测试装置及分类装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种测试装置及含有测试装置的分类装置。本设计方案的测试装置具有以下机构：1、承载底部有端子的电子元件，设有含被电子元件塞住的贯通孔的1个以上孔穴之测试台；2、至少穿过1个孔来接触端子进行通电之探针；3、可移动于从测试台分离的第1位置与收纳电子元件之密闭空间和测试台共同形成的第2位置之间的米密闭空间形成手段；4、在密闭空间内注入气体让密闭空间内的气压比贯通孔内的气压高的注入手段。在本设计方案的形态中，所述电子元件为发光元件，收光方式为在形成密闭空间的壁中，与在密闭空间内收纳的发光元件发光面对向发光壁，由光可通过之透光部件构成，由所述透光部件，接收发光元件所发出的光。

【技术实现步骤摘要】
测试装置及分类装置
本专利技术涉及一种测试装置及含有测试装置的分类装置。
技术介绍
一直以来，被认知为测试发光元件等电子元件的特性再依据测试结果进行分类电子元件的装置。在这样的装置，透过承载发光元件的测试台形成孔，以探针接触发光元件的端子进行通电来测试发光元件的光学特性。以探针接触发光元件端子之际，为了让发光元件之位置不会因探针加压力道而产生偏移，必须实施一些对策。例如在专利文献1（特开2005－233663号公报）所提到，从探针接触方向的反侧压住发光元件的发光面边缘部分以抑制发光元件的位置偏移。然而，近年随着发光元件朝微小化发展，像这样的发光元件，因为发光面的边缘部分面积小，为了不产生位置偏移而压住边缘的做法有困难之处。而且，压住发光面边縁部分的部件与发光面重叠，可能也会造成光学特性的测试値不稳定。
技术实现思路
本设计方案有鉴于上述课题，其目的为针对测试电子元件特性的装置让测试值稳定。为了解决上述课题，本设计方案的测试装置具有以下机构：1、承载底部有端子的电子元件，设有含被电子元件塞住的贯通孔的1个以上孔穴之测试台；2、至少穿过1个孔来接触端子进行通电之探针；3、可移动于从测试台分离本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.测试装置及分类装置，其特征在于：针对底部有端子的电子元件，将电子元件穿过吸嘴孔，接触放电极进行通电测试，由注入部向密闭空间注入气体，将电子元件通过气压压紧在吸嘴上，避免电子元件滑动的测试装置。

【技术特征摘要】
2017.10.06 JP JP2017-004593U1.测试装置及分类装置，其特征在于：针对底部有端子的电子元件，将电子元件穿过吸嘴孔，接触放电极进行通电测试，由注入部向密闭空间注入气体，将电子元件通过气压压紧在吸嘴上，避免电子元件滑动的测试装置。2.根据权利要求1所述的测试装置及分类装置，其特征在于：所述电子元件为发光元件，所述发光元件的收光方式为在形成所述密闭空间的内壁中，与在密闭空间内收纳的发光元件发光面对向收光壁，由光可通过的透光部件构成，由所述透光部件，接收发光元件所发出的光。3.根据权利要求1所述的测试装置及分类装置，其特征在于：所述探针从不接触端子的非通电位置移动至接触端子的通电位置前，为了在所述密闭空间内注入气体，具有控制注入手段的控制方式。4.根据权利要求1所述的测试装置及分类装置，其特征在于：所述搬送台...

【专利技术属性】
技术研发人员：山内威，
申请(专利权)人：苏州嘉大电子有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32