距离设定型光电传感器制造技术

本发明专利技术提供一种即使在由检测体产生的反射光包含光泽反射光的情况下，也能降低其影响的距离设定型光电传感器。该距离设定型光电传感器具备：投光部(1)，其投出光；受光部(2)，其接受光，并具有当检测体(10)位于比设定距离近的位置时能够接受由该检测体(10)产生的漫反射光的N侧受光面、以及当检测体(10)位于比设定距离远的位置时能够接受由该检测体(10)产生的漫反射光的F侧受光面；位置判定部(31)，其判定由受光部(2)接受的光的受光位置；强度判定部(32)，其判定由受光部(2)接受的光的受光强度；以及有无判定部(33)，其根据位置判定部(31)以及强度判定部(32)的判定结果来判定检测体(10)的有无。

【技术实现步骤摘要】
距离设定型光电传感器
本专利技术涉及用三角测距原理基于距离来判定物体的有无的距离设定型光电传感器。
技术介绍
在现有的光电传感器中，求出受光元件处的受光量的分布并检测出峰的数量，从而判断光泽反射光的有无(例如参照专利文献1)。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利特开2007-221491号公报专利文献2：日本专利2933804号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题在用三角测距原理基于到检测体10的距离判定物体的有无的光电传感器(以下，距离设定型光电传感器)中，例如如图6所示，基于由检测体10产生的反射光在受光元件22上的受光位置(受光分布的重心位置)，判定检测体10的有无。在距离设定型光电传感器中，将设定距离设为B(距离b的位置)时，在到检测体10的距离为比距离b更接近距离设定型光电传感器的距离a时，判定为存在检测体10，在到检测体10的距离为比距离b更远离距离设定型光电传感器的距离c时，判定为不存在检测体10。此外，在图6所示的距离设定型光电传感器中，符号11表示发光元件，符号12表示投光透镜，符号21表示受光透镜。图6所示的到检测体10的距离与反射光在受光元件22上的受光位置的关系，在由检测体10产生的反射光为漫反射光时成立。由此，当由检测体10产生的反射光为光泽反射光时，上述关系变得不成立。例如在检测体10为白纸等，并且由该检测体10产生的反射光仅具有漫反射光时，如图7A所示，设定距离B≒检测范围D。另一方面，在检测体10为SUS板等，并且由该检测体10产生的反射光除了漫反射光外还具有光泽反射光时，如图7B所示，设定距离B≠检测范围D’，有时能够检测的范围(检测范围D')相对于设定距离B变窄。在该情况下，有时虽然检测体10位于设定距离B内但距离设定型光电传感器会因光泽反射光而错误判定为不存在物体。图8是示出在现有的距离设定型光电传感器中，由检测体10产生的反射光具有漫反射光101以及光泽反射光102a、102b的情况的图，图8A是示出检测体10未倾斜的情况的图，图8B是示出检测体10倾斜的情况的图。在图8中，光泽反射光102a是从发光元件11照射至检测体10的光之中的中心部分的光的反射光。另外，光泽反射光102b是从发光元件11照射至检测体10的光之中的周边部分的光的反射光。另外，照射至检测体10的光之中的中心部分的光相比周边部分的光强度要强。因此，光泽反射光102a相比光泽反射光102b具有较强强度。如图8B所示，当检测体10具有倾斜度θ时，光泽反射光102b会相对于受光元件22入射到从漫反射光101的受光位置偏离的位置。另外，虽然光泽反射光102b与光泽反射光102a相比强度较弱，但光泽反射光102b相对于漫反射光101是非常强的光。因此，当光泽反射光102b从漫反射光101的受光位置偏离并入射到受光元件22的Far侧时，距离设定型光电传感器就会在本应判定为检测体10存在时错误判定为检测体10不存在。在由检测体10产生的反射光仅具有漫反射光101的情况下，如图9所示，即使检测体10具有倾斜度θ时距离b的位置也不会改变(距离b＝距离b')。在距离设定型光电传感器中，在判定检测体10的有无后，在比设定距离B近的一侧的动作特别重要。原因是，例如在对在输送机上流动的物体进行检测时，比设定距离远的一侧是背景，近的一侧是检测体10。关于背景，虽然能够通过设置非光泽的墙壁来作为对策，但检测体10是各种各样的原材料，有时具有光泽成分，因此在近侧的动作变得重要。于是，在由检测体10产生的反射光包含光泽反射光的情况下，寻求降低其影响，扩大检测范围D'。本专利技术是为了解决上述那样的问题而完成的专利技术，目的在于提供一种即使在由检测体产生的反射光包含光泽反射光的情况下，也能降低其影响的距离设定型光电传感器。解决问题的技术手段本专利技术涉及的距离设定型光电传感器的特征在于，具备：投光部，其投出光；受光部，其接受光，并具有当检测体位于比设定距离近的位置时能够接受由该检测体产生的漫反射光的N侧受光面、以及当检测体位于比设定距离远的位置时能够接受由该检测体产生的漫反射光的F侧受光面；位置判定部，其判定由受光部接受的光的受光位置；强度判定部，其判定由受光部接受的光的受光强度；以及有无判定部，其根据位置判定部以及强度判定部的判定结果来判定检测体的有无。