快速标校激光瞄准点的光学系统及激光远程异物清除仪技术方案

本实用新型专利技术涉及一种快速标校激光瞄准点的光学系统及激光远程异物清除仪，其中，所述光学系统可以利用射入成像探测器的部分激光标校激光发射瞄准点；本实用新型专利技术所提供的光学系统及激光远程异物清除仪，在进行瞄准点的标校时，不需要长距离的场地或专用的标校场地，而且标校的过程更简单、便捷，标校精度高，可以有效避免现有技术中的弊端。

Optical System for Fast Calibration of Laser Aiming Point and Laser Remote Foreign Object Clearance Instrument

【技术实现步骤摘要】
快速标校激光瞄准点的光学系统及激光远程异物清除仪
本技术涉及激光
，具体涉及一种快速标校激光瞄准点的光学系统及激光远程异物清除仪。
技术介绍
在使用激光对远距离目标进行指定点打击或清除的系统中，例如，激光远程异物清除仪等，需要对激光发射光轴和目标成像光轴之间的位置关系进行标校，即确定瞄准点，才能根据目标成像上的瞄准点，使发射的激光精确照射到指定的打击点上，击中目标。为了使发射的激光精确击中指定的打击点，现有技术中常用的标校激光发射瞄准点的方法是：模拟实际工作场景，向一定距离的目标发射激光，在目标成像传感器上，记录当前激光打击点的位置，作为当前距离对应的瞄准点。如果不同距离对应的瞄准点不同，则需要重复上述动作，分别对不同距离的目标发射激光，在目标成像传感器上，分别记录当前激光打击点的位置，作为对应距离的瞄准点。然而，现有的标校激光发射瞄准点的方法通常存在如下弊端：(1)需要根据实际场景，向一定距离的目标发射激光并在目标成像传感器上，记录打击点的位置，作为该距离对应的瞄准点。如果不同距离对应的瞄准点不同，则需要标定出不同距离对应的瞄准点。因此在实际标校操作时，不仅需要有满足距离要求的场地，而且操作麻烦、费时费力。(2)激光发射光学系统和目标成像光学系统，经历存储、运输、使用等过程，或经历震动或环境温度变化，都可能使激光发射光轴与目标成像光轴之间的相对位置关系发生变化，造成瞄准点发生偏差，甚至失效。
技术实现思路
为改善现有技术中所存在的不足，本技术提出了一种不需要场地，就能简单、快捷、精确标校瞄准点的光学系统结构。本技术所采用的技术方案是：一种快速标校激光瞄准点的光学系统，包括角反射器、分光镜、斩波器以及成像探测器，所述角反射器用于将部分激光反射入成像探测器，并在成像探测器上形成光斑，且射入成像探测器的激光的光轴与用于打击目标的激光的光轴共轴，所述成像探测器记录所述光斑的位置，并作为瞄准点；在进行标校时，斩波器打开，透过分光镜的激光全部或部分通过斩波器并射入角反射器，角反射器用于使透过分光镜的激光反射回分光镜，并经分光镜反射后，射入成像探测器，成像探测器接收经分光镜反射回来的激光并形成光斑。一种优选的方案中，所述分光镜设置于发射激光的光路上，激光经分光镜反射后输出用于打击目标的出射激光；所述斩波器和所述角反射器依次设置于分光镜的一侧，并与射向分光镜的激光相对应，斩波器用于控制透射激光是/否射入角反射器，所述透射激光为透过分光镜的激光；所述角反射器用于将透射激光反射180度，并射向分光镜；所述成像探测器设置于分光镜的一侧，并与所述出射激光相对应，成像探测器用于在标校时，接收经分光镜反射的透射激光，并用于在使用时，接收目标成像光。一种激光远程异物清除仪，包括前述光学系统，所述光学系统设置于激光发射头。优选的，所述激光发射头还包括壳体，所述光学系统设置于所述壳体内，且分光镜设置于激光的光路上。与现有技术相比，使用本技术提供的一种快速标校激光瞄准点的光学系统及激光远程异物清除仪，具有以下有益效果：1、本光学系统，在进行瞄准点的标校时，不需要长距离的场地或专用的标校场地。2、相比现有技术中常用的标校手段，本光学系统的标校的过程更简单、便捷。3、本光学系统的标校精度更高，可达微弧度量级。4、本光学系统，可以根据需要随时进行标校，尤其是在经历存储、运输、使用等过程，或经历震动或环境温度变化后，瞄准点发生偏差，甚至失效时，可以在使用之前方便、快捷的重新进行标校，从而可以有效避免现有技术中的弊端。5、本激光远程异物清除仪，包括所述光学系统，使得激光远程异物清除仪可以简单、快捷、精确的标校瞄准点。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。