The invention discloses a method for detecting coating defects, which belongs to the technical field of non-destructive testing. The detection method includes the following steps: A. obtaining thermal image data by using flash thermal imaging non-destructive testing equipment; B. removing background and standardizing thermal image data; C. vectorizing each frame of thermal image after standardization, and sequentially arranging to construct a new matrix; D. using PCA method to obtain the characteristic image of the defect; E. will obtain; The feature image is segmented to quantify the size of the defect in the actual sample. Compared with the coating defect detection method in the prior art, the invention has the advantages of automatic detection, quantifiable coating defect and high detection efficiency.
【技术实现步骤摘要】
一种涂层缺陷的检测方法
本专利技术涉及一种涂层缺陷的检测方法,属于无损检测
技术介绍
无损检测技术是指在不损害或不影响被检测对象的使用性能及内部组织的前提下,保证在役设备安全运行的重要手段。闪光热成像技术是通过利用闪光灯主动加热的方式,实现大范围上不同大小缺陷的快速检测,可用于检测板型导体或非导体材料。目前使用的红外热成像技术对材料缺陷的检测还局限于人为选择热成像仪记录的视频帧图来定位缺陷,这类处理方式会丢失大量数据信息且效率低下,且无法对缺陷进行量化。如公开号为CN103630543A,名称为“一种利用脉冲红外热波检测吸波涂层缺陷的判定方法”的专利技术专利,该方法仅仅能判断区域为正常区域还是脱粘区域,无法得出具有缺陷的量化信息,且检测手段繁琐,检测效率低下。
技术实现思路
本专利技术旨在解决现有技术中涂层缺陷的检测方法不能得出涂层缺陷的量化信息的技术问题,提供一种新的涂层检测方法,可自动准确地判定缺陷的数量及位置并量化缺陷的大小。为了实现上述专利技术目的,本专利技术的技术方案如下:一种涂层缺陷的检测方法,其特征在于:包括以下步骤:A.利用闪光热成像无损检测设备获得热图像数据;B.对热图像数据进行去除背景处理及标准化处理;C.对标准化处理后的每一帧热图片进行向量化处理,并顺序化排列,构架出一个新矩阵;D.利用PCA法得到表征缺陷的特征图像;E.将得到的特征图像进行图像分割处理,量化出实际试件中缺陷的大小。闪光红外热成像是基于红外辐射原理,通过记录被检测试件由于缺陷所引起的温度变化来检测表面及亚表面缺陷的无损检测方法。被检物体内部的不连续,如缺陷及结构 ...
【技术保护点】
1.一种涂层缺陷的检测方法,其特征在于:包括以下步骤:A.利用闪光热成像无损检测设备获得热图像数据;B.对热图像数据进行去除背景处理及标准化处理;C.对标准化处理后的每一帧热图片进行向量化处理,并顺序化排列,构架出一个新矩阵;D.利用PCA法得到表征缺陷的特征图像;E.将得到的特征图像进行图像分割处理,量化出实际试件中缺陷的大小。
【技术特征摘要】
1.一种涂层缺陷的检测方法,其特征在于:包括以下步骤:A.利用闪光热成像无损检测设备获得热图像数据;B.对热图像数据进行去除背景处理及标准化处理;C.对标准化处理后的每一帧热图片进行向量化处理,并顺序化排列,构架出一个新矩阵;D.利用PCA法得到表征缺陷的特征图像;E.将得到的特征图像进行图像分割处理,量化出实际试件中缺陷的大小。2.如权利要求1中所述的涂层缺陷的检测方法,其特征在于:步骤A中,所述闪光热成像无损检测设备包括红外热像仪和卤素灯。3.如权利要求1中所述的涂层缺陷的检测方法,其特征在于:步骤B中,所述标准化处理是按列零均值标准化进行处理,原始数据的标准化计算式如下:式中:4.如权利要求1中所述的涂层缺陷的检测方法,其特征在于:步骤E中,进行图像分割处理的方法为区域生长法。5.如权利要求4中所述的涂层缺陷的检测方法,其特征在于:步骤E中,量化出实际试件中缺陷的大小的具体做法是:在对...
【专利技术属性】
技术研发人员:梁鑫,丁祖群,朱丽,邱静,高斌,程红霞,
申请(专利权)人:成都飞机工业集团有限责任公司,电子科技大学,
类型:发明
国别省市:四川,51
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