一种元素检测装置和标样制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种元素检测装置和标样，所述元素检测装置的测试台面上设置有检测口，所述测试台面上还设有距离标识，所述距离标识用于标识所述测试台面上的目标点距所述检测口的中心的距离；所述标样的非测试面上设有角度标识，所述角度标识用于标识所述标样上的目标点转动至所述标样上的基准点的角度。这样，通过在元素检测装置上设置距离标识，并在标样上设置角度标识，可以实现将标样上的目标校准点精确对准检测口，从而不仅不易出现校准测试失败的现象，还能保证充分利用标样的测试面，避免造成标样的浪费；且由于元素检测装置得以精确校准，从而能够有效提高使用该元素检测装置进行元素检测时的精确性。

An Element Detection Device and Standard Sample

The utility model provides an element detection device and a standard sample. The testing table surface of the element detection device is provided with a detection port, and the test table surface is also provided with a distance marker, which is used to identify the distance between the target point on the testing table and the center of the detection port; the non-test surface of the standard sample is provided with an angle marker, and the angle marker is used for marking. The angle from which the target point on the standard sample rotates to the reference point on the standard sample. In this way, the target calibration point on the standard sample can be accurately aligned to the detection port by setting distance marking on the element detection device and angle marking on the standard sample, so that not only the failure of calibration test is not easy to occur, but also the test surface of the standard sample can be fully utilized to avoid the waste of the standard sample; moreover, the element detection device can be accurately calibrated, so that it can be used. It can effectively improve the accuracy of element detection using the element detection device.

