【技术实现步骤摘要】
一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法
本专利技术涉及检测测定领域，具体涉及一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法。
技术介绍
目前，一般传统的X荧光分析仪要测量钠、镁、铝、硅等轻元素，需要抽真空，把X射线管、探测器与待测样品之间的空气抽干净，以消除空气分子对这些轻元素荧光射线能量的吸收，获得对轻元素较高的测量精度，在空气条件下测量轻元素时由于空气对轻元素的低能射线的吸收，特别是液体样品测量时无法进行抽真空，因此轻元素测量难以获得较高的精度。硅溶胶是一种为纳米级的二氧化硅颗粒在水中或溶剂中的分散液,它呈液体状态，常用于耐火材料粘结剂、精密铸造、催化剂、造纸、纺织等行业，用途非常广泛，其中精密铸造中硅溶胶液体的SiO2含量范围为：28-32％,Na2O含量0.10-0.50％。硅溶胶液体以前一般采用化学分析方法,目前尚无用X射线荧光方法测试的先例，主要原因是硅溶胶为液体状态，对X射线荧光方法来说,一般对液体样品采用装液体杯测量方式，液体杯下绷有6微米的聚酯薄膜，而钠的x射线能量为1.04kev,无法穿透该薄膜,所以不能分析钠的含量.附图1为硅溶胶液体中Na2...
【技术保护点】
1.一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：根据硅溶胶的液体样品的浓度确定样品与固体熔剂的比例；步骤二：根据试验熔片的质量确定熔样温度及熔样时间，脱模剂的种类及数量后进行熔样处理，制得玻璃熔片；步骤三：进一步确定X射线荧光测试条件后，采用已知化学分析的标准样品，按上述所确定的测试方法，进行测试，进行工作曲线标定，后将待测样品代入工作曲线后获得其浓度指标。
【技术特征摘要】
1.一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：根据硅溶胶的液体样品的浓度确定样品与固体熔剂的比例；步骤二：根据试验熔片的质量确定熔样温度及熔样时间，脱模剂的种类及数量后进行熔样处理，制得玻璃熔片；步骤三：进一步确定X射线荧光测试条件后，采用已知化学分析的标准样品，按上述所确定的测试方法，进行测试，进行工作曲线标定，后将待测样品代入工作曲线后获得其浓度指标。2.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述轻元素包括钠、镁、铝、硅中的任意一种或多种。3.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述固体熔剂是四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂，按重量百分比计算，所述四硼...
【专利技术属性】
技术研发人员：苏建平，郭晓明，乔文韬，
申请(专利权)人：上海精谱科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31
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