一种平面度测量控制方法以及设备技术

一种平面度测量控制方法以及设备，包括输送装置、沿输送装置输送方向设置的对角检测机构、横边检测机构、竖边检测机构，其特征在于对角检测机构包括位于输送装置上方的竖机架、设置在竖机架上的由动力带动以垂直于瓷砖输送方向相对移动的两对角距离检测器、对角接近开关，横边检测机构包括设置在输送装置两侧的横边距离检测器，竖边检测机构包括斜向着瓷砖输送方向且位于输送装置上方的斜机架、设置在斜机架上的由动力带动以斜向着瓷砖输送方向相对移动的两竖边距离检测器、竖边接近开关。本发明专利技术与已有技术相比，具有瓷砖传输过程中能准确进行四边及对角线检测的、检测效率高的、结构简单的优点。

A Control Method and Equipment for Flatness Measurement

【技术实现步骤摘要】
一种平面度测量控制方法以及设备
：本专利技术涉及一种陶瓷生产技术。
技术介绍
：现有的瓷片平面度检测技术是在瓷砖输送过程中分别用数个沿直线导轨移动的激光位移传感器沿瓷砖的四边及对角连续检测瓷砖表面到激光位移传感器间的距离，依据距离参数获得相应的线段，依据各线段的平直度就能获得四边表面及对角表面的平整度，依据这些平整度就能判别瓷砖的变形情况。所采用的设备如专利201410797662.6所公开的，包括第一检测机构、第二检测机构、第三检测机构，通过第一检测机构的传感器组件以相对瓷砖运行方向向前倾斜的方向从第一检测机构的一端移动到另一端的速度与瓷砖前进的速度配合，实现检测瓷砖其中一边线及对角线的检测，通过第二检测机构的两边的传感器组件对瓷砖的两边的边线进行检测，通过第三检测机构的传感器组件以相对瓷砖运行方向向后倾斜的方向从第一检测机构的一端移动到另一端的速度与瓷砖前进的速度配合，实现检测瓷砖另一边线及另一对角线的检测，此种技术，由于第一检测机构、第三检测机构的传感器组件需要折返对边线或者对角线进行检测，受折返时的时间的延误，折返的检测起点不可能在瓷砖起始检测的角上，会偏移该瓷砖起始检测的角，从而导致位置上的偏差，最终影响瓷砖的平面度的ɑ评价。为此，本专利技术人又专利技术了瓷砖停止时，对瓷砖的四边及对角线进行检测的技术，但是，由于是在停止状态下进行，因此，会影响检测效率。
技术实现思路
：本专利技术的专利技术目的在于提供一种瓷砖传输过程中能准确进行四边及对角线检测的、检测效率高的、结构简单的平面度测量控制方法以及设备。本专利技术平面度测量控制方法是这样实现的，瓷砖以可控的速度前行，垂直于瓷砖输送方向移动的两对角距离检测器以相应的移动速度相对移动，分别测量瓷砖两对角线到对角距离检测器间的距离，从而获得两组对角线距离数据，位于瓷砖两边的横边距离检测器分别检测经过的瓷砖的两横边到横边距离检测器的距离，从而获得两组横边距离数据，以一定角度且与瓷砖前行方向同向斜向着瓷砖前进方向以相应速度移动的两竖边距离检测器分别检测经过的瓷砖的两竖边到竖边距离检测器的距离，从而获得两组竖边距离数据，根据各组距离数据的变化，就能评判瓷砖表面的平面度。本专利技术的平面度测量控制设备是这样实现的，包括输送装置、沿输送装置输送方向设置的对角检测机构、横边检测机构、竖边检测机构，对角检测机构包括位于输送装置上方的竖机架、设置在竖机架上的由动力带动以垂直于瓷砖输送方向相对移动的两对角距离检测器、对角接近开关，横边检测机构包括设置在输送装置两侧的横边距离检测器，竖边检测机构包括斜向着瓷砖输送方向且位于输送装置上方的斜机架、设置在斜机架上的由动力带动以斜向着瓷砖输送方向相对移动的两竖边距离检测器、竖边接近开关。工作时，输送装置以可控速度Vc带动瓷砖前行，经过对角接近开关时，对角接近开关被触动，通过控制模块控制动力启动，使对角距离检测器以相应的移动速度Vc*Hs/Hh垂直于瓷砖输送方向移动，即沿瓷砖的对角线移动，获得对角线距离数据，瓷砖继续前行，经过横边距离检测器，横边距离检测器检测出横边线距离数据组，瓷砖继续前行，竖边接近开关被触动，通过控制模块控制动力启动，使竖边距离检测器以tan（ɑ）*Vc速度斜向着瓷砖输送方向移动，即沿瓷砖的竖边移动，获得竖边线距离数据，然后，两竖边距离检测器返回起始位置，以便检测下一块瓷砖。然后，对上述的数据组评判，就能获得瓷砖表面的平面度。这里，两对角距离检测器由同一动力带动相对移动，两对角距离检测器的检测方向斜向下且在瓷砖上有重合的检测点。这样，第一、第二两对角距离检测器分别同时检测第一、第二两对角线后，就不用返回，下一块瓷砖经过时，第一、第二两对角距离检测器就能分别同时检测第二、第一两对角线，这样，既简化了结构，降低了成本，而且，能保证准确进行对角线检测。本专利技术与已有技术相比，具有瓷砖传输过程中能准确进行四边及对角线检测的、检测效率高的、结构简单的优点。附图说明：图1为本专利技术的结构示意图；图2为瓷砖需要检测的各边的示意图；图3为两对角距离检测器位置关系示意图。