一种IC内存颗粒测试座制造技术

技术编号:20196799 阅读:28 留言:0更新日期:2019-01-23 12:55
本实用新型专利技术公开了一种IC内存颗粒测试座,其结构包括电源电路板、测试座本体、IC内存颗粒、绝缘垫块、连接端口和固定盖,所述电源电路板的顶部设有测试座本体,所述测试座本体的内部设有IC内存颗粒,所述IC内存颗粒的顶部分布有固定盖,所述固定盖的内侧分布有测试接触块,所述固定盖的前端设有固定扣,所述测试座本体的前部设有连接轴,所述电源电路板的后部分布有警报模块,所述电源电路板的前部中间设有连接端口,所述电源电路板的底部拐角处粘接有绝缘垫块,所述电源电路板上设有中央处理器。该IC内存颗粒测试座,高效的放置于桌面等各种地方,使用范围广,绝缘耐用,有效的检测到IC的语音、图像、视频和内存等信息数据,简单实用。

【技术实现步骤摘要】
一种IC内存颗粒测试座
本技术涉及电子电路设备
,具体为一种IC内存颗粒测试座。
技术介绍
晶圆,一般有6英寸、8英寸及12英寸规格不等,晶片就是基于晶圆生产出来的。晶圆上一个小块,一个小块,就是晶片晶圆体,也名Die,经过封装之后就成为一个闪存颗粒。ic测试座(测试插座)是对ic器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。ic测试座主要用于检查在线的单个ic元器件以及各电路网络的开、短路情况,以及模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试。ic测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。现有的IC内存颗粒的测试较为简单,或者根本没有进行先行测试,现有的一些测试电路板较为简单,不能高效的起到绝缘的作用,危险系数大,测试的准确性较低,检测的范围较狭窄,难以满足现有的IC内存颗粒的测试需求。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种IC内存颗粒测试座,解决了
技术介绍
中所提出的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种IC内存颗粒测试座,其结构包括电源电路板、测试座本体、IC内存颗粒、绝缘垫块、连接端口和固定盖,所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种IC内存颗粒测试座,其结构包括电源电路板(1)、测试座本体(2)、IC内存颗粒(3)、绝缘垫块(4)、连接端口(5)和固定盖(6),其特征在于:所述电源电路板(1)的顶部设有测试座本体(2),所述测试座本体(2)的内部设有IC内存颗粒(3),所述IC内存颗粒(3)的顶部分布有固定盖(6),所述固定盖(6)的内侧分布有测试接触块(7),所述固定盖(6)的前端设有固定扣(8),所述测试座本体(2)的前部设有连接轴(9),所述电源电路板(1)的后部分布有警报模块(10),所述电源电路板(1)的前部中间设有连接端口(5),所述电源电路板(1)的底部拐角处粘接有绝缘垫块(4),所述电源电路板(1...

【技术特征摘要】
1.一种IC内存颗粒测试座,其结构包括电源电路板(1)、测试座本体(2)、IC内存颗粒(3)、绝缘垫块(4)、连接端口(5)和固定盖(6),其特征在于:所述电源电路板(1)的顶部设有测试座本体(2),所述测试座本体(2)的内部设有IC内存颗粒(3),所述IC内存颗粒(3)的顶部分布有固定盖(6),所述固定盖(6)的内侧分布有测试接触块(7),所述固定盖(6)的前端设有固定扣(8),所述测试座本体(2)的前部设有连接轴(9),所述电源电路板(1)的后部分布有警报模块(10),所述电源电路板(1)的前部中间设有连接端口(5),所述电源电路板(1)的底部拐角处粘接有绝缘垫块(4),所述电源电路板(1)上设有中央处理器(15);所述中央处理器(15)电性连接有内存容量检测模块(16)、语音采集模块(17)、图像采集模块(18)和视频采集模块(19),所述语音采集模块(17)、图像采集...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨飞
申请(专利权)人:深圳市凯力迪科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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