芯片功能自动化测试方法、装置和计算机设备制造方法及图纸

本申请涉及一种芯片功能自动化测试方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：获取芯片功能自动化测试请求；根据所述芯片功能自动化测试请求对所述芯片上电并设置成boot启动；在所述芯片boot时，通过使用Uart/PCIE的方式加载测试程序；运行所述测试程序对芯片进行测试，得到对应的测试结果；通过脚本保存测试结果，并对测试结果进行自动分析生成测试报告。本发明专利技术通过自动化的方式来实现测试程序的测试和测试报告的分析，使整个芯片的测试过程都不要人工的参与，从而实现全自动化的芯片功能测试，提高效率，节约人力资源。

Automated test methods, devices and computer equipment for chip functions

【技术实现步骤摘要】
芯片功能自动化测试方法、装置和计算机设备
本专利技术涉及固态硬盘
，特别是涉及一种芯片功能自动化测试方法、装置、计算机设备和存储介质。
技术介绍
目前，随着固态硬盘技术的发展，对于芯片的测试效率要求越来越高，具体地，在芯片进行测试时，需要使用多种测试程序对芯片进行测试，以生成完整的芯片测试报告。在传统技术中，传统的芯片测试多采用人工接管芯片如使用JTAG，加载测试程序并人工分析测试结果的方式。这种测试方式十分依赖手动操作和人工分析，特别是不同的测试程序的切换和测试报告的分析上。在整个测试过程中，更换测试程序、对测试结果进行分析都需要人工的参与，这也是消耗人力资源的主要步骤，这都会导致测试效率不高，对人力资源有着极大的浪费。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种可以提高芯片测试效率的芯片功能自动化测试方法、装置、计算机设备和存储介质。一种芯片功能自动化测试方法，所述方法包括：获取芯片功能自动化测试请求；根据所述芯片功能自动化测试请求对所述芯片上电并设置成boot启动；在所述芯片boot时，通过使用Uart/PCIE的方式加载测试程序；运行所述测试程序对芯片进行测试，得到对应的测试结果；通过脚本保存测试结果，并对测试结果进行自动分析生成测试报告。在其中一个实施例中，在所述通过脚本保存测试结果，并对测试结果进行自动分析生成测试报告的步骤之后还包括：判断所有的测试程序是否都已经完成；若存在测试尚未完成则运行脚本控制程序使芯片重新进入boot下载模式，更换测试程序进行测试直至所有的测试程序都已经完成；若所有的测试程序都已经完成则发送整个测试结果。在其中一个实施例中，在所述根据所述芯片功能自动化测试请求对所述芯片上电并设置成boot启动的步骤之前还包括：根据所述芯片功能自动化测试请求获取所述测试请求对应的测试程序，并在所述测试程序中加入相应的脚本控制指令。在其中一个实施例中，所述运行所述测试程序对芯片进行测试，得到对应的测试结果的步骤还包括：通过脚本发送控制指令以控制所述测试程序的运行。一种芯片功能自动化测试装置，所述芯片功能自动化测试装置包括：获取模块，所述获取模块用于获取芯片功能自动化测试请求；启动模块，所述启动模块用于根据所述芯片功能自动化测试请求对所述芯片上电并设置成boot启动；程序加载模块，所述程序加载模块用于在所述芯片boot时，通过使用Uart/PCIE的方式加载测试程序；测试模块，所述测试模块用于运行所述测试程序对芯片进行测试，得到对应的测试结果；分析模块，所述分析模块用于通过脚本保存测试结果，并对测试结果进行自动分析生成测试报告。在其中一个实施例中，所述芯片功能自动化测试装置还包括：判断模块，所述判断模块用于判断所有的测试程序是否都已经完成；重下载模块，所述重下载模块用于若存在测试尚未完成则运行脚本控制程序使芯片重新进入boot下载模式，更换测试程序进行测试直至所有的测试程序都已经完成；发送模块，所述发送模块用于若所有的测试程序都已经完成则发送整个测试结果。在其中一个实施例中，所述芯片功能自动化测试装置还包括：脚本加载模块，所述脚本加载模块用于根据所述芯片功能自动化测试请求获取所述测试请求对应的测试程序，并在所述测试程序中加入相应的脚本控制指令。在其中一个实施例中，所述测试模块还用于：通过脚本发送控制指令以控制所述测试程序的运行。一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。上述芯片功能自动化测试方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取芯片功能自动化测试请求；根据所述芯片功能自动化测试请求对所述芯片上电并设置成boot启动；在所述芯片boot时，通过使用Uart/PCIE的方式加载测试程序；运行所述测试程序对芯片进行测试，得到对应的测试结果；通过脚本保存测试结果，并对测试结果进行自动分析生成测试报告。本专利技术通过自动化的方式来实现测试程序的测试和测试报告的分析，使整个芯片的测试过程都不要人工的参与，从而实现全自动化的芯片功能测试，提高效率，节约人力资源。附图说明图1为传统技术中芯片测试的流程示意图；图2为一个实施例中芯片功能自动化测试方法的流程示意图；图3为另一个实施例中芯片功能自动化测试方法的流程示意图；图4为再一个实施例中芯片功能自动化测试方法的流程示意图；图5为一个实施例中自动化的芯片测试的流程示意图；图6为一个实施例中详细的芯片自动化测试的流程示意图；图7为一个实施例中芯片功能自动化测试装置的结构框图；图8为另一个实施例中芯片功能自动化测试装置的结构框图；图9为再一个实施例中芯片功能自动化测试装置的结构框图；图10为一个实施例中计算机设备的内部结构图。具体实施方式为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。芯片的测试，传统的方法在整个测试过程中都需要工作人员的参与，包括加载测试程序并运行，人工的进行分析测试报告等。如图1所示，是传统的芯片测试流程，主要步骤有加载运行测试程序、产生并分析测试报告，而一个芯片的整套测试流程需要不断的更换测试程序重复上述的测试步骤。在整个测试过程中，更换测试程序、对测试结果进行分析都需要人工的参与，这也是消耗人力资源的主要步骤，这使得效率不高，对人力资源有着极大的浪费。本专利技术提出了一种自动化的方式来实现测试程序的更换和测试报告的分析，使整个芯片的测试过程都不要人工的参与，从而实现全自动化的芯片功能测试，提高效率，节约人力资源。在一个实施例中，如图2所示，提供了一种芯片功能自动化测试方法，该方法包括：步骤202，获取芯片功能自动化测试请求；步骤204，根据芯片功能自动化测试请求对芯片上电并设置成boot启动；步骤206，在芯片boot时，通过使用Uart/PCIE的方式加载测试程序；步骤208，运行测试程序对芯片进行测试，得到对应的测试结果；步骤210，通过脚本保存测试结果，并对测试结果进行自动分析生成测试报告。具体地，结合参考图5所示的自动化芯片测试流程。首先，获取芯片功能自动化测试请求，该请求里可以包括测试的项目种类等信息。接着，根据该请求中的具体内容对对应的待测芯片进行上电并设置成boot启动。同时，在芯片boot时，使用Uart/PCIE的方式加载测试程序；之后使用脚本发送控制指令，控制测试程序运行；然后使用脚本保存测试结果，并对测试结果进行自动分析生成测试报告。可以理解的是，在进行完一项测试内容之后，还可以接着使用脚本控制芯片，重新进行boot加载新的测试程序进行测试直到测试完成；最后将测试报告通过邮件的方式发送给测试人员，以便测试人员可以及时高效的了解芯片的全面测试情况。在本实施例中，通过获取芯片功能自动化测试请求；根据芯片功能自动化测试请求对芯片上电并设置成boot启动；在芯片boot时，通过使用Uart/PCIE的方式加载测试程序；运行测试程序对芯片进行测试，得到对应的测试结果；通过脚本保存测试结果本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片功能自动化测试方法，所述方法包括：获取芯片功能自动化测试请求；根据所述芯片功能自动化测试请求对所述芯片上电并设置成boot启动；在所述芯片boot时，通过使用Uart/PCIE的方式加载测试程序；运行所述测试程序对芯片进行测试，得到对应的测试结果；通过脚本保存测试结果，并对测试结果进行自动分析生成测试报告。

