主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统、方法、装置、设备及计算机可读存储介质。其中，系统包括电磁信号产生装置、金属箱体及电磁屏蔽效能计算装置。电磁信号产生装置产生预设强度电磁波信号，并将电磁波信号辐照至金属箱体的窗口处；金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构，光学玻璃上设置待测透光屏蔽薄膜；透光屏蔽薄膜的面积不小于光学玻璃的面积以覆盖光学玻璃；电磁屏蔽效能计算装置用于采集经待测透光屏蔽薄膜屏蔽后金属箱体内的电磁波信号强度，并计算其与不经待测透光屏蔽薄膜的金属箱体内电磁波信号强度的比值，作为待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。本申请实现了对透光屏蔽薄膜屏蔽效能的准确测试。

【技术实现步骤摘要】
主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法、装置及系统
本专利技术实施例涉及电磁兼容
，特别是涉及一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统、方法、装置、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
随着电子技术的发展，空间环境中的电磁环境越来越复杂，既包括各种电子设备工作过程中发射的无意电磁辐射，也包括各种人为的、有意的、对抗性的因素引起的电磁干扰，甚至在极端情况下会出现电磁脉冲、高功率微波等毁伤性电磁辐射干扰。复杂的电磁环境会对该环境中的电子设备产生干扰甚至毁伤，为了解决电磁干扰的问题，电磁屏蔽技术应运而生。电磁屏蔽技术通过切断电磁波的传播途径，从而消除电磁干扰，实现有效的电磁防护。但对于光学成像类设备，由于光学窗具有电磁透明性，电磁波能够基本无阻碍的传输至设备内部，造成干扰，鉴于此，透光屏蔽薄膜成为光学成像类设备的有效电磁防护手段。在这种背景下，研究透光屏蔽薄膜电磁屏蔽效能的测量方法能够有效评价其性能，相关技术一般通过将透光屏蔽薄膜安装于玻璃窗口后置于收发天线间进行屏蔽效能测量。但是，直接将透光屏蔽薄膜置于开放环境中的天线之间，由于电磁波的绕射等特性，这种方法只能屏蔽中心点附件的电磁屏蔽效能，测量结果有较大的误差，且测量结果反映的为透光屏蔽薄膜材料本身的屏蔽效能，但是透光屏蔽薄膜材料需要安装于实际的光学成像类设备中，测量结果无法评估应用场景下的屏蔽效能。
技术实现思路
本公开实施例提供了一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统、方法、装置、设备及计算机可读存储介质，实现了对透光屏蔽薄膜屏蔽效能的准确测试。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供以下技术方案：本专利技术实施例一方面提供了一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统，包括电磁信号产生装置、金属箱体及电磁屏蔽效能计算装置；所述电磁信号产生装置用于产生预设强度电磁波信号，并将所述电磁波信号辐照至所述金属箱体的窗口处；所述金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构，所述光学玻璃上设置待测透光屏蔽薄膜；所述待测透光屏蔽薄膜的面积不小于所述光学玻璃的面积，以覆盖所述光学玻璃；所述电磁屏蔽效能计算装置用于采集经所述待测透光屏蔽薄膜屏蔽后所述金属箱体内的电磁波信号强度，并计算其与不经所述待测透光屏蔽薄膜的所述金属箱体内电磁波信号强度的比值，作为所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。可选的，所述电磁信号产生装置包括信号发生器、功率放大器及发射天线；所述信号发生器将产生的信号通过所述功率放大器放大后，馈入所述发射天线的输入端，以使所述发射天线产生电磁波信号辐照至所述窗口处。可选的，所述电磁屏蔽效能计算装置包括电场强度采集器、场强监视器和效能计算器；所述电场强度采集器设置在所述金属箱体内部，用于采集所述电磁波信号透射进入所述金属箱体内部的电场强度；所述场强监视器与所述电场强度采集器相连，用于实时接收所述电场强度采集器发送的电场强度信息；所述效能计算器用于根据接收到的电场强度信息计算所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。可选的，所述效能计算器用于根据下述公式计算所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值：SE＝E0/E1；式中，SE为所述屏蔽效能值，E0为设置有所述待测透光屏蔽薄膜的金属箱体内预设位置处的电场强度，E1为不加所述待测透光屏蔽薄膜的金属箱体内所述预设位置处的电场强度。可选的，所述电场强度采集器为电场测量探头。可选的，所述效能计算器还包括电场强度存储器，用于存储所述场强监视器发送的电场强度信息。本专利技术实施例另一方面提供了一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法，包括：获取电磁波信号辐照至金属箱体内，在预设位置处的第一电场强度值；获取所述电磁波信号经设置有透光屏蔽薄膜的窗口透射至所述金属箱体内后，在所述预设位置处的第二电场强度值；计算所述第一电场强度值和所述第二电场强度值的比值，作为所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值；其中，所述金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构，所述待测透光屏蔽薄膜的面积不小于所述光学玻璃的面积，以覆盖所述光学玻璃。本专利技术实施例还提供了一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试装置，包括：原始电磁波强度值获取模块，用于获取电磁波信号辐照至金属箱体内，在预设位置处的第一电场强度值，所述金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构；电磁屏蔽后的电磁波强度值获取模块，用于获取所述电磁波信号经设置有透光屏蔽薄膜的窗口透射至所述金属箱体内后，在所述预设位置处的第二电场强度值，所述待测透光屏蔽薄膜的面积不小于所述光学玻璃的面积，以覆盖所述光学玻璃；屏蔽效能计算模块，用于计算所述第一电场强度值和所述第二电场强度值的比值，作为所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。