The invention relates to a carbon nanotube observation method, which includes: providing a one-dimensional nano-material to be measured; immersing the one-dimensional nano-material to be measured in a coupling liquid; providing a first incident light and a second incident light simultaneously irradiating the one-dimensional nano-material to be measured, and the one-dimensional nano-material to be measured undergoes resonance Rayleigh under the first incident light and the second incident light irradiation. Scattering, the first incident light and the second incident light have a continuous spectrum and the incident direction is not parallel to each other; and the one-dimensional nanomaterials to be measured for resonance Rayleigh scattering are observed by optical microscopy. The observation method provided by the invention can observe one-dimensional nanomaterials with arbitrary morphological structure and arrangement direction, and obtain position, morphology and chiral information of the one-dimensional nanomaterials.
【技术实现步骤摘要】
一种一维纳米材料的观测方法
本专利技术涉及一种一维纳米材料的观测方法,尤其涉及一种利用光学显微镜观测一维纳米材料的方法。
技术介绍
现有方法制备出一维纳米材料,例如碳纳米管,通常是由不同手性、不同管径、不同长度的混杂在一起。相互混杂的碳纳米管可以通过自身手性进行量化区分。不同手性的碳纳米管在发生共振瑞利散射时呈现出不同的色彩。武文赟等提供了一种观测纳米材料手性的方法及装置,利用碳纳米管的共振瑞利散射图像判断多根碳纳米管手性是否一致,并可以进一步计算每一根碳纳米管的手性指数。然而该方法及装置对被测纳米材料的形态结构及排列方向有一定的限制。例如,若被测碳纳米管存在弯曲或弯折,利用该方法及装置获得的图像的质量将显著下降甚至无法成像。
技术实现思路
有鉴于此,确有必要提供一种一维纳米材料的的观测方法,用于区分任意形态结构及排列方向的一维纳米材料。一种一维纳米材料的观测方法,包括以下步骤:提供一待测一维纳米材料;将所述待测一维纳米材料浸没于耦合液中;提供一第一入射光以及一第二入射光同时照射所述待测一维纳米材料,该待测一维纳米材料在所述第一入射光与所述第二入射光的照射下发生共振瑞利散射,所述第一入射光与所述第二入射光具有连续光谱且入射方向互不平行;以及利用光学显微镜观测发生共振瑞利散射的待测一维纳米材料。与现有技术相比较,本专利技术提供的一维纳米材料观测方法可以观测任意形态结构及排列方向的碳纳米管,获取该碳纳米管的位置、形态及手性信息。附图说明图1为本专利技术第一实施例提供的碳纳米管观测方法流程图。图2为本专利技术第一实施例提供的碳纳米管观测方法原理示意图。图3为利用本专 ...
【技术保护点】
1.一种一维纳米材料的观测方法,其特征在于,包括以下步骤:提供一待测一维纳米材料;将所述待测一维纳米材料浸没于耦合液中;提供一第一入射光以及一第二入射光同时照射所述待测一维纳米材料,该待测一维纳米材料在所述第一入射光与所述第二入射光的照射下发生共振瑞利散射,所述第一入射光与所述第二入射光具有连续光谱且入射方向互不平行;以及利用光学显微镜观测发生共振瑞利散射的待测一维纳米材料。
【技术特征摘要】
1.一种一维纳米材料的观测方法,其特征在于,包括以下步骤:提供一待测一维纳米材料;将所述待测一维纳米材料浸没于耦合液中;提供一第一入射光以及一第二入射光同时照射所述待测一维纳米材料,该待测一维纳米材料在所述第一入射光与所述第二入射光的照射下发生共振瑞利散射,所述第一入射光与所述第二入射光具有连续光谱且入射方向互不平行;以及利用光学显微镜观测发生共振瑞利散射的待测一维纳米材料。2.如权利要求1所述的一维纳米材料的观测方法,其特征在于,进一步包括:获取发生共振瑞利散射的待测一维纳米材料的光谱信息,根据该光谱信息计算所述待测一维纳米材料的手性指数。3.如权利要求1所述的一维纳米材料的观测方法,其特征在于,所述待测一维纳米材料为碳纳米管、石墨烯窄带、金属纳米线、或碳纤维。4.如权利要求3所述的一维纳米材料的观测方法,其特征在于,所述碳纳米管为单壁碳纳米管。5.如权利要求1所述的一维纳米材料的观测方法,其特征在于,所述待测一维纳米材料水平排列于一基底的表面。6.如权利要求5所述的一维纳米材料的观测方法,其特征在于,所述第一入射光与所述基底的表面的夹角a1的范围为大于45°且小于90°,所述第二入射光与所述基底的表面的夹角a2的范围为大于45°且小于90°。7.如权利要求6所述的一维纳米材料的观测方法,其特征在于,a1=a2。8.如权利要求6或7所述的一维纳米材料的观测方法,其特征在于,所述第一入射光与所述第二入射光相...
【专利技术属性】
技术研发人员:武文赟,李东琦,张金,姜开利,范守善,
申请(专利权)人:清华大学,鸿富锦精密工业深圳有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
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