一种基于肖特基势垒高度可调的光检测器制造技术

技术编号:20687636 阅读:32 留言:0更新日期:2019-03-27 20:44
本实用新型专利技术涉及一种基于肖特基势垒高度可调的光检测器,包括衬底层,衬底层的上方设置有第一电极层,第一电极层的上方设置有有机材料,有机材料的上表面还覆盖有第二电极层,有机材料的下部靠近第一电极处设置有与第一电极层延伸方向平行的通孔,该通孔内设置有电热材料,该电热材料的两端分别与外接控制电源的正、负电极连接;该基于肖特基势垒高度可调的光检测器,通过在有机材料中设置电热材料,并且在电热材料上加载外接电极,通过调节电热材料两端的电压/电流,来控制电热材料的发热效率,从而改变整个有机材料内部的载流子分布,使得该光检测器对于所检测的入射光的共振频率发生变化,从而达到调节入射光共振频率的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种基于肖特基势垒高度可调的光检测器
本专利技术涉及光电探测器
,具体涉及一种基于肖特基势垒高度可调的光检测器。
技术介绍
光电探测器的物理效应通常分为光子效应和光热效应,对应的探测器分别称为光子型探测器和光热型探测器。各种光子型探测器的共同特征是采用半导体能带材料,光子能量对探测材料中光电子的产生起直接作用,故光子型探测器存在截止响应频率或波长,且光谱响应限于某一波段,因此不同的材料体系决定了探测器具有不同的响应波长范围,一般难以用于宽谱或多谱段探测。对于光热型探测器,在吸收光辐射能量后,并不直接引起内部电子状态的改变,而是把吸收的光能变为晶格的热运动能量,引起探测元件温度上升,从而引起探测元件的电学性质或其他物理性质发生变化,故光热效应与光子能量的大小没有直接关系,光热型探测器原则上对频率没有选择性。由于红外波段特别是中长波红外以上波段的光热效应相比紫外和可见光更明显,故光热探测器通常用于中长波光学辐射的探测,典型的光热型探测器包括微测辐射热计、热释电探测器和热偶探测器等种类。由于温度升高是热积累的作用,基于光热效应的热探测器一般响应速度较慢,在毫秒量级。采用金属-半导体势本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于肖特基势垒高度可调的光检测器,包括衬底层(1),所述衬底层(1)的上方设置有第一电极层(2),所述第一电极层(2)的上方设置有有机材料(3),其特征在于:所述有机材料(3)的上表面还覆盖有第二电极层(4),有机材料(3)的下部靠近第一电极层(2)处设置有与第一电极层(2)延伸方向平行的通孔(5),该通孔(5)内设置有电热材料(6),该电热材料(6)的两端分别与外接控制电源的正、负电极连接。

【技术特征摘要】
1.一种基于肖特基势垒高度可调的光检测器,包括衬底层(1),所述衬底层(1)的上方设置有第一电极层(2),所述第一电极层(2)的上方设置有有机材料(3),其特征在于:所述有机材料(3)的上表面还覆盖有第二电极层(4),有机材料(3)的下部靠近第一电极层(2)处设置有与第一电极层(2)延伸方向平行的通孔(5),该通孔(5)内设置有电热材料(6),该电热材料(6)的两端分别与外接控制电源的正、负电极连接。2.如权利要求1所述的一种基于肖特基势垒高度可调的光检测器,其特征在于:所述通孔(5)为S形分布。3.如权利要求1所述的一种基于肖特基势垒高度可调的光检测器,其特征在于:所述通孔(5)为Z形折线分布。4.如权利要求1或2或3所述的一种基于肖特基势垒高度可调的光检测器,其特征在于:所述通孔(...

【专利技术属性】
技术研发人员:不公告发明人
申请(专利权)人:中山科立特光电科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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