【技术实现步骤摘要】
一种高精度真空高温测量装置
本技术涉及一种亚微米级真空高温尺寸变形监测装置。
技术介绍
对于航天领域的设备研发,需要对某些结构件在真空、高温条件下测量其尺寸的微量变形规律,从而验证其在空间应用的可行性,并为后续任务的研制奠定理论及技术基础。例如,对碳纤维承力筒(被试品)真空条件下解吸附后长度变化量进行测量,需要将其放置于真空罐内,被试品辐射制热到80±2℃,以加速试验进程,其中,低压高温试验的真空度小于1×10-3Pa;温度:80±2℃。在该条件下测该结构件的尺寸的微量变形规律。为此,希望测量仪器达到以下要求:1)需具有亚μm级的绝对精度;2)需具有50μm以上的测量范围;3)需具有长时间工作的能力、良好的时间稳定度或重复精度;4)设备在真空罐中的各组成部分具有耐高温低压能力;目前,真空条件下结构尺寸的微量变化的监测主要采用两种方案:一种是F-P干涉仪微形变监测,另一种是电感式微形变监测。虽然这两种监测方案能够实现结构件的微量变化监测,但是却存在测量精度低、监测过程复杂,并且真空高温适应性不理想的缺陷。
技术实现思路
为了解决现有的在真空高温条件下测量结构件微量形变的装置存在测量精度低、监测过程复杂以及真空高温适应性不理想的技术问题,本技术提供一种高精度真空高温测量装置。本技术的解决方案如下:设测量目标为被测物在X方向上的形变量,该高精度真空高温测量装置包括:稳定支撑平台,用于固定放置被测物;两组光纤探头,其中一组光纤探头用于发射光信号,另一组光纤探头用于接收光信号,分别放置于X方向上被测物的两端,并与被测物两端保持间距,满足光纤位移测量原理;光源与解调仪,经一路 ...
【技术保护点】
1.一种高精度真空高温测量装置,设测量目标为被测物在X方向上的形变量,其特征在于,该装置包括:稳定支撑平台,用于固定放置被测物;两组光纤探头,其中一组光纤探头用于发射光信号,另一组光纤探头用于接收光信号,分别放置于X方向上被测物的两端,并与被测物两端保持间距,满足光纤位移测量原理;光源与解调仪,经一路光纤将测量用激光发送至所述一组光纤探头,经另一路光纤接收来自所述另一组光纤探头的光信号,并将接收到的光信号解调为数据输出;带光纤贯通器的法兰,用于耦合真空室内、外的光纤部分。
【技术特征摘要】
1.一种高精度真空高温测量装置,设测量目标为被测物在X方向上的形变量,其特征在于,该装置包括:稳定支撑平台,用于固定放置被测物;两组光纤探头,其中一组光纤探头用于发射光信号,另一组光纤探头用于接收光信号,分别放置于X方向上被测物的两端,并与被测物两端保持间距,满足光纤位移测量原理;光源与解调仪,经一路光纤将测量用激光发送至所述一组光纤探头,经另一路光纤接收来自所述另...
【专利技术属性】
技术研发人员:李燕,朱香平,张文松,
申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所,
类型:新型
国别省市:陕西,61
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