具体实施方式：现结合附图和实施例对本专利技术做进一步详细描述：如图1所示，本专利技术的平面度测量控制设备是这样实现的，包括输送装置1、沿输送装置1输送方向设置的对角检测机构a、横边检测机构b、竖边检测机构c，对角检测机构a包括位于输送装置1上方的竖机架2、设置在竖机架2上的由动力带动以垂直于瓷砖A输送方向相对移动的两对角距离检测器3、对角接近开关4，横边检测机构b包括设置在输送装置1两侧的横边距离检测器5，竖边检测机构c包括斜向着瓷砖A输送方向且位于输送装置1上方的斜机架6、设置在斜机架6上的由动力带动以斜向着瓷砖A输送方向相对移动的两竖边距离检测器7、分别与两竖边距离检测器7对应的两竖边接近开关8。对角距离检测器3、横边距离检测器5、竖边距离检测器7采用激光位移检测器。两对角距离检测器3由同一动力带动相对移动，如图3所示，两对角距离检测器3的检测方向斜向下且在瓷砖A上有重合的检测点9，即两对角距离检测器3移动到两对角边B、C的交叉点时，激光位移检测器光斑在瓷砖A表面重合。在对角检测机构a、横边检测机构b和竖边检测机构c输送装置1前面的输送装置1上设置有对中检测光电检测器10，对中机构12，以保证瓷砖A进入检测前的姿态稳定且符合位于输送装置1正中的要求。在对角检测机构a、横边检测机构b和竖边检测机构c前面的输送装置1上设置有扫描触发检测光电13，瓷砖A经过扫描触发检测光电13后，控制模块控制对角检测机构a、横边检测机构b和竖边检测机构c输送装置1处于初始状态，准备对经过的瓷砖A进行检测。在对角检测机构a、横边检测机构b和竖边检测机构c后面的输送装置1上设置有一套以上的画笔14，以便依据检测结果对瓷砖进行分类标记（如次品砖的标记）。本专利技术平面度测量控制方法是这样实现的，先进行基准参考数据检测，即设备进入校准模式并在设备上放入一片和待测平面度规格相同的平面度较好的标准瓷砖（平面度越好，人工修正就更快捷，并不严格要求），让这片瓷砖完整经过设备扫描区域，设备为每条测量边测量并读入四条边及对角线初始基准参考数据。然后将设备由校准模式切换成正常测量模式，此时再次放入标准瓷砖，并保证瓷砖方向与校准模式下进入设备的方向相同并获得四条边及对角线校准参考数据。通过比较四条边及对角线初始基准参考数据、四条边及对角线校准参考数据，得出该片砖平面度；因为用来校准的砖与现在测量的这片砖是同一片，并且测量方向一样，所以该片砖平面度为零。但是，由于设备为每条测量边测量并读入初始基准参考数据中所使用的瓷砖为平面度较好的标准瓷砖（理论上平面度为零的瓷砖用在没有任何机械误差的设备上测量最理想，但在现实之中极难实现这个条件），需要对初始基准参考数据进行校准。通过人工测量这片瓷砖各边实际平面度，对比设备实测的各边平面度，为设备各边数据初始基准参考数据设入校准值；然后再次把该片砖以相同条件再次测量，直至人工测量值与设备测量值相等为止并获得四条边及对角线基准参考数据；此时四条边及对角线基准参考数据已被修正成相当于用平面度为零的瓷砖、设备没有影响平面度测量的机械误差的参数。然后，正常的瓷砖的检测，已经生产出来的待检测瓷砖A以可控的速度V本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种平面度测量控制设备，包括输送装置、沿输送装置输送方向设置的对角检测机构、横边检测机构、竖边检测机构，其特征在于对角检测机构包括位于输送装置上方的竖机架、设置在竖机架上的由动力带动以垂直于瓷砖输送方向相对移动的两对角距离检测器、对角接近开关，横边检测机构包括设置在输送装置两侧的横边距离检测器，竖边检测机构包括斜向着瓷砖输送方向且位于输送装置上方的斜机架、设置在斜机架上的由动力带动以斜向着瓷砖输送方向相对移动的两竖边距离检测器、竖边接近开关。

【技术特征摘要】
1.一种平面度测量控制设备，包括输送装置、沿输送装置输送方向设置的对角检测机构、横边检测机构、竖边检测机构，其特征在于对角检测机构包括位于输送装置上方的竖机架、设置在竖机架上的由动力带动以垂直于瓷砖输送方向相对移动的两对角距离检测器、对角接近开关，横边检测机构包括设置在输送装置两侧的横边距离检测器，竖边检测机构包括斜向着瓷砖输送方向且位于输送装置上方的斜机架、设置在斜机架上的由动力带动以斜向着瓷砖输送方向相对移动的两竖边距离检测器、竖边接近开关。2.根据权利要求1所述的平面度测量控制设备，其特征在于两对角距离检测器由同一动力带动相对移动，两对角距离检...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨扬，叶金伟，钟华波，
申请(专利权)人：广东赛因迪科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44