专利技术效果根据本专利技术，如上述所构成，因此即使在由检测体产生的反射光包含光泽反射光的情况下，也能降低其影响。附图说明图1是示出本专利技术的实施方式1涉及的距离设定型光电传感器的构成例的图。图2是示出本专利技术的实施方式1中在受光元件上的受光位置与到检测体的距离的关系的一个例子的图。图3是示出本专利技术的实施方式1中判定部的构成例的图。图4是示出本专利技术的实施方式1中使用有无判定部进行的判定的状态变化的图。图5A、图5B是示出本专利技术的实施方式1涉及的距离设定型光电传感器的效果的图(当由检测体产生的反射光具有漫反射光以及光泽反射光时)，图5A是示出现有的距离设定型光电传感器中设定距离与检测范围的关系的图，图5B是示出实施方式1涉及的距离设定型光电传感器中设定距离与检测范围的关系的图。图6是示出现有的距离设定型光电传感器的操作例的图。图7A、图7B是示出现有的距离设定型光电传感器中设定距离与检测范围的关系的图，图7A是示出由检测体产生的反射光仅具有漫反射光的情况的图，图7B是示出由检测体产生的反射光具有漫反射光以及光泽反射光的情况的图。图8A、图8B是示出现有的距离设定型光电传感器中由检测体产生的反射光具有漫反射光以及光泽反射光的情况的例子的图，图8A是示出检测体未倾斜的情况的图，图8B是示出检测体倾斜的情况的图。图9A、图9B是示出现有的距离设定型光电传感器中由检测体产生的反射光仅具有漫反射光的情况的图，图9A是示出检测体未倾斜的情况的图，图9B是示出检测体倾斜的情况的图。具体实施方式以下，参照附图对本专利技术的实施方式详细地进行说明。实施方式1图1是示出本专利技术的实施方式1涉及的距离设定型光电传感器的构成例的图。距离设定型光电传感器利用三角测距的原理，判定检测区域中检测体10的有无。另外，在距离设定型光电传感器中，利用光泽反射光相对于漫反射光是非常强的光这一点，具有降低由光泽反射光产生的影响的功能。如图1所示，距离设定型光电传感器具备投光部1、受光部2以及判定部3。投光部1具有发光元件11以及投光透镜12，受光部2具有受光透镜21以及受光元件22。发光元件11发出光。投光透镜12将由发光元件11发出的光投出至外部。该投光透镜12在检测区域对置配置，将由发光元件11发出的光投出至检测区域。受光透镜21会聚光。该受光透镜21在检测区域对置配置，会聚来自检测区域的光。受光元件22接受由受光透镜21会聚后的光。受光元件22具有N侧受光面(Near侧，近侧)以及F侧受光面(Far侧，远侧)，通过距离调整而电性分离。此外，关于受光元件22的N侧受光面以及F侧受光面的电性分离的方法，记载于例如专利文献2中，省略其说明。在检测体10位于比设定距离近的位置时，N侧受光面能接受由该检测体10产生的漫反射光。另外，在检测体10位于比设定距离远的位置时，F侧受光面能接受由该检测体10产生的漫反射光。能够使用二分割光电二极管等多分本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种距离设定型光电传感器，其特征在于，具备：投光部，其投出光；受光部，其接受光，并具有当检测体位于比设定距离近的位置时能够接受由该检测体产生的漫反射光的N侧受光面、以及当检测体位于比设定距离远的位置时能够接受由该检测体产生的漫反射光的F侧受光面；位置判定部，其判定由所述受光部接受的光的受光位置；强度判定部，其判定由所述受光部接受的光的受光强度；以及有无判定部，其根据所述位置判定部以及所述强度判定部的判定结果来判定检测体的有无。

【技术特征摘要】
2017.12.07 JP 2017-2352621.一种距离设定型光电传感器，其特征在于，具备：投光部，其投出光；受光部，其接受光，并具有当检测体位于比设定距离近的位置时能够接受由该检测体产生的漫反射光的N侧受光面、以及当检测体位于比设定距离远的位置时能够接受由该检测体产生的漫反射光的F侧受光面；位置判定部，其判定由所述受光部接受的光的受光位置；强度判定部，其判定由所述受光部接受的光的受光强度；以及有无判定部，其根据所述位置判定部以及所述强度判定部的判定结果来判定检测体的有无。2.根据权利要求1所述的距离设定型光电传感器，其特征在于，当从表示在所述N侧受光面接受的光的信号中减去表示在所述F侧受光面接受的光的信号所得的差值比第1阈值大时，所述位置判定部判定受光位置为该N侧受光面，当该差值在该第1阈值以下时，所述位置判定部判定受光位置为该F侧受光面。3.根据权利要求1或2所述的距离设定型光电传感器，其特征在于，当表示在所述N侧受光面接受的...

【专利技术属性】
技术研发人员：细井贵之，畑中浩，田中实，铃木慎一郎，
申请(专利权)人：阿自倍尔株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP