一种半导体存储产品高温老化测试方法技术

本发明专利技术提供一种半导体存储产品高温老化测试方法，所述测试方法包括：将高温设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对高温设备、测试机、计时器和预警器做控制；通过编辑产出报告格式，自动回填各测试项目数据，通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。本发明专利技术测试过程不仅达到了测试的要求，而且节省了研发测试时间，整个测试时间易于合理安排，无需人工值守测试，提高了开发人员的工作效率，减少了人力的投入，且减少了人工判断测试结果带来的误差。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体存储产品高温老化测试方法
本专利技术涉及半导体存储类产品稳定性测试方法，具体涉及一种半导体存储产品高温老化测试方法。
技术介绍
为了提高存储产品的可靠性，存储产品的制造和使用企业通常要对存储产品进行老化，老化的效果直接影响存储产品的运行是否正常及其使用寿命。存储产品的高温老化就是通过让存储产品进行高温的工作，测试其读写是否正常，来评价存储产品的老化性能以及使用寿命。如何使用老化技术相关手段，使存储设备的读写故障加速暴露出来，是提高存储设备可靠性的重要手段。到目前电子产品的可靠性温度测试包括高温交变湿热测试，已经成为可靠性测试工作的重中之重，对于所有半导体存储类产品，需要对存储产品在高温的环境下做严谨的读写测试（简称老化测试），模拟在高温或低温的环境下，通过辅助控制软件发指令，向存储类产品做读写和比对测试，确认存储产品在严苛的外部环境是否可以正常运作。目前，存储产品模拟工作状况(读写测试)在高温环境测试时，以现有设备可测试相应的项目，但需要N台高温烤箱并搭配多台测试机才能完成存储类产品在不同的高温环境下做读写测试。每次测试都需要架设测试机在烤箱附近，并多次设置做高温烤箱和测试机进行设置才能完成所有的测试项目。而且，产出的测试数据需要送给专业的工程师才能知道测试结果。这样既拉长了产品研发周期，也增加了人力投入、设备投入和场地投入的成本，且工程师判断的过程会有经验的干扰，降低了测试结果的可靠性以及工作效率。
技术实现思路
为了解决上述的以及其他潜在的技术问题，本专利技术的实施例提供了一种半导体存储产品高温老化测试方法，所述测试方法包括：步骤一：将高温设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对高温设备、测试机、计时器和预警器做控制；步骤二：通过编辑控制指令和局域网通讯，对高温设备进行定时的升温、降温、恒温控制；步骤三：通过编辑控制指令和局域网通讯，对测试机在不同的环境温度下发出指令，使存储产品做读或写的指令，直至此测试项目完成，并回报后，服务器再发出下一个指令，并进行下一个项目的测试；步骤四：通过编辑产出报告格式，自动回填各测试项目数据，通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。于本专利技术的一实施例中，增加断电保护机制，测试数据定时自动保存，若出现异常断电，测试结果会保存到断电前的一个项目结束，设备在再次通电后，服务器会发出指令，从上次断电未完成事项开始测试，并继续完成未测试的项目。于本专利技术的一实施例中，所述高温设备为高温烤箱。于本专利技术的一实施例中，所述测试机的测试项目顺序为：高温1写-高温1读-高温2写-高温2读。于本专利技术的一实施例中，所述高温设备、测试机、计时器、预警器串联设置。于本专利技术的一实施例中，设定高温设备每个温度的运行时间，以实现高温设备的自动化升温和降温。于本专利技术的一实施例中，设定数据采集的记录时间，实现自动实时记录各项测试结果。于本专利技术的一实施例中，所述测试报告为一自动生成的表单及图形文件至少其中之一。于本专利技术的一实施例中，还包括一显示模块，用于显示产出的测试报告。于本专利技术的一实施例中，所述高温的温度范围是35℃~85℃，所述恒温的温度是10~20℃。于本专利技术的一实施例中，所述高温设备包括温度传感器以及湿度传感器。如上所述，本专利技术的半导体存储产品高温老化测试方法具有以下有益效果：本专利技术将高温设备、若干台测试机、高温设备、计时器、预警器组装在一台老化测试机内上，相比于现有的需要多台高温设备配合才能完成存储类产品在不同的高温环境下做读写测试（高温的温度范围是35℃~85℃，恒温的温度是10~20℃。），每次测试都需要架设测试机在烤箱附近，并多次设置做高温烤箱和测试机进行设置才能完成所有的测试项目。不仅减少了设备的投入，也简化了测试程序。本专利技术设置高温的自动转换、数据的自动采集、以及测试结果的自动判断，服务器即可自动生成测试报告，整个测试过程不仅达到了测试的要求，而且节省了研发测试时间，整个测试时间抑郁合理安排，无需人工值守测试，提高了开发人员的工作效率，减少了人力的投入，且减少了人工判断测试结果带来的误差。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1显示为本专利技术的测试系统的架构图。图2显示为本专利技术的测试流程图。