【技术实现步骤摘要】
一种光模块的检测方法、装置、设备及存储介质
本专利技术涉及光模块
，特别是涉及一种光模块的检测方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
SFP(SmallForm-factorPluggable，小型可插拔)光模块作为GBIC(GigabitInterfaceConverter，千兆比特接口转换器)的升级版本，压缩了尺寸和功耗，在光通信中有着广泛的应用。在此基础上，SFP+光模块实现了尺寸相同的条件下的传输万兆信号的功能，具有高密度、低功耗、更低系统构造成本等显著优点，已经逐渐成为万兆市场的主流。现有的SFP+光模块千差万别，在不同场合中用于满足用户的不同业务需求，设计有不同的信号传输通道的模型。由于信号通道的不同，因此目前没有固定的定义对SFP+光模块进行管控。在验证具体的某个SFP+光模块的信号性能时，通常的方案是直接对其进行实验。即需要对SFP+光模块施加某一频率的检测信号，同时获取输出信号，进而再利用相关软件分析出当前信号频率下的插入损耗和/或回波损耗，检测插入损耗和/或回波损耗是否符合规范，从而确定当前信号频率下，该SFP+光模块是否合格。并且SFP...
【技术保护点】
1.一种光模块的检测方法，其特征在于，包括：构建在预设的信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合插损规范的插入损耗范围，作为构建出的目标插入损耗区域；获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量；将所述微带差分线长度，所述带状差分线长度，所述过孔数量以及所述连接器数量代入预先构建的第一模型中，确定出所述待测光模块在所述信号频率范围内的插入损耗曲线；当判断出所述插入损耗曲线存在超出所述目标插入损耗区域的部分时，确定所述待测光模块为不合格的光模块。
【技术特征摘要】
1.一种光模块的检测方法，其特征在于，包括：构建在预设的信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合插损规范的插入损耗范围，作为构建出的目标插入损耗区域；获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量；将所述微带差分线长度，所述带状差分线长度，所述过孔数量以及所述连接器数量代入预先构建的第一模型中，确定出所述待测光模块在所述信号频率范围内的插入损耗曲线；当判断出所述插入损耗曲线存在超出所述目标插入损耗区域的部分时，确定所述待测光模块为不合格的光模块。2.根据权利要求1所述的光模块的检测方法，其特征在于，还包括：构建在所述信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合回损规范的回波损耗范围，作为构建出的目标回波损耗区域；将所述微带差分线长度，所述带状差分线长度，所述过孔数量以及所述连接器数量代入预先构建的第二模型中，确定出所述待测光模块在所述信号频率范围内的回波损耗曲线；当判断出所述回波损耗曲线存在超出所述目标回波损耗区域的部分时，确定所述待测光模块为不合格的光模块。3.根据权利要求1所述的光模块的检测方法，其特征在于，所述第一模型为通过以下步骤构建的模型：构建初始模型：IL＝k1(f)·L1+k2(f)·L2+k3(f)·N1+k4(f)·N2；其中，IL为插入损耗，L1为所述微带差分线长度，L2为所述带状差分线长度，N1为所述过孔数量，N2为所述连接器数量，k1(f)，k2(f)，k3(f)，以及k4(f)为受信号频率f影响的，有着各自的待定系数的表达式；采集多个样本光模块各自的所述微带差分线长度，所述带状差分线长度，所述过孔数量以及所述连接器数量，并检测各个所述样本光模块在所述信号频率范围内的不同频率时的插入损耗，代入所述初始模型中，通过拟合的方式确定出k1(f)，k2(f)，k3(f)，以及k4(f)这四个表达式中各自的待定系数的取值；将确定了k1(f)，k2(f)，k3(f)，以及k4(f)这四个表达式中的待定系数的取值之后的所述初始模型作为构建出的所述第一模型。4.根据权利要求1至3任一项所述的光模块的检测方法，其特征在于，在所述当判断出所述插入损耗曲线存在超出所述目标插入损耗区域的部分时...
【专利技术属性】
技术研发人员：王林，刘法志，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41
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