一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，包括界面工具，设置于上位机的、与界面工具之间具有交互的第一子平台，设置于下位机的、与第一子平台之间具有交互的第二子平台；界面工具作为人机交互接口，用于进行测试代码编辑和编译，供用户编辑测试项流程、输入测试控制指令、进行测试项调试；第一子平台根据从界面工具接收的指令对半导体存储器老化测试装置进行硬件设置；第二子平台根据加载的测试主程序以及在界面工具中编辑的测试项流程控制半导体存储器老化测试装置的测试核心板进行半导体存储器测试；该测试平台可充分发挥硬件装置的测试性能，兼顾了软件开发的可重用性，并提供了多种测试工具，可极大提高测试程序的调试验证效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台
本专利技术属于半导体存储器老化测试
，更具体地，涉及一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台。
技术介绍
通过老化测试可以加速半导体存储器件失效让其缺陷单元尽早暴露出来。老化测试系统包括老化测试箱、测试模块、数据处理模块及系统控制模块。从软件工程层面，测试开发工程师首先需要根据用户的测试计划建立测试项目，对程式进行在线检查和调试，确保每个测试项调试通过，然后对整个测试流程进行试运行，并根据用户的需求规范将测试结果与用户原有的结果进行比对，确保测试结果满足用户的需求，最后，产品工程师将验证好的测试程式导入产线，开始进行量产测试。在以上各个环节，测试人员都需要操作相应的软件工具来达成各阶段目标，最终实现产品的量产。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本专利技术提供了一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，其目的在于为半导体存储器老化测试装置提供程式调试工具以及测试工具。为实现上述目的，按照本专利技术的一个方面，提供了一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，包括界面工具，设置于上位机的、与界面工具之间通过内部通讯协议交互的第一子平台，以及设置于下位机的、与第一子平台之间通过TCP/IP通讯协议交互的第二子平台；其中，界面工具作为人机交互接口，用于为开发测试程式提供编辑和编译工具以供进行测试代码的编辑和编译生成测试主程序；供用户编辑测试项流程、输入测试控制指令、进行测试项调试；第一子平台具有与界面工具通信的接口，用于根据从界面工具接收的指令对半导体存储器老化测试装置进行硬件设置；第二子平台用于根据加载的测试主程序以及在界面工具中编辑的测试项流程控制半导体存储器老化测试装置的测试核心板对半导体存储器进行测试，并读取测试结果反馈给上位机；测试结果发送到界面工具显示给用户；并可通过上位机加载的分析工具进一步对当前批次或所有批次的DUT老化测试数据进行分析。优选的，上述用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，第一子平台还包括硬件抽象层，该硬件抽象层用于模拟下位机返回的数据，使得第一子平台不依赖于下位机和半导体存储器老化测试装置的硬件独立运行，以进行不依赖于设备的离线测试。优选的，上述用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，其界面工具包括并列的测试主界面、编辑界面以及测试工具；其中，测试主界面用于编辑测试项流程、根据用户的测试控制指令进行测试控制、显示测试监控信息以及测试结果、以及对半导体存储器老化测试装置老化室温度进行监控和控制；编辑界面用于为开发测试程式提供编辑和编译工具，在编辑界面可以进行代码的编辑和编译，Scramble和Pattern文件的编辑和编译；测试工具用于测试项调试，包括分配测试资源的Pin脚分配工具，查看和修改测试条件的测试条件监控工具，查看和修改时序信息的时序调试工具，查看波形并检查输入输出信号是否与模板一致的波形绘制工具，扫描多维测试参数用于寻找合格范围以确定合适参数的二维参数扫描测试工具，分步调试DUT测试程序并根据调试结果来修改DUT测试程序的调试工具，根据测试结果显示被测芯片的故障单元数量及所在位置的故障单元显示工具。优选的，上述用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，其第一子平台包括接口层和业务层；其中，接口层用于提供对外的接口和协议，方便开发人员通过界面工具开发不同功能的测试程序；业务层封装有与测试业务关联的功能设置模块以对界面工具进行支撑，用于进行引脚状态设置、电压和电流条件设置、时序发生设置、交流/直流测试及功能测试的设置、测试结果处理、内存模块设置、报警显示设置、时钟脉冲设置。优选的，上述用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，其第一子平台还包括基础层；基础层封装有适用上位机和下位机的跨平台基础库以进行日志打印、基础通讯库和/或文件操作；通过对基础库按照跨平台的要求进行封装，使封装好的跨平台基础库适用上位机和下位机，从而极大地提高软件系统开发效率。优选的，上述用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，其跨平台基础库包括日志打印库、基础通讯库、文件操作库。优选的，上述用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，接口层包括界面工具通讯模块、下位机通讯模块以及用户接口；其中，界面工具通讯模块用于与界面工具进行信息交互，发送处理后的信息给界面工具，接收用户从界面工具输入的信息；下位机通讯模块用于与下位机进行信息交互，发送需要下位机处理的信息，接收下位机处理后的信息；用户接口用于接收来测试主程序的数据，向下位机发送这些数据并获取处理后的结果。