半导体装置以及包含半导体装置的半导体系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及半导体装置以及包含半导体装置的半导体系统。所述半导体装置包括：ECC解码器，其使用用于数据的错误检测码对所述数据执行诊断；ECC编码器，其针对与占构成所述数据的多个位的一部分的位范围等同的第一数据块生成错误检测码并且针对与占所述位的剩余部分的位范围等同的第二数据块生成错误检测码；以及诊断电路，其在所述ECC解码器尚未检测到所述数据中的错误时将所述数据的对应于所述第一数据块的一部分与用于生成所述第一错误检测码的所述第一数据块进行比较，并且将所述数据的对应于所述第二数据块的一部分与用于生成所述第二错误检测码的所述第二数据块进行比较。

【技术实现步骤摘要】
半导体装置以及包含半导体装置的半导体系统相关申请的交叉引用于2017年11月7日提交的日本专利申请No.2017-214727的、包含说明书、附图和摘要在内的全部公开内容通过引用在此并入本文。
本专利技术涉及半导体装置和包含半导体装置的半导体系统，并且关于例如适合于改善故障检测率同时抑制电路尺寸扩大的半导体装置和包含半导体装置的半导体系统。
技术介绍
当在具有不同宽度的总线之间传输数据时，用于在总线之间传输数据的总线桥接器在传输之前和之后改变数据的位宽度。现在，因为改变数据的位宽度涉及改变其错误校正码(ECC)的位宽度，所以需要在传输之前和之后通过合适的ECC替换附加到数据的ECC。在ECC替换期间，不可能使用ECC执行错误检测，并且因此，此类总线桥接器已经遇到故障检测率降低的问题。在专利文献1中公开了这个问题的解决方案。以专利文献1中所公开的构造采用重复接口电路。通过将两个接口电路的相应输出结果进行比较，在接口连接操作期间针对数据执行错误检测，因此改善故障检测率。[现有技术文献][专利文献][专利文献1]日本未审专利申请公布No.2009-282849
技术实现思路
然而，在专利文献1的构造中，因为采用重复接口电路(总线桥接器)，所以已经形成扩大电路尺寸的问题。其它问题和新颖特征将从本说明书和附图中的描述变得显而易见。根据一个实施例，一种半导体装置包括：ECC(错误校正码)解码器，其使用从发送电路发送的数据的错误检测码诊断是否在该数据中发生错误；ECC编码器，其针对与占构成所述数据的多个位的一部分的位范围等同的第一分割数据块生成第一错误检测码并且针对与占构成所述数据的所述位的剩余部分的位范围等同的第二分割数据块生成第二错误检测码；以及诊断电路，其在ECC解码器尚未检测到所述数据中的错误时将所述数据的对应于第一分割数据块的一部分与用于在ECC编码器中生成第一错误检测码的第一分割数据块进行比较并且将所述数据的对应于第二分割数据块的一部分与用于在ECC编码器中生成第二错误检测码的第二分割数据块进行比较。根据一个实施例，一种半导体装置包括：ECC(错误校正码)解码器，其使用从发送电路发送的数据的错误检测码诊断是否在该数据中发生错误；ECC编码器，其针对与占构成所述数据的多个位的一部分的位范围等同的第一分割数据块生成第一错误检测码并且针对与占构成所述数据的所述位的剩余部分的位范围等同的第二分割数据块生成第二错误检测码；以及诊断电路，其使用用于所述数据的错误检测码诊断是否在用于在ECC编码器中生成第一错误检测码的第一分割数据块和用于在ECC编码器中生成第二错误检测码的第二分割数据块中的每一者中发生错误。根据前述一个实施例，有可能提供使得能够改善故障检测率同时抑制电路尺寸扩大的半导体装置和包含半导体装置的半导体系统。附图说明图1是描绘关于第一实施例的半导体系统的构造示例的图。图2是描绘半导体系统中所提供的半导体装置的另一个具体示例的图。图3是示出图2中所描绘的半导体装置的操作的流程图。图4是描绘关于第二实施例的半导体系统的构造示例的图。具体实施方式为了描述清楚起见，在以下描述和附图中在适当之处做出缩写和简化。此外，在附图中被描述为用于执行各种处理任务的功能块的所有元件能够在硬件方面使用CPU、存储器和其它电路来构造，并且其在软件方面使用已经加载到存储器中的程序等来实施。因此，本领域的技术人员将理解，这些功能块能够以各种方式实施，即，仅通过硬件、仅通过软件或通过硬件/软件组合，并且其具体实施不限于任何一种方式。现在，在所有附图中向相同元件指派相同参考标号，并且视情况省略重复描述。此外，前述程序可以使用各种类型的非暂态计算机可读介质来存储，并且能够被供应到计算机。非暂态计算机可读介质包括各种类型的有形存储介质。非暂态计算机可读介质的示例包括磁性记录介质(例如，软盘、磁带或硬盘驱动器)、磁光记录介质(例如，磁光盘)、CD-ROM(只读存储器)、CD-R、CD-R/W以及半导体存储器(例如，掩模ROM、PROM(可编程ROM)、EPROM(可擦除PROM)、闪存ROM或RAM(随机存取存储器))。所述程序还可以通过各种类型的暂态计算机可读介质被供应到计算机。暂态计算机可读介质的示例包括电信号、光学信号和电磁波。暂态计算机可读介质能够经由诸如电线和光纤等有线通信路径或经由无线通信路径将所述程序供应到计算机。第一实施例图1是描绘关于第一实施例的半导体系统SYS1的构造示例的图。当在通过总线桥接器传输之前的数据D1中不存在错误时，关于本实施例的半导体系统SYS1在被传输之前的数据D1与被传输之后的分割数据块D11和D12之间进行比较，并且诊断是否在传输中数据中发生错误。因而，与仅仅采用重复总线桥接器的情况相比，关于本实施例的半导体系统SYS1使得能够改善故障检测率，同时抑制电路尺寸扩大。这将在下文中具体解释。如图1所描绘，半导体系统SYS1包括发送电路11、接收电路12、总线B11、总线B12、总线桥接器13以及诊断电路14。现在，半导体装置1由总线桥接器13和诊断电路14组成。发送电路11是用于发送数据D1及其错误检测码C1的电路。发送电路11是(例如)存储器，并且在读取模式中输出存储器的存储区域中所存储的数据D1及其错误检测码C1。数据D1及其错误检测码C1被供应到总线B11。在本实施例中，作为示例，描述数据D1具有256个位的位宽度并且其错误检测码C1具有10个位的位宽度的情况。现在，符号数据D1[a:b]表示具有宽度a-b+1的数据，所述宽度与数据D1中的从第a位到第b位的位范围(其中a≥b并且a和b两者均为整数)等同。总线桥接器13在总线B11与B12之间执行数据传输。例如，总线桥接器13将经由总线B11从发送电路11供应的256位宽数据D1划分为128位宽数据块D11和D12，所述数据块适于总线B12的总线宽度，并且将这些数据块依序输出到总线B12。另外，总线桥接器13使用错误检测码C1针对数据D1执行错误检测(并且如有可能，做出校正)，并且此外，针对128位宽数据块D11和D12中的每一者生成9位宽错误检测码C11和C12并且将这些码连同数据D11和D12一起输出到总线B12。在本实施例中，作为示例，描述数据D11对应于与数据D1中的高阶128个位等同的128位宽数据(即，数据D1[255:128])并且数据D12对应于与数据D1中的低阶128个位等同的128位宽数据(即，数据D1[127:0])的情况。具体地说，总线桥接器13包括ECC解码器131和ECC编码器132。ECC编码器132包括ECC编码器132a和ECC编码器132b。现在，ECC编码器132a和132b中的任一者可以用作单个共用ECC编码器。针对从发送电路11发送的数据D1使用错误检测码C1，ECC解码器131诊断是否在数据D1中发生错误。例如，如果在数据D1中不发生错误，则ECC解码器131按照原样输出数据D1并且将启用信号EN设置为活动(处于H电平)。否则，如果在数据D1中发生错误，则ECC解码器131校正数据D1并接着将其输出，并且此外，将启用信号EN设置为不活动(处于L电平)。现在，如果不可能校正数据D1，则将启用信号EN固定于不本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体装置，包括：ECC(错误校正码)解码器，所述ECC解码器使用从发送电路发送的数据的错误检测码，来诊断是否在该数据中发生错误；ECC编码器，所述ECC编码器针对与占构成所述数据的多个位的一部分的位范围等同的第一分割数据块来生成第一错误检测码，并且针对与占构成所述数据的所述位的剩余部分的位范围等同的第二分割数据块来生成第二错误检测码；以及诊断电路，在由所述ECC解码器未检测到所述数据中的错误时，所述诊断电路将所述数据中的对应于所述第一分割数据块的一部分与用于在所述ECC编码器中生成所述第一错误检测码的所述第一分割数据块进行比较，并且将所述数据中的对应于所述第二分割数据块的一部分与用于在所述ECC编码器中生成所述第二错误检测码的所述第二分割数据块进行比较。

