实际距离，所述测试反射件与所述深度模组均固定设置，所述依据所述第一设定距离，确定所述深度模组的快门开启的第一延迟时间的步骤包括：定义所述第一延迟时间为t1，所述第一设定距离为L1，所述实际距离为L，则所述依据所述第二设定距离，确定所述深度模组的快门开启的第二延迟时间的步骤包括：定义所述第二延迟时间为t2，所述第二设定距离为L2，则其中c代表光在空气中的运行速度。3.如权利要求1所述的深度模组的校准方法，其特征在于，所述深度模组用于发射脉冲激光测量深度距离，所述深度模组包括依次开启的第一快门和第二快门，所述第一快门和所述第二快门开启时，所述深度模组接收经所述测试反射件反射回的脉冲激光，所述依据所述第二延迟时间，控制所述深度模组测量与所述反射件之间的距离，获得第二深度距离的步骤包括：依据所述第二延迟时间，控制所述深度模组的所述第一快门和所述第二快门推迟至第二延迟时间后开启；所述第一快门开启时间段内，生成第一电荷数；所述第二快门开启时间段内，生成第二电荷数；依据所述第一电荷数和所述第二电荷数，获得第二深度距离。4.如权利要求3所述的深度模组的校准方法，其特征在于，所述依据所述第一电荷数和所述第二电荷数，获得第二深度距离的步骤包括：定义所述第一电荷数为S1，所述第二电荷数为S2，所述深度模组发射脉冲激光的时间为tp，所述第二深度距离为D2，则其中c代表光在空气中的运行速度。5.如权利要求4所述的深度模组的校准方法，其特征在于，所述依据所述第一深度距离和所述第一设定距离，以及，所述第二深度距离和所述第二设定距离，校准所述深度模组的步骤包括：依据所述第一深度距离和所述第二深度距离，生成第一差异值；依据所述第一设定距离和所述第二设定距离，生成第二差异值；依据所述第一差异值和所述第二差异值，校准所述深度模组。6.如权利要求5所述的深度模组的校准方法，其特征在于，所述依据所述第一差异值和所述第二差异值，校...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋林东，王倩，
申请(专利权)人：歌尔股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37