半导体集成电路制造技术

提供半导体集成电路，能够对特性设置差异。实施方式的半导体集成电路具有第一端子和第二端子。通过使从外部输入的输入电压变化，所述第一端子与所述第二端子之间的电阻值发生变化。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的实施方式涉及半导体集成电路。

技术介绍

1、例如，有时通过从外部进行的试验来辨别多种半导体集成电路。在该情况下，若能够通过从外部对半导体集成电路进行试验而确认的特性在多种半导体集成电路之间接近，则有时难以辨别半导体集成电路。

技术实现思路

1、本专利技术所要解决的课题在于提供一种能够对特性设置差异的半导体集成电路。

2、实施方式的半导体集成电路具有第一端子和第二端子。通过使从外部输入的输入电压变化，所述第一端子与所述第二端子之间的电阻值发生变化。

【技术保护点】

1.一种半导体集成电路，其特征在于，具备：

2.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其特征在于，

6.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其特征在于，

7.根据权利要求6所述的半导体集成电路，其特征在于，

8.根据权利要求7所述的半导体集成电路，其特征在于，

9.根据权利要求6所述的半导体集成电路，其特征在于，p>

10.根据...

【技术特征摘要】

1.一种半导体集成电路，其特征在于，具备：

2.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其特征在于，

6.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其特征在于，

7.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：林庸行，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：