【技术特征摘要】
2017.11.07 JP 2017-2147271.一种半导体装置，包括：ECC(错误校正码)解码器，所述ECC解码器使用从发送电路发送的数据的错误检测码，来诊断是否在该数据中发生错误；ECC编码器，所述ECC编码器针对与占构成所述数据的多个位的一部分的位范围等同的第一分割数据块来生成第一错误检测码，并且针对与占构成所述数据的所述位的剩余部分的位范围等同的第二分割数据块来生成第二错误检测码；以及诊断电路，在由所述ECC解码器未检测到所述数据中的错误时，所述诊断电路将所述数据中的对应于所述第一分割数据块的一部分与用于在所述ECC编码器中生成所述第一错误检测码的所述第一分割数据块进行比较，并且将所述数据中的对应于所述第二分割数据块的一部分与用于在所述ECC编码器中生成所述第二错误检测码的所述第二分割数据块进行比较。2.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，所述诊断电路被构造为：在已经由所述ECC解码器检测到所述数据中的错误时，不执行比较。3.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，所述ECC编码器被构造为：输出所述第一分割数据块与所述第一错误检测码的组合以及所述第二分割数据块与所述第二错误检测码的组合中的任意一个组合，并且相继输出另一个组合。4.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，所述ECC编码器包括：第一ECC编码器，所述第一ECC编码器输出所述第一分割数据块和所述第一错误检测码；以及第二ECC编码器，所述第二ECC编码器输出所述第二分割数据块和所述第二错误检测码。5.一种半导体系统，包括：发送电路，所述发送电路发送数据；如权利要求1所述的半导体装置，所述半导体装置通过将从所述发送电路发送的所述数据划分为分割数据块来生成所述第一分割数据块和所述第二分割数据块，并且分别针对所述第一分割数据块和所述第二分割数据块来生成所述第一错误检测码和所述第二错误检测码；以及接收电路，所述接收电路接收所述第一分割数据块和所述第二分割数...

【专利技术属性】
技术研发人员：川西徹，寺沼整，平野政明，
申请(专利权)人：瑞萨电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP