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本实用新型公开了一种IC内存颗粒测试座，其结构包括电源电路板、测试座本体、IC内存颗粒、绝缘垫块、连接端口和固定盖，所述电源电路板的顶部设有测试座本体，所述测试座本体的内部设有IC内存颗粒，所述IC内存颗粒的顶部分布有固定盖，所述固定盖的内...
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