【技术实现步骤摘要】
一种半导体存储产品高温老化测试方法
本专利技术涉及半导体存储类产品稳定性测试方法，具体涉及一种半导体存储产品高温老化测试方法。
技术介绍
为了提高存储产品的可靠性，存储产品的制造和使用企业通常要对存储产品进行老化，老化的效果直接影响存储产品的运行是否正常及其使用寿命。存储产品的高温老化就是通过让存储产品进行高温的工作，测试其读写是否正常，来评价存储产品的老化性能以及使用寿命。如何使用老化技术相关手段，使存储设备的读写故障加速暴露出来，是提高存储设备可靠性的重要手段。到目前电子产品的可靠性温度测试包括高温交变湿热测试，已经成为可靠性测试工作的重中之重，对于所有半导体存储类产品，需要对存储产品在高温的环境下做严谨的读写测试（简称老化测试），模拟在高温或低温的环境下，通过辅助控制软件发指令，向存储类产品做读写和比对测试，确认存储产品在严苛的外部环境是否可以正常运作。目前，存储产品模拟工作状况(读写测试)在高温环境测试时，以现有设备可测试相应的项目，但需要N台高温烤箱并搭配多台测试机才能完成存储类产品在不同的高温环境下做读写测试。每次测试都需要架设测试机在烤箱附近，并多次...
【技术保护点】
1.一种半导体存储产品高温老化测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：步骤一：将高温设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对高温设备、测试机、计时器和预警器做控制；步骤二：通过编辑控制指令和局域网通讯，对高温设备进行定时的升温、恒温控制；步骤三：通过编辑控制指令和局域网通讯，对测试机在不同的环境温度下发出指令，使存储产品做读或写的指令，直至此测试项目完成，并回报后，服务器再发出下一个指令，并进行下一个项目的测试；步骤四：通过编辑产出报告格式，自动回填各测试项目数据，通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。
【技术特征摘要】
1.一种半导体存储产品高温老化测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：步骤一：将高温设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对高温设备、测试机、计时器和预警器做控制；步骤二：通过编辑控制指令和局域网通讯，对高温设备进行定时的升温、恒温控制；步骤三：通过编辑控制指令和局域网通讯，对测试机在不同的环境温度下发出指令，使存储产品做读或写的指令，直至此测试项目完成，并回报后，服务器再发出下一个指令，并进行下一个项目的测试；步骤四：通过编辑产出报告格式，自动回填各测试项目数据，通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。2.根据权利要求1所述的半导体存储产品高温老化测试方法，其特征在于：增加断电保护机制，测试数据定时自动保存，若出现异常断电，测试结果会保存到断电前的一个项目结束，设备在再次通电后，服务器会发出指令，从上次断电未完成事项开始测试，并继续完成未测试的项目。3.根据权利要求1所述的半导体存储产品高温老化测试方法，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：孟涛成，李庭育，庄健民，王宇，
申请(专利权)人：江苏华存电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32
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