The invention discloses a bit error rate test method for resistive memory. The commercial application of memory needs to ensure a very low bit error rate. This test needs to repeat and analyze a lot of erase processes, which takes a lot of time. Therefore, it is meaningful to accelerate this process. The invention uses an arbitrary waveform generator to adjust the length of the read waveform to a specific value, so that a specific waveform containing only the read information can be generated after the dot product of the selected signal and the selected signal in the oscilloscope. This particular waveform allows the waveform to be filtered out after adjusting the sampling rate of the oscilloscope, which reduces the redundancy of the information to the lowest theoretical value, thus increasing the throughput of BER testing.
【技术实现步骤摘要】
阻式存储器的误码率测试方法
本专利技术总体上属于存储器测试领域，更具体的，涉及阻式存储器的可靠性测试。
技术介绍
基于电阻值的阻式存储器是一类常见的非挥发性存储器，是一种在无源条件下能长时间记录数据的技术。对于阻式存储器的基本操作有两种，擦写和读取。由于器件的热力学和本身机理所带来的随机性，擦写操作和读取操作都会造成一定程度的误码率。对于擦写过程，误码表现为写入失败，即存储单元的状态在擦写前后不发生改变。对于读取过程，误码表现为写入成功，即存储单元的状态在读取前后发生了改变。对于商业化的阻式存储器，由于使用误码修正码(ErrorCorrectionCode),低于一定阈值的误码率是可以接受的。业内公认的这一误码率阈值为10-6，即每一百万次操作中有一次误码。误码率的测试是任何存储器商业化的关键可靠性数据，但这一要求意味着极大的数据量和相应极长的测试时间。将这一关键测试的时间大大降低因此是十分有意义的。传统的误码率分析使用固定读取时间长度，且这一时间长度和实际电路中的时序保持一致，通常是一个远小于所述存写序列单元长度的数值。因此，示波器必须以较高的采样率运行，以捕捉...
【技术保护点】
1.一种阻式存储器的误码率测试方法，其特征在于，所述方法包括：在测试系统中；所述测试系统的任意波形发生器输出为两个信号，分别为存写信号及选取信号；所述测试系统的示波器输入为两个信号，分别为所述存写信号经过阻式存储器的激发电流及所述选取信号；所述示波器的数学通道的数据为所述激发电流和所述选取信号的点积结果；在计算机中，接收点积结果，并进行误码率分析给出误码率。
【技术特征摘要】
1.一种阻式存储器的误码率测试方法，其特征在于，所述方法包括：在测试系统中；所述测试系统的任意波形发生器输出为两个信号，分别为存写信号及选取信号；所述测试系统的示波器输入为两个信号，分别为所述存写信号经过阻式存储器的激发电流及所述选取信号；所述示波器的数学通道的数据为所述激发电流和所述选取信号的点积结果；在计算机中，接收点积结果，并进行误码率分析给出误码率。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试系统是基于探针台、晶圆和无源探针的，并且不使用独立的有源放大器或无源放大器。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存写信号的存写序列单元分为初始化阶段、写入阶段、等待阶段以及读取阶段；所述误码率的对象是所述写入阶段的，所述写入阶段的电压幅值可以是擦写电压幅值，或者读取电压幅值，也可以是任意的波形。4.根据权利要求3所述的方法，其特...
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