优选的，上述用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，基础层还包括日志管理模块，通过日志管理模块统一管理系统打印的日志和测试打印的日志，提高设备的开发和调试的效率，并为后期维护提供便利。优选的，上述用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，业务层还包括预编译模块，用于对测试程式进行统一的代码检查和设定检查，统一管理包括Scramble编译器、Pattern编译器的不同编译器以及链接器，并整合arm-linux的编译器，以在windows平台编译适用于下位机运行的程序，简化代码开发和编译步骤，提升测试效率。优选的，上述用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，其第二子平台包括测试主模块、硬件控制模块和设备驱动模块；其中，测试主模块运行测试主程序，根据测试主界面编辑的测试项流程对半导体存储器老化测试装置的测试核心板进行控制以给待测DUT提供测试信号和电源，并读取DUT测试结果反馈给上位机；设备驱动模块用于对半导体存储器老化测试装置测试核心板上的硬件进行驱动；包括对FPGA寄存器及外设进行驱动，温度传感器驱动，FPGA寄存器读写驱动，RAM读写驱动，EEPROM存储器驱动，实时时钟驱动；硬件控制模块用于为测试主模块和上位机提供统一的接口，包括引脚操作相关接口、电压和电流设置接口、时序发生的设置接口、AC/DC(交流/直流)测试及功能测试相关的设置接口、测试结果处理接口、内存模块操作接口、报警设置接口、时钟脉冲设置接口。优选的，上述用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，其第二子平台还包括FPGA程序升级模块、主程序加载模块；其中，FPGA程序升级模块用于接收上位机下发的待升级FPGA程序，自动替换旧版程序并备份，从而实现FPGA程序的升级功能；主程序加载模块用于响应上位机发送的开始测试命令，自动将最新的测试主程序加载到下位机并运行。总体而言，通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：本专利技术提供的用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，上位机可采用搭载Windows操作系统的PC机，下位机采用嵌入式的ARM+FPGA架构，采用Linux操作系统，通过对上位机软件工具和下位机软件工具的合理架构，充分利用ARM嵌入式系统高性能和低功耗的优势，从而可以更好地发挥硬件装置的测试性能；其优选方案通过规划统一的跨平台基础库，方便上位机和下位机软件共同使用，兼顾了软件开发的可重用性，可极大提高测试程序的调试验证效率；界面工具配合第一子平台业务层为测试研发人员以及用户应用需求提供了灵活的测试项流程和一系列实用的界面工具，可以极大地提高产品量产前测试程序的调试验证效率；其优选方案通过硬件抽象层本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，其特征在于，包括界面工具，设置于上位机的、与界面工具之间通过内部通讯协议交互的第一子平台，以及设置于下位机的、与第一子平台之间通过TCP/IP通讯协议交互的第二子平台；所述界面工具作为人机交互接口，提供编辑编译工具以进行测试代码编辑和编译生成测试主程序；供用户编辑测试项流程、输入测试控制指令、进行测试项调试；所述第一子平台用于根据从界面工具接收的指令对半导体存储器老化测试装置进行硬件设置；所述第二子平台用于根据加载的测试主程序以及在界面工具中编辑的测试项流程控制半导体存储器老化测试装置的测试核心板对半导体存储器进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，其特征在于，包括界面工具，设置于上位机的、与界面工具之间通过内部通讯协议交互的第一子平台，以及设置于下位机的、与第一子平台之间通过TCP/IP通讯协议交互的第二子平台；所述界面工具作为人机交互接口，提供编辑编译工具以进行测试代码编辑和编译生成测试主程序；供用户编辑测试项流程、输入测试控制指令、进行测试项调试；所述第一子平台用于根据从界面工具接收的指令对半导体存储器老化测试装置进行硬件设置；所述第二子平台用于根据加载的测试主程序以及在界面工具中编辑的测试项流程控制半导体存储器老化测试装置的测试核心板对半导体存储器进行测试。2.如权利要求1所述的测试平台，其特征在于，所述第一子平台包括接口层和业务层；所述接口层用于提供对外的接口和协议；所述业务层封装有与测试业务关联的功能设置模块以对界面工具进行支撑。3.如权利要求2所述的测试平台，其特征在于，所述接口层包括界面工具通讯模块、下位机通讯模块以及用户接口；所述界面工具通讯模块用于与界面工具进行信息交互，发送处理后的信息给界面工具，接收用户从界面工具输入的信息；下位机通讯模块用于与下位机进行信息交互，发送需要下位机处理的信息，接收下位机处理后的信息；用户接口用于接收来测试主程序的数据，向下位机发送这些数据并获取处理后的结果。4.如权利要求2或3所述的测试平台，其特征在于，所述业务层包括预编译模块，用于对测试程式进行统一的代码检查和设定检查，统一管理编译器以及链接器，并整合arm-linux的编译器，以在windows平台编译适用于下位机运行的程序。5.如权利要求1或2所述的测试平台，其特征在于，所述第一子平台包括硬件抽象层；所述硬件抽象层用于模拟下位机返回的数据，使得第一子平台不依赖于下位机和半导体存储器老化测试装置的硬件独立运行，以进行离线测试。6.如权利要求1或2所述的测试平台，其特征在于，所述第一子平台包括基础层；所述基础层封装有适用上位机和下位机的跨平台基础库以进行日志打印、基础通讯和/或文件操作。7.如权利要求6所述的测试平台，其特征在于，所述跨平台基础库包括日志打印库、基础...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘海，
申请(专利权)人：武汉精鸿电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42