【技术实现步骤摘要】
一种元素检测装置和标样
本技术涉及检测
，尤其涉及一种元素检测装置和标样。
技术介绍
辉光放电光谱技术(GlowDischarge-OpticalEmissionSpectrometer，简称GD-OES)是一种基于辉光放电原理，对固体样品成分(如喷涂、含金镀层、半导体、有机涂层等)进行检测分析的技术，其基本原理是：辉光放电腔室内充满低压氩气，当施加在放电两极的电压达到一定值，超过激发氩气所需的能量即可形成辉光放电，放电气体离解为正电荷离子和自由电子，在电场的作用下，正电荷离子加速轰击到样品表面，产生阴极溅射，在放电区域内，溅射的元素原子与电子相互碰撞被激化而发光，而不同元素所发射的光的波长不同，从而可通过对光谱的分析，计算得出各元素的浓度。由于GD-OES为破坏性的测试，标样上的每个位置在校准测试一次后便会被正电荷离子刻蚀，因此，若再对该位置进行测试，将导致测试失效，对于透明的标样，测试人员较容易通过肉眼判断出标样上哪些点属于已经测试过的点，因而也较容易避免测试失效的问题。然而，对于非透明的标样(如金属标样)，则很难通过肉眼精准定位标样上可供测试的位置，因此，也易出现因测试位置与之前已测试位置重叠而导致测试失效，例如如图1中所示的无效测试点10。这样，由于现有元素检测装置和标样难以实现精确对准，从而不仅易导致校准测试失败，而且还会导致标样的测试面难以得到充分的利用，进而造成标样的浪费，增加校准测试成本。
技术实现思路
本技术实施例的目的在于提供一种元素检测装置和标样，解决了现有元素检测装置和标样难以实现精确对准的问题。为了达到上述目的，本技术实施例提供一种元素检测装置，所述元素检测装置的测试台面上设置有检测口，所述测试台面上还设有距离标识，所述距离标识用于标识所述测试台面上的目标点距所述检测口的中心的距离。可选的，所述距离标识为沿所述检测口的中心指向所述测试台面的边缘方向的标识。可选的，所述距离标识采用刻度尺、弧线、直线、圆点或颜色进行标识。可选的，所述检测口的直径为2.5mm，所述距离标识上标识有距所述检测口的中心的距离为3jmm的目标点所在位置，其中，j为大于或等于1的整数。本技术实施例还提供一种标样，用于对本技术实施例提供的元素检测装置进行校准，所述标样的非测试面上设有角度标识，所述角度标识用于标识所述标样上的目标点转动至所述标样上的基准点的角度。可选的，所述角度标识分布在所述标样的非测试面的边缘。可选的，所述角度标识采用刻度尺、直线、圆点或颜色进行标识。可选的，所述标样的直径为32mm，所述角度标识上标识有转动至所述基准点的角度分别为15k°和18k°的目标点所在位置，其中，k为大于或等于1的整数，15k°＜360°，18k°＜360°。可选的，所述标样的非测试面上还设有环线标识，所述环线标识用于标识所述标样上各校准环线所在的位置，其中，相邻校准环线之间的间距大于所述元素检测装置的检测口的直径。本技术实施例还提供一种标样，用于对元素检测装置进行校准，所述标样的非测试面上设有校准点标识，所述校准点标识用于标识所述标样上各目标校准点所在的位置，其中，各目标校准点之间均无重叠。本技术实施例中，通过在元素检测装置上设置距离标识，并在标样上设置角度标识，可以实现将标样上的目标校准点精确对准检测口，从而不仅不易出现校准测试失败的现象，还能保证充分利用标样的测试面，避免造成标样的浪费；且由于元素检测装置得以精确校准，从而能够有效提高使用该元素检测装置进行元素检测时的精确性。附图说明图1为本技术实施例提供的标样上的无效测试点的示意图；图2为本技术实施例提供的设有距离标识的测试台面的结构示意图；图3为本技术实施例提供的设有角度标识的标样的结构示意图；图4为本技术实施例提供的设有角度标识和环线标识的标样的结构示意图；图5为本技术实施例提供的设有校准点标识的标样的结构示意图；图6为本技术实施例提供的确定标样上的目标校准点的示意图；图7a为本技术实施例提供的将标样上的目标校准点对准测试台面的检测口的示意图之一；图7b为本技术实施例提供的将标样上的目标校准点对准测试台面的检测口的示意图之二；图7c为本技术实施例提供的将标样上的目标校准点对准测试台面的检测口的示意图之三；图7d为本技术实施例提供的将标样上的目标校准点对准测试台面的检测口的示意图之四。具体实施方式为使本技术要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。本技术实施例提供一种元素检测装置，如图2所示，所述元素检测装置的测试台面20上设置有检测口21，测试台面20上还设有距离标识22，距离标识22用于标识测试台面20上的目标点距检测口21的中心的距离。本技术实施例中，所述元素检测装置可以是基于辉光放电原理，可对固体样品成分(如喷涂、含金镀层、半导体、有机涂层等)进行检测分析的装置，如辉光放电光谱仪。本实施例中，如图2所示，所述元素检测装置的测试台面20上设置有检测口21，具体可以是在测试台面20的中心设置检测口21；测试台面20上还设有距离标识22，距离标识22用于标识测试台面20上的目标点距检测口21的中心的距离，具体地，可以是以检测口21的中心作为原点，使用刻度、符号或其他形状等标识测试台面20上的目标点距检测口21的中心的距离，测试台面20上的目标点可以是测试台面上距检测口21的中心的距离为预设距离(如1mm、3mm、5mm等)的点。其中，距离标识22可以是采用印刷、刻划或喷涂等方式在测试台面20上进行制作。这样，测试人员可以通过测试台面20上的距离标识22，将标样上位于目标校准环线的目标校准点对准检测口21，以利用标样上目标校准环线的目标校准点对所述元素检测装置进行校准测试，且能有效避免测试失效的问题。可选的，距离标识22为沿检测口21的中心指向测试台面20的边缘方向的标识。该实施方式中，如图2所示，距离标识22可以为沿检测口21的中心指向测试台面20的边缘方向的标识，例如：测试台面20为圆形，且检测口21位于测试台面20的中心时，可以在测试台面20上的一条半径上设置距离标识22。这样，只需通过在测试台面20上沿检测口21的中心指向测试台面20的边缘方向设置距离标识22，便可标识测试台面20上距检测口21的中心的距离为目标距离的目标点所在位置，进而可使测试人员通过距离标识22完成标样与检测口21的校准，且距离标识22具备简洁美观的效果。可选的，距离标识22采用刻度尺、弧线、直线、圆点或颜色进行标识。该实施方式中，距离标识22可以采用刻度尺进行标识，例如：图2中所示的距离标识22是采用刻度尺的方式进行标识，使用刻度线标识每个刻度线处距检测口21的中心的距离，具体地，可以每1mm使用细短刻度线标识，每5mm使用细长刻度线标识。这样，通过距离标识上的刻度，可以方便地定位距检测口21的中心的距离为目标距离的目标点。距离标识22也可以采用弧线进行标识，每一根弧线可表示位于该弧线处的环线的半径或直径，这样，当标样为圆形时，通过该弧线距离标识可以更方便和准确地将标样的边缘对准测试台面20上的目标弧线。距离标识22还可以采用直线、圆点本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种元素检测装置，其特征在于，所述元素检测装置的测试台面上设置有检测口，所述测试台面上还设有距离标识，所述距离标识用于标识所述测试台面上的目标点距所述检测口的中心的距离。

【技术特征摘要】
1.一种元素检测装置，其特征在于，所述元素检测装置的测试台面上设置有检测口，所述测试台面上还设有距离标识，所述距离标识用于标识所述测试台面上的目标点距所述检测口的中心的距离。2.根据权利要求1所述的元素检测装置，其特征在于，所述距离标识为沿所述检测口的中心指向所述测试台面的边缘方向的标识。3.根据权利要求1所述的元素检测装置，其特征在于，所述距离标识采用刻度尺、弧线、直线、圆点或颜色进行标识。4.根据权利要求1至3中任一项所述的元素检测装置，其特征在于，所述检测口的直径为2.5mm，所述距离标识上标识有距所述检测口的中心的距离为3jmm的目标点所在位置，其中，j为大于或等于1的整数。5.一种标样，其特征在于，用于对权利要求1至4中任一项所述的元素检测装置进行校准，所述标样的非测试面上设有角度标识，所述角度标识用于标识所述标样上的目标点转动至所述标样上的基准点的角度。6.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：任晓艳，
申请(专利权)人：北京铂阳顶荣光伏科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11