【技术特征摘要】
1.一种芯片功能自动化测试方法，所述方法包括：获取芯片功能自动化测试请求；根据所述芯片功能自动化测试请求对所述芯片上电并设置成boot启动；在所述芯片boot时，通过使用Uart/PCIE的方式加载测试程序；运行所述测试程序对芯片进行测试，得到对应的测试结果；通过脚本保存测试结果，并对测试结果进行自动分析生成测试报告。2.根据权利要求1所述的芯片功能自动化测试方法，其特征在于，在所述通过脚本保存测试结果，并对测试结果进行自动分析生成测试报告的步骤之后还包括：判断所有的测试程序是否都已经完成；若存在测试尚未完成则运行脚本控制程序使芯片重新进入boot下载模式，更换测试程序进行测试直至所有的测试程序都已经完成；若所有的测试程序都已经完成则发送整个测试结果。3.根据权利要求1或2所述的芯片功能自动化测试方法，其特征在于，在所述根据所述芯片功能自动化测试请求对所述芯片上电并设置成boot启动的步骤之前还包括：根据所述芯片功能自动化测试请求获取所述测试请求对应的测试程序，并在所述测试程序中加入相应的脚本控制指令。4.根据权利要求3所述的芯片功能自动化测试方法，其特征在于，所述运行所述测试程序对芯片进行测试，得到对应的测试结果的步骤还包括：通过脚本发送控制指令以控制所述测试程序的运行。5.一种芯片功能自动化测试装置，其特征在于，所述芯片功能自动化测试装置包括：获取模块，所述获取模块用于获取芯片功能自动化测试请求；启动模块，所述启动模块用于根据所述芯片功能自动化测试请求对所述芯片上电并设置成boot启动...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘坚，冯元元，臧鑫，
申请(专利权)人：深圳忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44