【技术实现步骤摘要】
检测治具及检测系统
本专利技术涉及光学性质检测领域，尤其涉及一种检测治具及包括该检测治具的检测系统。
技术介绍
大多数电子产品(包括显示设备、照明设备等)均包括背光模组用以提供光源，背光模组中，常采用各类光学薄膜等光学结构以改变光传播方式，例如采用导光板导光。采用上述各类光学薄膜等光学结构以改变光传播方式情况下，为避免差的批次在整机组装过程造成较大的损失，在背光模组投入使用前，通常需要对上述光学结构进行光学性质检测，以保证背光模组运作效果。目前常用的检测方法包括机械检测方法，如检测光学结构端面粗糙度以衡量其光学性质优劣，但该检测方式测耗时较长。另外，目前检测方法还包括在光学结构组装完成后，例如组装成背光模组成品再进行检测，该检测方式依旧耗时较久，且需要额外增加导线等用于检测的结构，浪费人力物力。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种操作方便且精确度较高的检测治具及检测系统。本专利技术一方面提供一种检测治具，包括：光源模组，包括至少一个发光源，所述发光源用于发射光源光；收容结构，与所述光源模组连接，设置于所述光源光的出射路径上，用于收容待检测物件，所述待检测物件收容于...
【技术保护点】
1.一种检测治具，其特征在于，包括：光源模组，包括至少一个发光源，所述发光源用于发射光源光；收容结构，与所述光源模组连接，设置于所述光源光的出射路径上，用于收容待检测物件，所述待检测物件收容于所述收容结构时，所述光源光从所述待检测物件远离所述光源模组一侧出射；及光源面积调节结构，与所述收容结构连接，设置于所述收容结构远离所述光源模组一侧，用于根据所述待检测物件的尺寸调节从所述待检测物件远离所述光源模组一侧出射的所述光源光的面积，根据所述光源光可获取所述待检测物件的光学数据。
【技术特征摘要】
1.一种检测治具，其特征在于，包括：光源模组，包括至少一个发光源，所述发光源用于发射光源光；收容结构，与所述光源模组连接，设置于所述光源光的出射路径上，用于收容待检测物件，所述待检测物件收容于所述收容结构时，所述光源光从所述待检测物件远离所述光源模组一侧出射；及光源面积调节结构，与所述收容结构连接，设置于所述收容结构远离所述光源模组一侧，用于根据所述待检测物件的尺寸调节从所述待检测物件远离所述光源模组一侧出射的所述光源光的面积，根据所述光源光可获取所述待检测物件的光学数据。2.如权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述收容结构包括：固定部，固定连接于所述光源模组；及活动部，以抽拉方式活动连接于所述固定部，用于收容所述待检测物件。3.如权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述光源面积调节结构包括可沿第一方向位移的第一调节部及可沿第二方向位移的第二调节部；所述第一调节部与所述第二调节部通过分别沿所述第一方向及所述第二方向位移，围合形成一开口，所述光源光从所述开口出射。4.如权利要求3所述的检测治具，其特征在于，所述开口形状与所述待检测物形状相同，所述开口面积等于所述待检测物件面积。5.如权利要求3所述的检测治具，其特征在于，所述第一调节部包括多个...
【专利技术属性】
技术研发人员：李镖镖，
申请(专利权)人：业成科技成都有限公司，业成光电深圳有限公司，英特盛科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51
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