附图图1为本技术实施例1中提供的一种快速标校激光瞄准点的光学系统，进行标校时的光路示意图。图2为本技术实施例1中提供的一种快速标校激光瞄准点的光学系统，标校完成后，在进行瞄准时的光路示意图。图3为现有技术中常用的激光远程异物清除仪的结构示意图。图中标记说明分光镜101，斩波器102，角反射器103，成像探测器104，入射激光201，出射激光202，透射激光203，目标成像光204，激光器301，光纤302，激光发射头303。具体实施方式本技术提供了一种快速标校激光瞄准点的光学系统，该光学系统可以利用射入成像探测器的激光标校激光发射瞄准点，即可以从用于打击目标的激光束中分离出部分激光，分离出来的激光射入成像探测器，用于对发射激光的瞄准点进行标校；从而使得激光瞄准点的标校不需要特定的场地，且激光瞄准点的标校过程更加简单、快捷、精确，从而可以有效避免现有技术中的弊端。下面将结合本技术实施例中附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。实施例1如图1所示，本实施例中提供了一种快速标校激光瞄准点的光学系统，包括角反射器103，所述角反射器103用于将部分需要射出的激光反射入成像探测器104(或成像传感器)，并在成像探测器104上形成光斑，且射入成像探测器104的激光的光轴与用于打击目标的激光的光轴共轴，此时，光斑的位置即为瞄准点；因为所述射入成像探测器104的激光，在射入成像探测器104之前，激光的光路是与射出用于打击目标的激光的光路共轴，故，在成像探测器104上所形成光斑可以作为瞄准点，在标校完成之后，并在使用激光对远距离目标进行指定点打击或清除时，只需将瞄准点对准目标上需要打击的点，就可以使得激光发射光轴与目标成像光204轴重合，从而完成激光的瞄准，此时，只需发射激光，即可精确击中目标。在本实施例所提供的进一步方案中，本光学系统还包括分光镜101、斩波器102以及成像探测器104，分光镜101设置在激光的传输光路上，在进行标校时，将斩波器102打开，使得透过分光镜101的激光全部或部分通过斩波器102并射入角反射器103，角反射器103用于使透过分光镜101的激光射回分光镜101，并经分光镜101反射后，射入成像探测器104，成像探测器104接收经分光镜101反射后的激光并形成光斑，成像探测器104记录该光斑的位置，该光斑的位置即是瞄准点。如图1所示，在本实施例所提供的一种优选的方案中，分光镜101设置于发射激光的光路上，入射激光201经分光镜101反射后输出用于打击目标的出射激光202，出射激光202包括入射激光201的绝大部分能量；入射激光201的极小部分能量经分光镜101透射后用于对瞄准点进行标校。斩波器1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种快速标校激光瞄准点的光学系统，其特征在于，包括角反射器、分光镜、斩波器以及成像探测器，所述角反射器用于将部分激光反射入成像探测器，并在成像探测器上形成光斑，且射入成像探测器的激光的光轴与用于打击目标的激光的光轴共轴，所述成像探测器记录所述光斑的位置，并作为瞄准点；在进行标校时，斩波器打开，透过分光镜的激光全部或部分通过斩波器并射入角反射器，角反射器用于使透过分光镜的激光反射回分光镜，并经分光镜反射后，射入成像探测器，成像探测器接收经分光镜反射回来的激光并形成光斑。

【技术特征摘要】
1.一种快速标校激光瞄准点的光学系统，其特征在于，包括角反射器、分光镜、斩波器以及成像探测器，所述角反射器用于将部分激光反射入成像探测器，并在成像探测器上形成光斑，且射入成像探测器的激光的光轴与用于打击目标的激光的光轴共轴，所述成像探测器记录所述光斑的位置，并作为瞄准点；在进行标校时，斩波器打开，透过分光镜的激光全部或部分通过斩波器并射入角反射器，角反射器用于使透过分光镜的激光反射回分光镜，并经分光镜反射后，射入成像探测器，成像探测器接收经分光镜反射回来的激光并形成光斑。2.根据权利要求1所述的快速标校激光瞄准点的光学系统，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘岩，刘虓，周子钰，马瑞达，刘子溦，郭紫涵，杜雨珂，
申请(专利权)人：成都安的光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川,51