【技术实现步骤摘要】
半导体装置相关申请的交叉引用本申请基于日本专利申请2017-180357号(申请日:2017年9月20日)主张优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。
实施方式一般涉及半导体装置。
技术介绍
作为用于功率控制等用途的半导体装置,有MOSFET(MetalOxideSemiconductorFieldEffectTransistor:金属氧化物半导体场效应晶体管)。关于这样的MOSFET,提出了内置有二极管的构造。MOSFET的动作中,通过漏极电极相对于源极电极被正向偏置,从漏极电极向源极电极流过电流。另一方面,二极管的动作中,通过漏极电极相对于源极电极被负向偏置,内置二极管成为导通状态,从源极电极向漏极电极流过电流。用于功率控制等用途的一般的MOSFET中,与源极电极接触的p基底区域起到pn二极管的p区域(阳极)的作用,与漏极电极接触的n区域起到pn二极管的n区域(阴极)的作用,通过在MOSFET内部具有pn二极管,在栅极断开(gateoff)时向漏极施加了负偏置时,从与源极电极接触的p基底区域流过空穴,从与漏极电极接触的n区域流过电子,内置二极 ...
【技术保护点】
1.一种半导体装置,其中,具备:第1电极;第2电极;第1导电型的第1半导体区域,设置在上述第1电极以及上述第2电极之间;多个第2导电型的第2半导体区域,设置在上述第1半导体区域以及上述第2电极之间,在与从上述第1电极朝向上述第2电极的方向垂直的平面内,在第1方向上延伸并在与上述第1方向交叉的第2方向上配置;多个第1导电型的第3半导体区域,设置在上述多个第2半导体区域以及上述第2电极之间,与上述第2电极电连接;多个第3电极,该多个第3电极与在上述第2方向上位于上述第2半导体区域间的上述第1半导体区域之间进行肖特基连接,该多个第3电极在上述第1方向上延伸,在上述第2方向上配置, ...
【技术特征摘要】
2017.09.20 JP 2017-1803571.一种半导体装置,其中,具备:第1电极;第2电极;第1导电型的第1半导体区域,设置在上述第1电极以及上述第2电极之间;多个第2导电型的第2半导体区域,设置在上述第1半导体区域以及上述第2电极之间,在与从上述第1电极朝向上述第2电极的方向垂直的平面内,在第1方向上延伸并在与上述第1方向交叉的第2方向上配置;多个第1导电型的第3半导体区域,设置在上述多个第2半导体区域以及上述第2电极之间,与上述第2电极电连接;多个第3电极,该多个第3电极与在上述第2方向上位于上述第2半导体区域间的上述第1半导体区域之间进行肖特基连接,该多个第3电极在上述第1方向上延伸,在上述第2方向上配置,与上述第2电极电连接;以及多个栅极电极,在上述第1半导体区域、上述第2半导体区域以及上述第3半导体区域上,隔着栅极绝缘膜而设置,在上述第1方向上延伸,在上述第2方向上与上述多个第3电极并行地配置,在由从上述第1电极朝向上述第2电极的方向和上述第2方...
【专利技术属性】
技术研发人员:水上诚,
申请(专利权)人:株式会社东芝,东芝电子元件及存储装置株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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