本专利技术实施例还提供了一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试设备，包括处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如前任一项所述主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法的步骤。本专利技术实施例最后还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试程序，所述主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试程序被处理器执行时实现如前任一项所述主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法的步骤。本申请提供的技术方案的优点在于，在进行透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试时，将透光屏蔽薄膜设置在金属箱体的光学窗口上并完全覆盖光学窗口，形成封闭环境。将电磁波信号辐照至该金属箱体光学窗口处，电磁波信号经光学窗口上的透光屏蔽薄膜后进入箱体内部，采集箱体内部任意位置处的电磁波强度。由于是在封闭环境中采集经透光屏蔽薄膜屏蔽后的电磁波强度，该强度可准确反映透光屏蔽薄膜的屏蔽效果，不受外部环境干扰，且可避免电磁波绕射特性导致的一些问题，大幅简化数据计算量，有利于提升透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试效率，最后通过对比相同条件下不设置透光屏蔽薄膜的箱体内部的电磁波强度，计算透光屏蔽薄膜的屏蔽性能，提高了透光屏蔽薄膜屏蔽性能测试的准确度和精度。此外，本专利技术实施例还针对主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统还提供了相对应的测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质，进一步使得所述方法更具有实用性，所述方法、装置、设备及计算机可读存储介质具有相应的优点。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本公开。附图说明为了更清楚的说明本专利技术实施例或相关技术的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本公开根据一示例性实施例示出的一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统结构示意图；图2为本公开根据另一示例性实施例示出的一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法的流程示意图；图4为本专利技术实施例提供的主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试装置的一种具体实施方式结构图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统，其特征在于，包括电磁信号产生装置、金属箱体及电磁屏蔽效能计算装置；所述电磁信号产生装置用于产生预设强度电磁波信号，并将所述电磁波信号辐照至所述金属箱体的窗口处；所述金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构，所述光学玻璃上设置待测透光屏蔽薄膜；所述待测透光屏蔽薄膜的面积不小于所述光学玻璃的面积，以覆盖所述光学玻璃；所述电磁屏蔽效能计算装置用于采集经所述待测透光屏蔽薄膜屏蔽后所述金属箱体内的电磁波信号强度，并计算其与不经所述待测透光屏蔽薄膜的所述金属箱体内电磁波信号强度的比值，作为所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。

【技术特征摘要】
1.一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统，其特征在于，包括电磁信号产生装置、金属箱体及电磁屏蔽效能计算装置；所述电磁信号产生装置用于产生预设强度电磁波信号，并将所述电磁波信号辐照至所述金属箱体的窗口处；所述金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构，所述光学玻璃上设置待测透光屏蔽薄膜；所述待测透光屏蔽薄膜的面积不小于所述光学玻璃的面积，以覆盖所述光学玻璃；所述电磁屏蔽效能计算装置用于采集经所述待测透光屏蔽薄膜屏蔽后所述金属箱体内的电磁波信号强度，并计算其与不经所述待测透光屏蔽薄膜的所述金属箱体内电磁波信号强度的比值，作为所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。2.根据权利要求1所述的主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述电磁信号产生装置包括信号发生器、功率放大器及发射天线；所述信号发生器将产生的信号通过所述功率放大器放大后，馈入所述发射天线的输入端，以使所述发射天线产生电磁波信号辐照至所述窗口处。3.根据权利要求1所述的主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述电磁屏蔽效能计算装置包括电场强度采集器、场强监视器和效能计算器；所述电场强度采集器设置在所述金属箱体内部，用于采集所述电磁波信号透射进入所述金属箱体内部的电场强度；所述场强监视器与所述电场强度采集器相连，用于实时接收所述电场强度采集器发送的电场强度信息；所述效能计算器用于根据接收到的电场强度信息计算所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。4.根据权利要求3所述的主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述效能计算器用于根据下述公式计算所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值：SE＝E0/E1；式中，SE为所述屏蔽效能值，E0为设置有所述待测透光屏蔽薄膜的金属箱体内预设位置处的电场强度，E1为不加所述待测透光屏蔽薄膜的金属箱体内所述预设位置处的电场强度。5.根据权利要求4所述的主动式透光屏...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛欣宏，李旭，张鹰，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：吉林,22