具体实施方式以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利技术的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。请参阅图1至图2。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本专利技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本专利技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本专利技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本专利技术可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更
技术实现思路
下，当亦视为本专利技术可实施的范畴。本实施例的目的在于提供了一种半导体存储产品高低温老化测试方法，用于解决现有技术存储产品模拟工作状况(读写测试)在高温环境测试时，需要N台高温烤箱并搭配多台测试机才能完成存储类产品在不同的高温环境下做读写测试（所述高温的温度范围是35℃~85℃，所述恒温的温度是10~20℃。），以及每次测试都需要架设测试机在烤箱附近，并多次设置做高温烤箱和测试机进行设置才能完成所有的测试项目的技术问题，本专利技术所述测试方法包括：步骤一：将高温设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对高温设备、测试机、计时器和预警器做控制；步骤二：通过编辑控制指令和局域网通讯，对高温设备进行定时的升温、降温、恒温控制；步骤三：通过编辑控制指令和局域网通讯，对测试机在不同的环境温度下发出指令，使存储产品做读或写的指令，直至此测试项目完成，并回报后，服务器再发出下一个指令，并进行下一个项目的测试；步骤四：通过编辑产出报告格式，自动回填各测试项目数据，通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。本专利技术将高温设备功能和测试机功能合并在一台老化测试机内。通过服务器用控制软件和局域网通讯，通过编辑控制指令，控制高温设备在不同温度条件下，并控制测试电脑对存储类产品做严谨的读写和比对功能测试，回报测试结果给服务器,并自制成测试结果。当高温设备的温度超过规范温度范围时，可靠性测试不通过。本专利技术的测试方法中，高温设备自动调整温度，高低温调整的间隔是5~10分钟，且测试仪自动检测以及记录数据，实现整个方法的自动化。以下将详细阐述本发本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体存储产品高温老化测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：步骤一：将高温设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对高温设备、测试机、计时器和预警器做控制；步骤二：通过编辑控制指令和局域网通讯，对高温设备进行定时的升温、恒温控制；步骤三：通过编辑控制指令和局域网通讯，对测试机在不同的环境温度下发出指令，使存储产品做读或写的指令，直至此测试项目完成，并回报后，服务器再发出下一个指令，并进行下一个项目的测试；步骤四：通过编辑产出报告格式，自动回填各测试项目数据，通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。

【技术特征摘要】
1.一种半导体存储产品高温老化测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：步骤一：将高温设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对高温设备、测试机、计时器和预警器做控制；步骤二：通过编辑控制指令和局域网通讯，对高温设备进行定时的升温、恒温控制；步骤三：通过编辑控制指令和局域网通讯，对测试机在不同的环境温度下发出指令，使存储产品做读或写的指令，直至此测试项目完成，并回报后，服务器再发出下一个指令，并进行下一个项目的测试；步骤四：通过编辑产出报告格式，自动回填各测试项目数据，通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。2.根据权利要求1所述的半导体存储产品高温老化测试方法，其特征在于：增加断电保护机制，测试数据定时自动保存，若出现异常断电，测试结果会保存到断电前的一个项目结束，设备在再次通电后，服务器会发出指令，从上次断电未完成事项开始测试，并继续完成未测试的项目。3.根据权利要求1所述的半导体存储产品高温老化测试方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟涛成，李庭育，庄健民，王宇，
申请(专利权)人：江苏华存电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32